[發明專利]鉆孔注漿帷幕質量檢測方法

有效

• 申請號: 201810820293.6
• 申請日: 2018-07-24
• 公開（公告）號: CN108802828B
• 公開（公告）日: 2020-01-24
• 發明（設計）人: 朱德兵;張磊;劉海飛;李小羅;賈朋濤;鐘兆泓;陶望雄;張愛恒;湯自權;賴虔林;高堤
• 申請（專利權）人: 中南大學
• 主分類號: G01V3/00
• 分類號: G01V3/00
• 代理公司: 43217 長沙楚為知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 李大為

1.一種鉆孔注漿帷幕質量檢測方法，其特征在于，包括：

S1，在帷幕的沿其走向的兩端鉆設多對供電鉆孔，在供電鉆孔內布設對應的多對正負供電電極，所述供電電極設于帷幕之外的外圍位置，且帷幕位于正負供電電極的中間位置，正負的所述供電電極之間的距離為帷幕長度的至少3倍，所述供電電極為點電源或線電源，點電源沿豎向等間距排列，或者沿垂直于帷幕走向方向等間距排列，所述供電電極與電法勘探儀器的供電端子連接，

S2，在帷幕上、正負供電電極之間的連接線上設置多個測量鉆孔，所述測量鉆孔采用注漿鉆孔，各測量鉆孔等間距設置，在相鄰的兩測量鉆孔內設置一對測量電極，所述測量電極與電法勘探儀器的測量端子連接，

S3，啟動所述電法勘探儀器，通過供電電極向地下供電，測得兩測量電極之間的電位差值或視電阻率值或極化率值，記錄點位于兩測量電極之間的幾何中點，

S4，使測量電極沿測量鉆孔深度方向等間距移動，測得測量電極在不同深度位置時的記錄點上的電位差值或視電阻率值或極化率值，

S5，將測量電極更換至不同的測量鉆孔內，重復步驟S4，

S6，根據步驟S4和步驟S5，繪制帷幕電位差等值線圖或帷幕視電阻率等值線圖或帷幕極化率等值線圖，圖中的異常區域即為注漿帷幕的缺陷區域。

2.如權利要求1所述的鉆孔注漿帷幕質量檢測方法，其特征在于，所述供電端子所供電為交流電，或直流電。

3.如權利要求1所述的鉆孔注漿帷幕質量檢測方法，其特征在于，所述步驟S3-S5中，所述視電阻率的計算方法為：

兩測量電極之間的測量電位差記為ΔU’，記錄點位于兩測量電極之幾何中點，I為測量時供電回路電流，k為裝置系數，表達式為：

其中，Ha和Hb分別為正負供電電極的深度，L為正負供電電極之間的電極距，R1為兩測量電極之一到正供電電極之間的距離，R2為兩測量電極之另一到正供電電極之間的距離，h1、h2為所述兩測量電極的深度，

該點的視電阻率為：ρ_s＝k·ΔU’/I。

4.如權利要求3所述的鉆孔注漿帷幕質量檢測方法，其特征在于，所述檢測方法還包括：

S7，假設帷幕上有N個測量鉆孔，每個測量鉆孔設置了M個深度點進行觀測，共獲得(N-1)*M個記錄點數據；其中距離地表同一深度的記錄點共有M組，每組N-1個數據；取M組數據中的一組數據計算平均值G，該組中每個測點數據X與平均值G相比較，計算相對變化值，即[(X-G)/G]作為該測點的新參數；依此方式將每組深度點的電位差值、極化率或視電阻率數據都換算成新參數；利用帷幕上的新參數繪制電位差或極化率或視電阻率轉換后的等值線圖，即分別對應為電位差相對變化量成圖、極化率相對變化量成圖或視電阻率相對變化量成圖。