[發明專利]一種專用光致發光光譜測量的CCD光譜儀有效
| 申請號： | 201810768101.1 | 申請日： | 2018-07-13 |
| 公開（公告）號： | CN109030427B | 公開（公告）日： | 2023-10-13 |
| 發明（設計）人： | 于立民 | 申請（專利權）人： | 上海倍藍光電科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/63 | 分類號： | G01N21/63;G01N21/64;G01N21/01 |
| 代理公司： | 上海昱澤專利代理事務所(普通合伙) 31341 | 代理人： | 孟波 |
| 地址： | 201517 上海市金山*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 專用 光致發光 光譜 測量 ccd 光譜儀 | ||
1.一種專用光致發光光譜測量的CCD光譜儀，包括入射狹縫、準直鏡、光柵、成像反射鏡以及CCD探測器；標準光源自入射狹縫射入CCD光譜儀并依次經過準直鏡、光柵、成像反射鏡以及CCD探測器；
其特征在于，所述CCD探測器與成像反射鏡之間設置有伸縮式陷光擋板，所述陷光擋板為低反射率擋板。
2.根據權利要求1所述的CCD光譜儀，其特征在于，所述陷光擋板通過驅動機構實現伸縮運動。
3.根據權利要求2所述的CCD光譜儀，其特征在于，處于完全伸展狀態的陷光擋板完整地覆蓋所述CCD探測器的探測面。
4.根據權利要求2所述的CCD光譜儀，其特征在于，所述驅動機構包括控制系統和電機，所述控制系統通過控制電機來驅動陷光擋板做伸縮運動。
5.根據權利要求4所述的CCD光譜儀，其特征在于，所述驅動機構根據激發峰的波長調節所述陷光擋板的伸縮位置，并確保擋住所述激發峰而僅通過發射峰。
6.根據權利要求4所述的CCD光譜儀，其特征在于，所述標準光源從狹縫射入CCD光譜儀，經過準直鏡形成平行光，再經由光柵進行分光形成單色光分布，單色光打到成像反射鏡，最后經過成像反射鏡匯聚成單色光在像面上的分布。
7.根據權利要求6所述的CCD光譜儀，其特征在于，對所述標準光源的標定包括光譜標定和信號絕對幅值標定。
8.根據權利要求7所述的CCD光譜儀，其特征在于，所述光譜標定采用汞氬燈作為標準源，并對所述控制系統的定位精度進行標定。
9.根據權利要求1所述的CCD光譜儀，其特征在于，還包括光譜采集系統，所述光譜采集系統設置有與之關聯的控制系統、采集系統以及標定系統。
10.根據權利要求1所述的CCD光譜儀，其特征在于，所述CCD光譜儀依次通過光纖和SMA適配器與積分球相連，所述積分球的底部設置有樣品架。
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