[發(fā)明專利]一種微波源及其使用方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810778334.X
• 申請日: 2018-07-16
• 公開（公告）號: CN108923226A
• 公開（公告）日: 2018-11-30
• 發(fā)明（設計）人: 陳海波;王暖讓;趙環(huán);楊仁福
• 申請（專利權(quán)）人: 北京無線電計量測試研究所
• 主分類號: H01S1/02
• 分類號: H01S1/02
• 代理公司: 北京國昊天誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11315
• 代理人: 許志勇

1.一種微波源，所述微波源包括沿著光路依次設置的半導體激光器(1)、準直透鏡(2)、光電調(diào)制器(3)和分束器(4)，其特征在于，分束器(4)的出射光路的數(shù)量為至少兩個，分束器(4)的每個出射光路上分別設置有RCE諧振腔(5)，RCE諧振腔(5)的出射光路的匯聚點處設置有光探測器(6)，光探測器(6)、電放大器(7)、電濾波器(8)和定向耦合器(9)依次連接，定向耦合器(9)與光電調(diào)制器(3)連接。

2.如權(quán)利要求1所述的微波源，其特征在于，分束器(4)的分束比例為1:2～1:4。

3.如權(quán)利要求2所述的微波源，其特征在于，RCE諧振腔(5)的數(shù)量與分束器(4)的分束比例的倒數(shù)相等。

4.如權(quán)利要求1所述的微波源，其特征在于，半導體激光器(1)、準直透鏡(2)、光電調(diào)制器(3)和分束器(4)均放置在光學平臺或機箱內(nèi)。

5.如權(quán)利要求4所述的微波源，其特征在于，半導體激光器(1)、準直透鏡(2)、光電調(diào)制器(3)和分束器(4)分別安裝在固定架上，所述固定架分別固定在所述光學平臺或機箱內(nèi)。

6.如權(quán)利要求1所述的微波源，其特征在于，RCE諧振腔(5)、光探測器(6)、電放大器(7)、電濾波器(8)和定向耦合器(9)均放置在光學平臺或機箱內(nèi)。

7.如權(quán)利要求6所述的微波源，其特征在于，RCE諧振腔(5)、光探測器(6)、電放大器(7)、電濾波器(8)和定向耦合器(9)分別安裝在固定架上，所述固定架分別固定在所述光學平臺或機箱內(nèi)。

8.如權(quán)利要求1所述的微波源，其特征在于，半導體激光器(1)、準直透鏡(2)、光電調(diào)制器(3)和分束器(4)的光軸重合。

9.如權(quán)利要求1所述的微波源，其特征在于，準直透鏡(2)為雙凸透鏡。

10.一種如權(quán)利要求1-9中任一項所述的微波源的使用方法，其特征在于，包括以下步驟：

將半導體激光器(1)、準直透鏡(2)、光電調(diào)制器(3)和分束器(4)依次放置在光學平臺或機箱內(nèi)；

將半導體激光器(1)、準直透鏡(2)、光電調(diào)制器(3)和分束器(4)分別通過固定架固定在所述光學平臺或機箱內(nèi)；

調(diào)節(jié)半導體激光器(1)和準直透鏡(2)，使得準直透鏡(2)的焦點位于半導體激光器(1)的發(fā)光平面，使得準直透鏡(2)的出射光束為平行光束；

調(diào)節(jié)光電調(diào)制器(3)和準直透鏡(2)的位置，使得準直透鏡(2)的出射光束能夠以最大的耦合系數(shù)進入到光電調(diào)制器(3)內(nèi)；

調(diào)節(jié)分束器(4)的位置和角度，使得光強按照分束器(4)的分配比例進行分配；

調(diào)節(jié)RCE諧振腔(5)的位置，使其對入射光線進行濾波，并將RCE諧振腔(5)的輸出光輸入到光探測器(6)中，產(chǎn)生電信號；

將光探測器(6)、電放大器(7)、電濾波器(8)和定向耦合器(9)依次連接，將定向耦合器(9)與光電調(diào)制器(3)連接，在定向耦合器(9)的輸出端進行信號測試。