[發明專利]一種多端口天線的互調測試裝置

在審

• 申請號: 201810769184.6
• 申請日: 2018-07-13
• 公開（公告）號: CN109100578A
• 公開（公告）日: 2018-12-28
• 發明（設計）人: 王尹
• 申請（專利權）人: 安徽藍煜電子科技有限公司
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10
• 代理公司: 合肥律眾知識產權代理有限公司 34147
• 代理人: 黃景燕

本發明公開了一種多端口天線的互調測試裝置，包括發射模塊、接收模塊、多端口模塊和微波暗室，其中；所述發射模塊包括第一微波信號源f1和第二微波信號源f2，所述第一微波信號源f1和所述第二微波信號源f2分別連接有續波放大器，所述續波放大器連接有定向耦合單元。本發明：通過將多端口天線的測試頻點與金屬網蓋板連接端連接，改變了傳統天線互調設計主要依靠經驗的方法，可以大大減少工程師的互調實踐經驗積累，進而減小互調設計風險和周期，并使得天線互調設計完全參數化，不僅可以方便快速自動地切換頻點測試，使得多個頻點的測試過程簡化，而且同時測量多條天線，并且測試快速便捷，更便于使用，成本較低，更便于操作使用。

技術領域

本發明涉及通信技術領域，具體來說，涉及一種多端口天線的互調測試裝置。

背景技術

隨著現代工業的發展，各類無線通訊產品只有具備良好的發射和接收性能才能保證通訊質量，衡量發射和接收性能的指標包括總輻射功率（TRP，Total Radiated Power）、總輻射靈敏度（TRS，Total Radiated Sensitivity）以及空間射頻性能（OTA，Over TheAir）等，其中，TRP要求必須高于一設定閾值，才能滿足相應的通訊要求，而TRS要低于一設定閾值，TRP及TRS均滿足設定閾值時，TOA的值就意味著測試指標良好。目前絕大分部天線廠商在進行大批量天線的射頻性能一致性測試過程中，均采用射頻測試臺進行。一套測試系統包括三個主要部分，一臺用以放置天線的射頻測試工裝盒，一臺用以分析數據用的矢量網絡分析儀，以及一臺用以記錄和分析數據用的電腦。將以上三部分進行連接，即可實現天線的射頻性能一致性測量。但一套測試系統基本上是用來測量一個機殼上的單天線的，有時可以利用通過修改進行雙天線測試，但因為矢量網絡分析儀的端口限制，當一個機殼上有多套天線時，便很難在一套測試系統中全部完成測量，這時便需要多套測試系統進行分開測試，費時費力。

針對相關技術中的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

發明內容

針對相關技術中的問題，本發明提出一種多端口天線的互調測試裝置，以克服現有相關技術所存在的上述技術問題。

本發明的技術方案是這樣實現的：

一種多端口天線的互調測試裝置，包括發射模塊、接收模塊、多端口模塊和微波暗室，其中；

所述發射模塊包括第一微波信號源f1和第二微波信號源f2，所述第一微波信號源f1和所述第二微波信號源f2分別連接有續波放大器，所述續波放大器連接有定向耦合單元，所述定向耦合單元連接有功率單元，且所述耦合單元連接于射頻合路單元，所述射頻合路單元連接有低PIM濾波單元，所述低PIM濾波單元發射端連接有第一低PIM雙工單元，所述第一低PIM雙工單元的接收端連接有第一接收濾波單元，所述第一接收濾波單元連接有第一低噪放單元，所述第一低噪放單元連接有第一頻譜分析單元；

所述接收模塊包括第二低PIM雙工單元，所述第二低PIM雙工單元的發射端連接有低PIM大功率負載單元，所述第二低PIM雙工單元的接收端連接有第二接收濾波單元，所述第二接收濾波單元連接有第二低噪放單元，所述第二低噪放單元連接有第二頻譜分析單元；

所述多端口模塊包括金屬網蓋板，所述金屬網蓋板連接有正交模耦合單元，所述正交模耦合單元的輸出端連接有接收波同單元，所述接收波同單元與所述第二低PIM雙工單元連接，所述正交模耦合單元的輸入端連接有發射波同單元，且所述第一低PIM雙工單元與所述發射波同單元相連接；

所述微波暗室包括信道仿生單元，所述信道仿生單元連接有信號映射單元，所述信號映射單元連接有姿態調整單元，所述姿態調整單元連接有功分單元，所述功分單元連接有衛星導航接收單元，且所述信道仿生單元與所述正交模耦合單元相連接。

進一步的，所述第一低PIM雙工單元和所述第二低PIM雙工單元分別通過低PIM電纜與所述發射波同單元和所述接收波同單元相連接。