[發明專利]一種MCD的測試裝置及其測試方法

在審

• 申請號: 201810821227.0
• 申請日: 2018-07-24
• 公開（公告）號: CN110749422A
• 公開（公告）日: 2020-02-04
• 發明（設計）人: 劉振輝;王業文;栗巍;楊波
• 申請（專利權）人: 深圳市矽電半導體設備有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 11508 北京維正專利代理有限公司
• 代理人: 任志龍

本發明涉及LED測試技術領域，尤其涉及一種MCD的測試裝置及其測試方法。其技術方案要點：包括開設有進光孔的底座和安裝于所述底座上的分光鏡座A和分光鏡座B；分光鏡座B開設有與進光孔連通的連通孔和設置于連通孔遠離進光孔一端的波長測試孔，波長測試孔的中軸線與連通孔中軸線垂直；波長測試孔遠離連通孔的端部連接有用于測試LED波長的波長測試組件；分光鏡座A開設有與連通孔連通且中軸線與連通孔中軸線平行的光強測試孔；光強測試孔遠離連通孔的端部連接有用于測試LED光強的MCD測試組件；連通孔和光強測試孔交接處安裝有與連通孔中心軸線成45°的半透半反鏡，能夠同時進行LED波長測試和光強測試，節省時間和人力成本。

技術領域

本發明涉及LED測試技術領域，尤其涉及一種MCD的測試裝置及其測試方法。

背景技術

在LED的光參數測試中，其中波長和亮度是需要測試的兩個關鍵參數，亮度方面有兩種需要測試，MW（光功率）、MCD?！癕CD”：光通量的空間密度，即單位立體角的光通量，叫發光強度，是衡量光源發光強弱的量。

目前，需要掌握LED的光參數，現有的測試方式大部分都是獨立進行LED亮度的測試和獨立進行LED波長的測試，使LED的光參數測試過程過于繁雜，浪費時間與人力資源。

發明內容

針對現有技術存在的不足，本發明的目的一在于提供一種MCD的測試裝置，能夠同時進行LED波長測試和光強測試，有利于節省時間成本和人力資源成本。

本發明的上述技術目的一是通過以下技術方案得以實現的：一種MCD的測試裝置，其特征在于，包括開設有進光孔的底座和安裝于所述底座上的分光鏡座A和分光鏡座B；分光鏡座B開設有與進光孔連通的連通孔和設置于連通孔遠離進光孔一端的波長測試孔，波長測試孔的中軸線與連通孔中軸線垂直；波長測試孔遠離連通孔的端部連接有用于測試LED波長的波長測試組件；分光鏡座A開設有與連通孔連通且中軸線與連通孔中軸線平行的光強測試孔；光強測試孔遠離連通孔的端部連接有用于測試LED光強的MCD測試組件；連通孔和光強測試孔交接處安裝有與連通孔中心軸線成45°的半透半反鏡。

通過采用上述技術方案，光源通過進光孔進入連通孔并照射到半透半反鏡，光源到達半透半反鏡后一半光源透射后進入光強測試孔，通過MCD測試組件測試光強；另一半光源經反射后進入波長測試孔，通過波長測試組件測試波長。實現了在測試LED的光強密度的同時能夠測試LED的波長，節省了分別測試的步驟，使LED的光參數測試簡便，提高了檢測效率，而且有利于節約時間與人力資源成本，而且裝置結構相對簡單，成本低，便于推廣。

本發明進一步設置為：所述分光鏡座A和分光鏡座B均包括相互抵接的抵接面和安裝面，所述安裝面內凹用于安裝半透半反鏡的安裝面，所述安裝面與連通孔中心軸線成45°，抵接面和安裝面為銳角。

通過采用上述技術方案，安裝面的傾斜角度及內凹設置有利于防止光線外漏，測試結果更準確，也更便于安裝半透半反鏡，操作簡單，而且安裝的穩固性也更好；抵接面和安裝面為銳角，便于限制分光鏡座A和分光鏡座B沿安裝面滑移，安裝更加穩固。

本發明進一步設置為：所述抵接面和安裝面為45°。

通過采用上述技術方案，實現了抵接面與底座與分光鏡座A接觸的平面垂直，更便于安裝。

本發明進一步設置為：所述半透半反鏡外圍設有第二環型橡膠密封圈。

通過采用上述技術方案，密封性更好，光線不容易射出，測試結果更為準確，半透半反境安裝的也更加穩固。

本發明進一步設置為：所述波長測試組件與所述分光鏡座B之間設有衰減組件；所述衰減組件包括安裝于所述波長測試組件與所述分光鏡座B之間的遮光板、安裝于所述分光鏡座B接近所述透光槽的側面上的光電開關；