[發明專利]LED陣列及其制備方法在審
| 申請號: | 201810787271.4 | 申請日: | 2018-07-18 |
| 公開(公告)號: | CN109037201A | 公開(公告)日: | 2018-12-18 |
| 發明(設計)人: | 朱浩;范振燦;劉國旭 | 申請(專利權)人: | 易美芯光(北京)科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L25/16 | 分類號: | H01L25/16;H01L33/48 |
| 代理公司: | 南昌新天下專利商標代理有限公司 36115 | 代理人: | 施秀瑾 |
| 地址: | 100176 北京市大興區亦莊經濟*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 襯底表面 一一對應設置 金屬反射層 支撐 制備 控制通斷 影響陣列 預設位置 外延層 一對一 襯底 | ||
1.一種LED陣列,其特征在于,所述LED陣列中包括:
支撐襯底;
設置于所述支撐襯底表面預設位置的多個LED結構,所述LED結構中依次包括金屬反射層、P電極、外延層及N電極;
于所述支撐襯底表面與LED結構一一對應設置的MOS管,所述LED結構通過金屬反射層和/或P電極與MOS管串聯連接,每個所述LED結構通過與之連接的MOS管控制通斷。
2.如權利要求1所述的LED陣列,其特征在于,當所述MOS管為N溝道MOS管時,LED結構通過金屬反射層和/或P電極與MOS管的源極連接,且所述MOS管的柵極與外界控制端連接、漏極接電源正極。
3.如權利要求1所述的LED陣列,其特征在于,當所述MOS管為P溝道MOS管時,LED結構通過金屬反射層和/或P電極與MOS管的漏極連接,且所述MOS管的柵極與外界控制端連接、源極接電源正極。
4.一種LED陣列制備方法,其特征在于,所述制備方法中包括:
S10 在生長襯底上生長外延層,并在所述外延層表面蒸發或濺射P電極和金屬反射層,得到外延結構;
S20 將預留位置處的外延結構去除;
S30 將生長襯底表面余下的外延結構轉移至支撐襯底,并去除生長襯底;
S40 在支撐襯底上預留位置處制備MOS管;
S50 在外延結構中露出的外延層表面蒸發或濺射N電極,得到LED結構;
S60 沉積連接金屬,將LED結構與MOS管串聯連接,得到LED陣列。
5.如權利要求4所述的制備方法,其特征在于,在步驟S20中,去除的外延結構與余下的外延結構的位置一一對應。
6.如權利要求4所述的制備方法,其特征在于,
在步驟S40,在支撐襯底上預留位置處制備MOS管中,具體為,在支撐襯底上預留位置處制備N溝道MOS管;
在步驟S60,沉積連接金屬,將LED結構與MOS管串聯連接中,具體為:沉積連接金屬,將LED結構中的金屬反射層和/或P電極與MOS管的源極連接,將MOS管的柵極與外界控制端連接、漏極接電源正極。
7.如權利要求4所述的制備方法,其特征在于,在步驟S20中,包括:
在步驟S40,在支撐襯底上預留位置處制備MOS管中,具體為,在支撐襯底上預留位置處制備P溝道MOS管;
在步驟S60,沉積連接金屬,將LED結構與MOS管串聯連接中,具體為:沉積連接金屬,將LED結構中的金屬反射層和/或P電極與MOS管的漏極連接,將MOS管的柵極與外界控制端連接、源極接電源正極。
8.如權利要求4-7任意一項所述的制備方法,其特征在于,在步驟S40,在支撐襯底上預留位置處制備MOS管中,采用沉積的方法制備柵極氧化硅。
9.如權利要求4-7任意一項所述的制備方法,其特征在于,所述N電極/P電極為ITO或Al或Au。
10.如權利要求4-7任意一項所述的制備方法,其特征在于,所述金屬反射層為Cr或Pt或Al或Au。
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