[發(fā)明專(zhuān)利]一種閃存中塊類(lèi)型的識(shí)別方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810794563.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-07-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109086004A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-12-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊羽涵;李庭育;黃中柱;王宇 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 江蘇華存電子科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G06F3/06 | 分類(lèi)號(hào): | G06F3/06 |
| 代理公司: | 蘇州廣正知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32234 | 代理人: | 張漢欽 |
| 地址: | 226300 江蘇省*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 備用區(qū) 閃存 寫(xiě)入 塊類(lèi)型 亂序 讀取 錯(cuò)誤率 讀出 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種閃存中塊類(lèi)型的識(shí)別方法,包括:在被操作塊的第一頁(yè)備用區(qū)的一個(gè)字節(jié)中寫(xiě)入類(lèi)型標(biāo)識(shí);整個(gè)塊內(nèi)除第一頁(yè)備用區(qū)的寫(xiě)入類(lèi)型標(biāo)識(shí)的字節(jié)以外的數(shù)據(jù)被亂序存入閃存;讀取時(shí),整個(gè)塊內(nèi)除第一頁(yè)備用區(qū)的寫(xiě)入類(lèi)型標(biāo)識(shí)的字節(jié)以外的數(shù)據(jù)被解亂序讀出;查看第一頁(yè)備用區(qū)寫(xiě)入類(lèi)型標(biāo)識(shí)的字節(jié)的類(lèi)型標(biāo)識(shí),判斷塊的類(lèi)型。能有效降低閃存內(nèi)塊的類(lèi)型判斷錯(cuò)誤率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及閃存技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及閃存中塊的類(lèi)型識(shí)別方法。
背景技術(shù)
閃存為非消失性的存儲(chǔ)器裝置,有存儲(chǔ)三個(gè)比特的三級(jí)單元(TLC),兩個(gè)比特的多級(jí)單元(MLC)閃存以及一個(gè)單級(jí)單元(SLC)閃存。不管何種閃存,都需要透過(guò)存儲(chǔ)器控制芯片控制閃存芯片,存儲(chǔ)器控制芯片發(fā)出閃存指令(例如讀取指令、寫(xiě)入/編程指令和擦除指令)后,閃存芯片做出對(duì)應(yīng)的行為讀取或?qū)懭霐?shù)據(jù)。寫(xiě)入數(shù)據(jù)時(shí),為使數(shù)據(jù)中的0和1平均分布在存儲(chǔ)空間內(nèi),降低出錯(cuò)率,數(shù)據(jù)將做亂序操作后再被存入閃存,因此讀取數(shù)據(jù)時(shí),需要先解亂序,再輸出數(shù)據(jù)。
擦除指令以塊為單位擦除存儲(chǔ)的內(nèi)容,同一個(gè)塊保存的內(nèi)容類(lèi)型(代碼、數(shù)據(jù)或操作所需的轉(zhuǎn)換表)相同。塊是由頁(yè)組成的,每一頁(yè)都有一個(gè)備用區(qū)域,來(lái)存放數(shù)據(jù)以外的信息。為了辨識(shí)塊的類(lèi)型,用每塊第一頁(yè)備用區(qū)的第一個(gè)字節(jié)記錄此塊的類(lèi)型(例如存放代碼的塊在此位置存入0x01,存放數(shù)據(jù)的塊在此位置存入0x02,存放轉(zhuǎn)換表的塊在此位置存入0x03)。由于經(jīng)過(guò)寫(xiě)入時(shí)的亂序和讀取時(shí)的解亂序,這一字節(jié)的數(shù)一旦在過(guò)程中出錯(cuò),此塊的類(lèi)型就將被錯(cuò)誤判斷,從而影響閃存的正確率。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種閃存中塊類(lèi)型的識(shí)別方法,有效降低閃存內(nèi)塊的類(lèi)型判斷錯(cuò)誤率。
實(shí)現(xiàn)上述目的的技術(shù)方案是:
一種閃存中塊類(lèi)型的識(shí)別方法,包括:
