[發(fā)明專(zhuān)利]一種葉片刀紋及表面缺陷的視覺(jué)檢測(cè)裝置及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810776923.4 | 申請(qǐng)日: | 2018-07-13 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109030498B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-09-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙歡;陳茜;李昊;丁漢 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 華中科技大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/88 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/88 |
| 代理公司: | 華中科技大學(xué)專(zhuān)利中心 42201 | 代理人: | 孔娜;曹葆青 |
| 地址: | 430074 湖北*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 葉片 表面 缺陷 視覺(jué) 檢測(cè) 裝置 方法 | ||
本發(fā)明屬于智能檢測(cè)相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域,其公開(kāi)了一種葉片刀紋及表面缺陷的視覺(jué)檢測(cè)裝置及方法,該方法包括以下步驟:(1)提供視覺(jué)檢測(cè)裝置,相機(jī)從不同角度或者在不同光源亮度下分別獲取待檢測(cè)葉片的圖像,并將檢測(cè)到的圖像傳輸給微處理器;(2)微處理器對(duì)接收到的圖像進(jìn)行處理,并將灰度范圍在最好成像閾值之間的圖像區(qū)域代替及補(bǔ)全微處理器自接收到的圖像中選取的模板圖像的反光最強(qiáng)的區(qū)域;(3)尋找并定位出葉片表面磨拋不完全的殘留刀紋區(qū)域或者產(chǎn)生磨拋缺陷的部位;(4)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型對(duì)檢測(cè)出缺陷的圖像進(jìn)行分類(lèi)以判斷輸入的圖像對(duì)應(yīng)的缺陷是否可修復(fù)。本發(fā)明提高了檢測(cè)效率及和準(zhǔn)確性,自動(dòng)化程度較高,且降低了成本。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于智能檢測(cè)相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域,更具體地,涉及一種葉片刀紋及表面缺陷的視覺(jué)檢測(cè)裝置及方法。
背景技術(shù)
葉片在發(fā)動(dòng)機(jī)、壓氣機(jī)、燃?xì)廨啓C(jī)等設(shè)備中直接參與能量轉(zhuǎn)換,關(guān)系到整體設(shè)備的使用性能和壽命。為保障氣體導(dǎo)流順暢,葉片表面多為自由曲面,這使得葉片的加工和檢測(cè)較為困難。此外,葉片作為關(guān)鍵零部件,葉片表面的加工質(zhì)量要求很高。目前,葉片的磨拋過(guò)程大多是人工完成,勞動(dòng)強(qiáng)度較大,粉塵污染嚴(yán)重,磨拋設(shè)備轉(zhuǎn)速高容易發(fā)生事故,并且對(duì)工人師傅的經(jīng)驗(yàn)要求較高,所以本領(lǐng)域亟需開(kāi)發(fā)自動(dòng)的磨拋方法,作為智能制造過(guò)程,葉片磨拋質(zhì)量的檢測(cè)與反饋不可或缺。
