[發明專利]一種提高OLT測試ONT或ONU效率的測試方法

有效

• 申請號: 201810768968.7
• 申請日: 2018-07-13
• 公開（公告）號: CN108540217B
• 公開（公告）日: 2021-08-17
• 發明（設計）人: 范志忠;呂顯浩
• 申請（專利權）人: 太倉市同維電子有限公司
• 主分類號: H04B10/073
• 分類號: H04B10/073
• 代理公司: 北京天奇智新知識產權代理有限公司 11340
• 代理人: 劉黎明

本發明公開了一種提高OLT測試ONT或ONU效率的測試方法，包括以下步驟：S1進入OLT，添加IP，配置OLT支持通過IP管理方式訪問；S2 OLT下掛多片ONT或ONU，每個ONT或ONU對應OLT的一個PON接口，向OLT進行注冊；S3主控PC通過PON接口以telnet登陸OLT，進行多片ONT或ONU同時測試。實現用一臺OLT同時并行測試多個ONT或ONU，無需等待，極大的提高了測試效率和工作效率。

技術領域

本發明涉及一種通信領域，尤其涉及一種提高OLT測試ONT或ONU效率的測試方法。

背景技術

通信類電子產品，比如ONT(光網絡終端)或ONU(光網絡單元)，產品生產過程需注冊OLT測試上報或比對PON info，作用為檢查產品在注冊后上報狀況及注冊信息正確。

這類產品制造過程中，一般會采取OLT每PON口接一臺ONT或ONU，產品正常注冊OLT后，PC通過控制OLT(光線路終端)的串口去讀取產品上報信息及注冊信息。這里面存在一個OLT控制權的問題，即若要實現多個產品同時測試，只能等單次控制OLT的串口被釋放出來，其他產品再被讀取操作，即同時間多個產品只能執行串行測試，其中一個在測試過程，另外處于wait狀態。

發明內容

本發明的目的在于針對上述現有技術的不足，提供一種提高OLT測試ONT或ONU效率的測試方法，替代串行測試方法，可以實現用一臺OLT同時并行測試多個ONT或ONU。

為解決上述問題，本發明所采取的技術方案是：

一種提高OLT測試ONT或ONU效率的測試方法，包括以下步驟：

S1進入OLT，添加IP，配置OLT支持通過IP管理方式訪問；

S2OLT下掛多片ONT或ONU，每個ONT或ONU對應OLT的一個PON接口，向OLT進行注冊；

S3主控PC通過PON接口以telnet登陸OLT，進行多片ONT或ONU同時測試。

進一步的，通過OLT上的MNG口同時實現多個進程對OLT訪問控制。

進一步的，OLT測試ONT或ONU的流程包括以下步驟：

A產品下掛對應OLT的PON口1注冊，產測程式控制配置好IP管理口，測試A產品：

a操作員在產測程式界面刷入A節點ONT或ONU的身份；

b產測程式控制登錄OLT，全局狀態顯示ONT或ONU；

c產測程式控制刪除非UP狀態下的ONT或ONU；

d產測程式控制進入A產品所在的子節點，查看如：interface 0/1/A；

e產測程式判斷A節點產品與A產品身份一致，檢查對比上報info，若不一致返回執行a步驟；

f測試A產品通過，產測程式控制釋放A節點給其余ONT或ONU使用，斷開此telnet進程；

g執行a-g。

采用上述技術方案所產生的有益效果在于：本發明OLT測試ONT或ONU的方法替代以往串行測試方法，可以實現用一臺OLT同時并行測試多個ONT或ONU，無需等待，資源充分利用，極大的提高了測試效率和工作效率。

附圖說明

圖1是本發明的拓撲結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例對本發明的實施方式作進一步詳細描述。以下實施例用于說明本發明，但不能用來限制本發明的范圍。