[發明專利]一種快速檢測閃存瑕疵的方法

在審

• 申請號: 201810806210.8
• 申請日: 2018-07-20
• 公開（公告）號: CN109036494A
• 公開（公告）日: 2018-12-18
• 發明（設計）人: 蔡定國;李庭育;黃中柱;許豪江
• 申請（專利權）人: 江蘇華存電子科技有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種快速檢測閃存瑕疵的方法,包括以下步驟：A、將全字節為0x55的測試資料寫入閃存的資料暫存器；B、從資料暫存器讀取測試資料到緩沖區1；C、將全字節為0xAA的測試資料寫入閃存的資料暫存器；D、從資料暫存器讀取測試資料到緩沖區2；E、取出緩沖區1與0x55進行比特比對，是否有某位比特錯誤；F、有錯誤表示該位置的輸入輸出有問題；G、取出緩沖區2與0xAA進行比特比對，是否有某位比特錯誤；H、有錯誤表示該位置的輸入輸出有問題；I、設定一組時間閾值，本發明采用從資料暫存器讀取測試資料與采用一組時間閾值，在區域數內進行讀取測試的方法相結合，使檢測的速度快，檢測準確，提高對閃存的檢測方法與檢測閃存品質的速度。

技術領域

本發明涉及快速檢測閃存瑕疵的技術領域，具體為一種快速檢測閃存瑕疵的方法。

背景技術

閃存為非消失性的存儲器裝置，由塊組成，每個塊又分成多個頁，每個頁會有多個列組合而成，藉由下命令進行一些特性的控制以及讀寫資料。生產閃存的良率并非百分之百，常伴隨著就緒忙碌引腳信號不良或讀寫上輸入輸出不正確的瑕疵。雖然讀取閃存的標識號碼是正確的，但之后進行生產失敗后，追查原因后發現是閃存本身的瑕疵造成的，白白浪費時間。

發明內容

本發明的目的在于提供一種采用從資料暫存器讀取測試資料與采用一組時間閾值，在區域數內進行讀取測試的方法相結合，使檢測的速度快，檢測準確，提高對閃存的檢測方法與檢測閃存品質的速度的一種快速檢測閃存瑕疵的方法，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：一種快速檢測閃存瑕疵的方法,包括暫存器內部的資料寫入與寄存器的緩沖區域內的數據讀取，所述暫存器上設塊組，每個塊又分成多個頁，每個頁會有多個列組合而成，所述暫存器上還設有緩沖區域。

優選的，所閃存芯片上包括資料資料暫存器。

優選的，一種快速檢測閃存瑕疵的方法,其特征在于：包括以下步驟：

A、將全字節為0x55的測試資料寫入閃存的資料暫存器；

B、從資料暫存器讀取測試資料到緩沖區1；

C、將全字節為0xAA的測試資料寫入閃存的資料暫存器；

D、從資料暫存器讀取測試資料到緩沖區2；

E、取出緩沖區1與0x55進行比特比對，是否有某位比特錯誤；

F、有錯誤表示該位置的輸入輸出有問題；

G、取出緩沖區2與0xAA進行比特比對，是否有某位比特錯誤；

H、有錯誤表示該位置的輸入輸出有問題；

I、設定一組時間閾值。

優選的，一種快速檢測閃存瑕疵的方法,其特征在于：包括以下步驟：

A、以塊0為起始點，逐次往下一個塊；

B、向頁0發出讀取命令；

C、取得讀取反應時間，如果超過時間閾值，表示就緒忙碌引腳信號不良；

D、測試塊是否小于區域數，測試塊小于區域數的時候，選擇大于0的數據，返回步驟A重新開始讀取，當測試塊大于區域數；

E、直接輸出測試結果。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：

本發明采用從資料暫存器讀取測試資料與采用一組時間閾值，在區域數內進行讀取測試的方法相結合，使檢測的速度快，檢測準確，提高對閃存的檢測方法與檢測閃存品質的速度。

附圖說明

圖1為本發明檢測閃存瑕疵方法的流程圖。