[發(fā)明專利]一種電器開關事件檢測方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810768660.2 | 申請日: | 2018-07-13 |
| 公開(公告)號: | CN109101465B | 公開(公告)日: | 2019-11-08 |
| 發(fā)明(設計)人: | 翟明岳 | 申請(專利權)人: | 廣東石油化工學院 |
| 主分類號: | G06F17/18 | 分類號: | G06F17/18;G01R21/00 |
| 代理公司: | 北京高沃律師事務所 11569 | 代理人: | 王戈 |
| 地址: | 525000 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 時間窗 總功率 檢測 電器開關 事件檢測 中心對準 滑動 線性回歸函數 標記開關 功率序列 開關事件 時間順序 數據填充 準確度 數據處 金插 一階 噪聲 采集 檢驗 | ||
1.一種電器開關事件檢測方法,其特征在于,包括:
獲取利用一階線性回歸函數和克里金插值方法對已標記開關事件的功率序列進行訓練得到的時間窗最優(yōu)長度L;其中L為奇數;
獲取按時間順序采集的電器的待檢測的總功率序列;
建立第一時間窗和第二時間窗,所述第一時間窗和所述第二時間窗的長度均為時間窗最優(yōu)長度L;所述第二時間窗緊隨所述第一時間窗;
對所述總功率序列的左側和右側進行數據填充,使所述第一時間窗和所述第二時間窗從所述第一時間窗的中心對準所述總功率序列的第一個數據滑動至所述第一時間窗的中心對準所述總功率序列的最后一個數據時,所述第一時間窗和所述第二時間窗內均填充滿L個數據;
從所述第一時間窗的中心對準填充前的所述總功率序列的第一個數據滑動所述第一時間窗和所述第二時間窗,直至所述第一時間窗的中心對準填充前的所述總功率序列的最后一個數據,每滑動一個數據的步長,對所述第一時間窗內的數據與所述第二時間窗內的數據進行卡方檢驗,從而確定所述總功率序列中的各個數據處是否發(fā)生開關事件;
記錄所有發(fā)生開關事件的數據在所述總功率序列中的序號;
所述對所述總功率序列的左側和右側進行數據填充,具體包括:
將所述總功率序列的左側補充至少個數據;左側補充的至少個數據均與所述總功率序列最左側的數據相同;
將所述總功率序列的右側補充至少個數據;右側補充的至少個數據均與所述總功率序列最右側的數據相同。
2.根據權利要求1所述的一種電器開關事件檢測方法,其特征在于,所述每滑動一個數據的步長,對所述第一時間窗內的數據與所述第二時間窗內的數據進行卡方檢驗,從而確定所述總功率序列中的各個數據處是否發(fā)生開關事件,具體包括:
獲取利用一階線性回歸函數和克里金插值方法對已標記開關事件的功率序列進行訓練得到的子序列最優(yōu)個數K;
求取所述第一時間窗內所有數據的最大值和最小值,得到取值區(qū)間;
將所述取值區(qū)間劃分為K段,得到K段小區(qū)間;
計算所述第一時間窗內的數據介于每個所述小區(qū)間內的數量F(n)P(k)和所述第二時間窗內的數據介于每個所述小區(qū)間內的數量F(n)Q(k);其中n表示位于所述第一時間窗中心的數據在所述總功率序列中的序號;k為小區(qū)間序號,k=1,2,…,K;
計算數量差值比率:
根據參數K和置信度α,通過查詢卡方表獲取卡方值χ2(α,K-1);
判斷所述數量差值比率是否大于或等于所述卡方值,得到第一判斷結果;
若所述第一判斷結果表示所述數量差值比率大于或等于所述卡方值,則確定在所述總功率序列的第n個數據處發(fā)生開關事件;若所述第一判斷結果表示所述數量差值比率小于所述卡方值,則確定在所述總功率序列的第n個數據處未發(fā)生開關事件。
3.根據權利要求2所述的一種電器開關事件檢測方法,其特征在于,利用一階線性回歸函數和克里金插值方法對已標記開關事件的功率序列進行訓練的過程為:
獲取已標記開關事件的功率序列的開關事件實際位置;
以子序列個數為橫坐標,時間窗長度為縱坐標建立二維坐標系,根據時間窗長度的取值范圍和子序列個數的取值范圍確定所述二維坐標系內的取值區(qū)域;
在所述取值區(qū)域內隨機選取預設數量的點作為插值點,以每個插值點對應的縱坐標作為時間窗建立時第一時間窗和第二時間窗的長度,以每個插值點對應的橫坐標作為取值區(qū)間的劃分個數,計算每個插值點所對應的開關事件預測位置;
根據所述開關事件實際位置計算每個插值點所對應的開關事件預測位置的預測正確率,得到每個插值點的預測正確率;
將所述取值區(qū)域進行網格劃分,獲取各個網格點作為被插值點;
利用每個插值點的預測正確率對每個被插值點進行線性擬合,得到擬合值;
求取所有擬合值中的最大值對應的插值點,得到最優(yōu)插值點;所述最優(yōu)插值點對應的橫坐標即為子序列最優(yōu)個數,所述最優(yōu)插值點對應的縱坐標即為時間窗最優(yōu)長度。
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