[發明專利]一種雙離子源雙通道質譜儀

在審

• 申請號: 201810821364.4
• 申請日: 2018-07-24
• 公開（公告）號: CN110706998A
• 公開（公告）日: 2020-01-17
• 發明（設計）人: 丁利;清江;蔣偉;王季誠
• 申請（專利權）人: 寧波海歌電器有限公司
• 主分類號: H01J49/40
• 分類號: H01J49/40;H01J49/10
• 代理公司: 12214 天津創智天誠知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 陳昌娟;田陽

1.一種雙離子源雙通道質譜儀，其特征在于：包括雙邊離子源，雙通道傳輸系統，雙通道飛行時間質量分析器，以及真空隔離腔體；所述雙邊離子源包括相互獨立設置的大氣壓離子源和非大氣壓離子源；所述雙通道傳輸系統包括與大氣壓離子源相對接的大氣壓離子源傳輸系統和與非大氣壓離子源相對接的非大氣壓離子源傳輸系統，兩個傳輸系統為并排設置，相互隔離；所述雙通道飛行時間質量分析器包括雙通道加速器、無場飛行區、雙通道反射器以及2個檢測器；所述離子通道為并排設置，所述真空隔離腔體將雙邊離子源、兩個通道的傳輸系統，以及雙通道飛行時間質量分析器的真空系統進行隔離，所述真空隔離腔體上連接有真空泵。

2.根據權利要求1所述的一種雙離子源雙通道質譜儀，其特征在于：所述大氣壓離子源包括但不限于電噴霧電離源、大氣壓化學離子源和大氣壓光電離源。

3.根據權利要求1所述的一種雙離子源雙通道質譜儀，其特征在于：所述非大氣壓離子源包括但不限于電子轟擊電離源、化學電離源。

4.根據權利要求1所述的一種雙離子源雙通道質譜儀，其特征在于：所述大氣壓離子源傳輸系統包括依次連接的第一進樣毛細管、分子離子反應器、第一射頻四極桿、第一靜電四極桿和第一靜電透鏡；所述分子離子反應器、第一射頻四極桿、第一靜電四極桿和第一靜電透鏡位于同一直線上。

5.根據權利要求1所述的一種雙離子源雙通道質譜儀，其特征在于：所述非大氣壓離子源傳輸系統包括依次連接的第二進樣毛細管、第二射頻四極桿、第二靜電四極桿和第二靜電透鏡，所述第二射頻四極桿、第二靜電四極桿和第二靜電透鏡。

6.根據權利要求1所述的一種雙離子源雙通道質譜儀，其特征在于：所述雙通道飛行時間質量分析器的兩組離子通道的中心軸均在同一平面上。

7.根據權利要求1所述的一種雙離子源雙通道質譜儀，其特征在于：所述兩組離子通道并行分布的雙通道加速器的電極片均采用雙孔并行結構或采用兩片獨立并行分布的單孔極片。

8.根據權利要求1所述的一種雙離子源雙通道質譜儀，其特征在于：所述兩組離子通道并行分布的雙通道反射器的電極片均采用雙孔并行結構或采用兩片獨立并行分布的單孔極片。

9.根據權利要求1所述的一種雙離子源雙通道質譜儀，其特征在于：所述無場飛行區為兩個飛行通道中部設置有隔板將兩個飛行通道隔開。

10.根據權利要求1所述的一種雙離子源雙通道質譜儀，其特征在于：所述檢測器的極片位均為單孔結構，且獨立并排分布。