葉片磨拋加工去除表面的銑削紋路,使得金屬葉片表面成像時(shí),反光強(qiáng)烈,激光、結(jié)構(gòu)光等方式成像效果都比較差,無(wú)法獲得表面紋理或缺陷信息;而普通CCD相機(jī)成像測(cè)驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)獲得的圖像中總存在強(qiáng)反光區(qū)域,影響檢測(cè)。相應(yīng)地,本領(lǐng)域存在著發(fā)展一種準(zhǔn)確性較好的葉片刀紋及表面缺陷的視覺(jué)檢測(cè)裝置及方法的技術(shù)需求。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的以上缺陷或改進(jìn)需求,本發(fā)明提供了一種葉片表面及表面缺陷的視覺(jué)檢測(cè)裝置及方法,其基于葉片磨拋質(zhì)量的檢測(cè)方法,研究及設(shè)計(jì)了一種準(zhǔn)確性較好的葉片刀紋及表面缺陷的視覺(jué)檢測(cè)裝置及方法。所述視覺(jué)檢測(cè)裝置模擬了人工打磨時(shí)查看葉片表面銑削刀紋打磨情況的過(guò)程,針對(duì)金屬葉片反光嚴(yán)重人工查看時(shí)會(huì)多角度進(jìn)行查看,且使用多個(gè)光源交替亮暗模擬該過(guò)程,有效地解決了金屬葉片成像中強(qiáng)反光的影響,取代了人工作業(yè),降低了成本,提高了準(zhǔn)確性,且能夠?yàn)樽詣?dòng)化加工提供了檢測(cè)數(shù)據(jù)。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,按照本發(fā)明的一個(gè)方面,提供了一種葉片刀紋及表面缺陷的視覺(jué)檢測(cè)裝置,所述視覺(jué)檢測(cè)裝置包括臺(tái)架、設(shè)置在所述臺(tái)架上的橫梁、相機(jī)、多個(gè)光源、觸發(fā)機(jī)構(gòu)及微處理器,所述相機(jī)與多個(gè)所述光源分別間隔設(shè)置在所述橫梁上;所述觸發(fā)機(jī)構(gòu)設(shè)置在所述臺(tái)架的底部,其與所述相機(jī)相連接;所述微處理器電性連接于所述相機(jī),所述相機(jī)及所述光源位于所述觸發(fā)機(jī)構(gòu)的上方;
所述觸發(fā)機(jī)構(gòu)用于承載待檢測(cè)的葉片及觸發(fā)所述相機(jī)開(kāi)始工作,且其位于所述相機(jī)的拍攝范圍內(nèi);所述相機(jī)用于從不同角度或者在不同的光源亮暗度下對(duì)所述葉片進(jìn)行拍攝取像,并將獲得的圖像傳輸給所述微處理器;所述微處理器對(duì)接收到的圖像進(jìn)行處理,并用灰度范圍在最好成像閾值之間的圖像區(qū)域代替及補(bǔ)全所述微處理器自接收到的圖像中選取的模板圖像的反光最強(qiáng)的區(qū)域,以得到完整無(wú)反光的葉片表面圖像,進(jìn)而根據(jù)灰度值變換信息尋找并定位出葉片磨拋不完全的殘留刀紋區(qū)域或者產(chǎn)生磨拋缺陷的部位。
進(jìn)一步地,所述視覺(jué)檢測(cè)裝置還包括光源控制器,所述光源控制器連接于所述光源,其用于控制所述光源的開(kāi)關(guān)及亮度。
進(jìn)一步地,所述視覺(jué)檢測(cè)裝置還包括偏振片,所述偏振片連接于所述相機(jī),且覆蓋所述相機(jī)的鏡頭,所述偏振片位于所述鏡頭朝向所述葉片的一側(cè),以用于過(guò)濾掉垂直于所述葉片的刀紋方向的光,減少所述葉片的表面反光。
進(jìn)一步地,所述視覺(jué)檢測(cè)裝置還包括多個(gè)云臺(tái),多個(gè)所述云臺(tái)間隔設(shè)置在所述橫梁上,所述相機(jī)及多個(gè)所述光源分別設(shè)置在所述云臺(tái)上;所述云臺(tái)通過(guò)自身的旋轉(zhuǎn)軸來(lái)實(shí)現(xiàn)方向角度的調(diào)整。
進(jìn)一步地,所述云臺(tái)為球形云臺(tái),其通過(guò)旋轉(zhuǎn)來(lái)調(diào)整所述光源的位姿,使得所述光源以不同的角度打光在所述葉片上;同時(shí),所述相機(jī)的位姿也是通過(guò)對(duì)應(yīng)的所述云臺(tái)的旋轉(zhuǎn)來(lái)實(shí)現(xiàn)調(diào)整的。
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- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專(zhuān)用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