在被操作塊的第一頁(yè)備用區(qū)的一個(gè)字節(jié)中寫(xiě)入類(lèi)型標(biāo)識(shí);
整個(gè)塊內(nèi)除第一頁(yè)備用區(qū)的寫(xiě)入類(lèi)型標(biāo)識(shí)的字節(jié)以外的數(shù)據(jù)被亂序存入閃存;
讀取時(shí),整個(gè)塊內(nèi)除第一頁(yè)備用區(qū)的寫(xiě)入類(lèi)型標(biāo)識(shí)的字節(jié)以外的數(shù)據(jù)被解亂序讀出;
查看第一頁(yè)備用區(qū)寫(xiě)入類(lèi)型標(biāo)識(shí)的字節(jié)的類(lèi)型標(biāo)識(shí),判斷塊的類(lèi)型。
優(yōu)選的,在被操作塊的第一頁(yè)備用區(qū)的第一個(gè)字節(jié)中寫(xiě)入類(lèi)型標(biāo)識(shí)。
本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明通過(guò)將類(lèi)型標(biāo)識(shí)保護(hù)在亂序和解亂序過(guò)程之外,避免亂序和解亂序過(guò)程中發(fā)生錯(cuò)誤導(dǎo)致類(lèi)型標(biāo)識(shí)發(fā)生改變而引起的判斷錯(cuò)誤,減小數(shù)據(jù)出錯(cuò)的風(fēng)險(xiǎn),進(jìn)而提升數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的準(zhǔn)確性。
附圖說(shuō)明
圖1是本發(fā)明的閃存中塊類(lèi)型的識(shí)別方法的流程圖。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明。
請(qǐng)參閱圖1,本發(fā)明的閃存中塊類(lèi)型的識(shí)別方法,包括下列步驟:
步驟S1,在被操作塊的第一頁(yè)備用區(qū)的一個(gè)字節(jié)中寫(xiě)入類(lèi)型標(biāo)識(shí)。0x01為代碼的類(lèi)型標(biāo)識(shí),0x02為數(shù)據(jù)的類(lèi)型標(biāo)識(shí),0x03為轉(zhuǎn)換表的類(lèi)型標(biāo)識(shí)。
步驟S2,整個(gè)塊內(nèi)除第一頁(yè)備用區(qū)的寫(xiě)入類(lèi)型標(biāo)識(shí)的字節(jié)(本實(shí)施例中,為第一字節(jié))以外的數(shù)據(jù)被亂序存入閃存。
步驟S3,讀取時(shí),整個(gè)塊內(nèi)除第一頁(yè)備用區(qū)的第一字節(jié)以外的數(shù)據(jù)被解亂序讀出。
步驟S4,查看第一頁(yè)備用區(qū)的第一字節(jié)的類(lèi)型標(biāo)識(shí),判斷塊的類(lèi)型。具體地,查看類(lèi)型標(biāo)識(shí)是否為0x01、0x02或0x03。
以上實(shí)施例僅供說(shuō)明本發(fā)明之用,而非對(duì)本發(fā)明的限制,有關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下,還可以作出各種變換或變型,因此所有等同的技術(shù)方案也應(yīng)該屬于本發(fā)明的范疇,應(yīng)由各權(quán)利要求所限定。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于江蘇華存電子科技有限公司,未經(jīng)江蘇華存電子科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F3-00 用于將所要處理的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)變成為計(jì)算機(jī)能夠處理的形式的輸入裝置;用于將數(shù)據(jù)從處理機(jī)傳送到輸出設(shè)備的輸出裝置,例如,接口裝置
G06F3-01 .用于用戶(hù)和計(jì)算機(jī)之間交互的輸入裝置或輸入和輸出組合裝置
G06F3-05 .在規(guī)定的時(shí)間間隔上,利用模擬量取樣的數(shù)字輸入
G06F3-06 .來(lái)自記錄載體的數(shù)字輸入,或者到記錄載體上去的數(shù)字輸出
G06F3-09 .到打字機(jī)上去的數(shù)字輸出
G06F3-12 .到打印裝置上去的數(shù)字輸出
- 具有缺陷管理區(qū)的光盤(pán)及其缺陷管理方法
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- 光學(xué)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)和光學(xué)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)的缺陷管理方法
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