[發(fā)明專利]一種圓極化衛(wèi)星導(dǎo)航天線及調(diào)試方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810797562.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-07-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108987923B | 公開(公告)日: | 2021-04-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳偉東;王冠君;殷年吉;吉青 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海海積信息科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01Q1/48 | 分類號(hào): | H01Q1/48;H01Q1/50;H01Q1/38;H01Q15/24 |
| 代理公司: | 北京同達(dá)信恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291 | 代理人: | 黃志華 |
| 地址: | 201702 上海*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 極化 衛(wèi)星 導(dǎo)航 天線 調(diào)試 方法 | ||
1.一種圓極化衛(wèi)星導(dǎo)航天線,其特征在于,包括天線本體和設(shè)置于所述天線本體上的至少一組短路結(jié)構(gòu),所述短路結(jié)構(gòu)用于調(diào)整所述天線本體的零電位點(diǎn)的位置;所述天線本體包括:介質(zhì)基板、設(shè)置于所述介質(zhì)基板的上表面的第一金屬貼片、以及設(shè)置于所述介質(zhì)基板的下表面的第二金屬貼片,所述第二金屬貼片用于接地;每個(gè)短路結(jié)構(gòu)依次垂直穿過所述第一金屬貼片、所述介質(zhì)基板和所述第二金屬貼片;
每組短路結(jié)構(gòu)包括N個(gè)短路結(jié)構(gòu),所述N個(gè)短路結(jié)構(gòu)中任意兩個(gè)相鄰的短路結(jié)構(gòu)之間的距離大于或等于預(yù)設(shè)閾值;所述N個(gè)短路結(jié)構(gòu)中任一短路結(jié)構(gòu)與所述天線本體的中心點(diǎn)之間的距離相同,且小于所述天線本體的饋電點(diǎn)與所述天線本體的中心點(diǎn)之間的距離;所述預(yù)設(shè)閾值是根據(jù)N確定的,N為大于或等于4的整數(shù);所述N個(gè)短路結(jié)構(gòu)中任一短路結(jié)構(gòu)與所述天線本體的中心點(diǎn)之間的距離通過以下方式計(jì)算:
其中,所述天線包括M組短路結(jié)構(gòu),M為大于或等于1的整數(shù);D為所述N個(gè)短路結(jié)構(gòu)中任一短路結(jié)構(gòu)與所述天線本體的中心點(diǎn)之間的距離;L為所述饋電點(diǎn)與所述天線本體的中心點(diǎn)之間的距離;
所述至少一組短路結(jié)構(gòu)中任意兩組短路結(jié)構(gòu)與所述天線本體的中心點(diǎn)之間的距離不同。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的衛(wèi)星導(dǎo)航天線,其特征在于,所述N個(gè)短路結(jié)構(gòu)中任意兩個(gè)相鄰的短路結(jié)構(gòu)之間的距離相同。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的衛(wèi)星導(dǎo)航天線,其特征在于,所述天線本體設(shè)置有兩個(gè)或兩個(gè)以上的饋電點(diǎn)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的衛(wèi)星導(dǎo)航天線,其特征在于,N為4的倍數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的衛(wèi)星導(dǎo)航天線,其特征在于,所述介質(zhì)基板的材質(zhì)為陶瓷。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的衛(wèi)星導(dǎo)航天線,其特征在于,所述短路結(jié)構(gòu)為金屬化過孔或短路銷釘。
7.一種圓極化衛(wèi)星導(dǎo)航天線的調(diào)試方法,其特征在于,所述方法適用于上述權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的衛(wèi)星導(dǎo)航天線,所述衛(wèi)星導(dǎo)航天線包括至少一組短路結(jié)構(gòu),所述方法包括:
控制所述至少一組短路結(jié)構(gòu)均處于斷開狀態(tài),對(duì)所述衛(wèi)星導(dǎo)航天線進(jìn)行阻抗測(cè)試,得到第一史密斯圓圖;
根據(jù)所述第一史密斯圓圖,確定所述第一史密斯圓圖中兩模態(tài)所相交的尖點(diǎn)與所述第一史密斯圓圖的圓心之間的初始距離;
控制測(cè)試組短路結(jié)構(gòu)處于連通狀態(tài),對(duì)所述衛(wèi)星導(dǎo)航天線進(jìn)行阻抗測(cè)試,得到第二史密斯圓圖,并根據(jù)所述第二史密斯圓圖,確定所述第二史密斯圓圖中兩模態(tài)所相交的尖點(diǎn)與所述第二史密斯圓圖的圓心之間的調(diào)試距離;所述測(cè)試組短路結(jié)構(gòu)為所述至少一組短路結(jié)構(gòu)中的第一組短路結(jié)構(gòu);
根據(jù)所述初始距離、所述調(diào)試距離以及預(yù)設(shè)的阻抗測(cè)試要求,確定所述至少一組短路結(jié)構(gòu)各自的通斷狀態(tài)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,根據(jù)所述初始距離、所述調(diào)試距離以及預(yù)設(shè)的阻抗測(cè)試要求,確定所述至少一組短路結(jié)構(gòu)各自的通斷狀態(tài),包括:
確定所述調(diào)試距離是否符合所述預(yù)設(shè)的阻抗測(cè)試要求的目標(biāo)距離;
若不符合,則根據(jù)所述初始距離、所述調(diào)試距離及所述目標(biāo)距離,從所述至少一組短路結(jié)構(gòu)中重新確定第二組短路結(jié)構(gòu)作為所述測(cè)試組短路結(jié)構(gòu),并返回控制測(cè)試組短路結(jié)構(gòu)處于連通狀態(tài)的步驟;直至所述測(cè)試組短路結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的調(diào)試距離符合所述目標(biāo)距離;其中,若所述第二組短路結(jié)構(gòu)與所述天線本體的中心點(diǎn)的距離小于所述第一組短路結(jié)構(gòu)與所述天線本體的中心點(diǎn)的距離,則重新設(shè)置所述第一組短路結(jié)構(gòu)為斷開狀態(tài)。
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