[發明專利]鋰電池極片打皺檢測方法及極耳焊接檢測系統

在審

• 申請號: 201810811911.0
• 申請日: 2018-07-23
• 公開（公告）號: CN109142368A
• 公開（公告）日: 2019-01-04
• 發明（設計）人: 趙大兵;張俊峰;葉長春;李功果
• 申請（專利權）人: 廣州超音速自動化科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 廣州市越秀區哲力專利商標事務所(普通合伙) 44288
• 代理人: 秦維;汪衛軍

1.鋰電池極片打皺檢測方法，采用極耳焊接檢測裝置對極耳進行實時檢測并建立極耳焊接數據庫及分類模型，其特征在于，方法包括：

基礎數據獲取，通過極耳焊接檢測裝置對帶有不同的典型焊接缺陷和無缺陷的極耳進行初期的實時檢測，獲得所述極耳焊接圖像的基礎數據；

基礎數據標注，對獲得的極耳焊接圖像的基礎數據進行缺陷標注處理，獲得極耳焊接圖像的標注數據；

生成分類模型，采用分類器訓練極耳焊接圖像的基礎數據，并將極耳焊接圖像的標注數據作為輸入參數進行學習分析，將標注的缺陷類別存入極耳焊接數據庫，持續訓練直至所述極耳焊接數據庫達到實時檢測的水平，形成分類模型；

輸出檢測結果，將待檢測的極耳進行實時檢測，并將檢測的數據輸入到分類模型中進行比對分析，判定是否存在極片打皺并輸出檢測結果。

2.根據權利要求1所述的鋰電池極片打皺檢測方法，其特征在于：所述實時檢測包括如下步驟：

S1：通過視覺檢測相機及同軸光源對到位的待檢測極片進行拍照，獲取焊接圖片；

S2：圖像處理，對獲取的焊接圖片進行圖像處理，通過blob分析得到極耳的焊印區域，反相定位極片留白區域；

S3：提取焊印和留白，對焊接區域和留白區域進行二階微分處理及blob分析得到焊印和留白；

S4：對焊印進行blob分析得到具體焊點，并對留白區域進行blob分析得到留白折皺；

S5：提取焊點區域內的圖像信息，計算焊印區域、留白區域、焊印及具體焊點的參數數據，并對所述參數數據進行歸一化，保存歸一化的參數數據得到基礎數據。

3.根據權利要求2所述的鋰電池極片打皺檢測方法，其特征在于：所述參數數據包括最小灰度、最大灰度，平均灰度、焊點數、焊點最大面積、焊點最小面積、平均面積、面積中值、方差及焊點圓度。

4.根據權利要求1所述的鋰電池極片打皺檢測方法，其特征在于：所述分類器為SVM分類器。

5.根據權利要求1所述的鋰電池極片打皺檢測方法，其特征在于：所述帶有不同的典型焊接缺陷的極耳的數量不少于100。

6.根據權利要求1所述的鋰電池極片打皺檢測方法，其特征在于：所述缺陷標注處理包括極耳焊破、極耳虛焊、極耳糅合、極耳焊反、極片打皺和涂層異常的標注。

7.實施權利要求1-6任一項所述方法的極耳焊接檢測系統，其特征在于：系統包括極耳焊接檢測裝置、數據處理模塊、存儲模塊、檢測顯示模塊和輸入輸出模塊。

8.根據權利要求7所述的系統，其特征在于：所述數據處理模塊包括數據傳輸單元、數據標注單元、分類模型單元和判定單元。

9.根據權利要求8所述的系統，其特征在于：所述判定單元用于判定極耳的焊接缺陷類別是否存在極片打皺缺陷。

10.根據權利要求7所述的系統，其特征在于：所述檢測顯示模塊為對檢測結果實時分類顯示的系統顯示器，所述輸入輸出模塊為鼠標、鍵盤和IO板卡。