[發明專利]測量設備管理系統和計算機可讀介質

有效

• 申請號: 201810771471.0
• 申請日: 2018-07-13
• 公開（公告）號: CN109253715B
• 公開（公告）日: 2022-08-19
• 發明（設計）人: 玉井利幸;鈴木浩三郎
• 申請（專利權）人: 株式會社三豐
• 主分類號: G01B21/20
• 分類號: G01B21/20;G01B21/30
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

本發明涉及一種測量設備管理系統和計算機可讀介質。本發明的測量設備管理系統包括：獲取器，用于獲取指示多個測量設備的各測量設備中的更換組件的狀況的條件信息；以及預測器，用于基于所述獲取器所獲得的條件信息來預測所述更換組件的更換時間。

技術領域

本發明涉及用于管理/分析各種記錄數據的測量設備管理系統，并且特別涉及用于通過分析各種記錄數據來估計測量設備的組件的維護和更換、并執行處理的測量設備管理系統。

背景技術

傳統地，已經使用了各種測量設備來測量被測物(可測量物或被測量物)的形狀和尺寸。作為這樣的測量設備，例如已知圓度測量設備和表面紋理測量設備。圓度測量設備和表面紋理測量設備檢測在利用具有尖銳尖端的觸針追蹤被測物的表面時所產生的觸針的垂直移動，并且基于所檢測到的移動來測量被測物表面的凹凸和紋理。在測量期間，觸針在與被測物的表面物理接觸的同時移動，因此，觸針的尖端根據使用歷史而發生磨損。在觸針發生磨損的情況下，測量精度降低。在磨損繼續時，測量精度變得比可接受界限差，這意味著觸針的壽命存在界限，并且必須在適當的時間維護和更換觸針。

為了促使在適當的時間更換觸針，已經提出了如下的測量設備，其中該測量設備檢測觸針的移動距離并且在累積移動距離超過閾值時提供更換時間的通知(例如參見日本特開2011-169616)。然而，是否響應于這種通知更換觸針取決于管理測量設備的用戶或個人的判斷。另外，在要更換觸針時，還存在可能不容易獲得更換用觸針的情況。在這種情況下，必須犧牲測量精度或者必須放棄測量。

發明內容

本發明是鑒于以上情形而構思的，并且提供用以使得能夠進行測量設備的容易管理的測量設備管理系統。

為了解決以上情形，根據本發明的測量設備管理系統包括獲取器和預測器。所述獲取器獲取用以指示多個測量設備的各測量設備中的更換組件的狀況的條件信息。所述預測器基于所述獲取器所獲得的條件信息來預測所述更換組件的更換時間。

本發明還可以包括：通知機構，用于基于來自所述預測器的預測結果來向生產部門通知與所述更換組件的所需時間和數量有關的信息。此外，基于來自所述預測器的預測結果和所述更換組件的庫存，可以向所述生產部門通知與所述更換組件的生產計劃有關的信息。所述條件信息優選不是所述測量設備中的測量數據。

在本發明中，所述測量設備例如是圓度測量設備。在這種情況下，所述更換組件可以是觸針。所述條件信息可以是累積了所述觸針在與被測物相接觸的同時移動的距離的接觸移動距離。

根據本發明的程序使得計算機能夠用作上述的任何測量設備管理系統。

根據本發明的另一方面，一種測量設備管理系統，包括：控制器；以及存儲器，用于存儲指令，并且作為所述控制器執行所述存儲器中所存儲的指令時的結構，所述測量設備管理系統還包括：獲取器，用于獲取用以指示多個測量設備的各測量設備中的更換組件的狀況的條件信息；以及預測器，用于基于所述獲取器所獲得的條件信息來預測所述更換組件的更換時間。

根據本發明的又一方面，一種有形的非暫時性計算機可讀介質，其存儲用于控制測量設備管理系統的可執行的指令集，其中所述指令集在由計算機處理器執行時使所述計算機處理器執行包括以下步驟的操作：獲取步驟，用于獲取用以指示多個測量設備的各測量設備中的更換組件的狀況的條件信息；以及預測步驟，用于基于所述獲取步驟所獲得的條件信息來預測所述更換組件的更換時間。

附圖說明

在以下的詳細說明中，通過本發明的典型實施例的非限制性示例的方式參考所述的多個附圖來進一步說明本發明，其中在附圖的幾個視圖中，相同的附圖標記表示相似的部件，并且其中：

圖1示出測量設備管理系統的典型整體結構；

圖2是示出服務器的結構的框圖；

圖3是測量設備管理系統所管理的圓度測量設備的外觀圖；