[發明專利]一種數字測試方法及系統在審
| 申請號: | 201810760552.0 | 申請日: | 2018-07-12 |
| 公開(公告)號: | CN109143026A | 公開(公告)日: | 2019-01-04 |
| 發明(設計)人: | 許偉達;潘瀟雨;劉偉;許瓅;李春 | 申請(專利權)人: | 上海航天信息研究所;上海精密計量測試研究所 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 上海航天局專利中心 31107 | 代理人: | 余岢 |
| 地址: | 201109 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 數字通道 波形信號 待測器件 管腳 加載 測試設備 數字測試 加載測試 建立設備 周期信號 時間段 測試 傳輸 | ||
1.一種數字測試方法,其特征在于,所述數字測試方法用于測試待測器件所需的頻率高于測試設備的頻率的待測器件,包括步驟:
步驟1:定義所述測試設備端的至少兩個通道對應所述待測器件端的其中一個管腳;
步驟2:對所述通道、所述管腳進行定義:將所述通道、所述管腳均定義為數字通道;
步驟3:建立所述設備端與所述管腳的對應關系:所述對應關系包括多對一關系和一對一關系;
步驟4:對每個所述數字通道進行定義,包括:
對每個所述數字通道各加載測試待測器件需要的波形信號;
每個所述數字通道加載波形信號的方式為:
將每個所述數字通道的周期等分,等分的份數為所有所述數字通道的個數,定義等分后的時間段為小周期;
每個所述數字通道加載的波形信號只分布在一個小周期內,其余小周期內無波形信號,且每個所述數字通道加載的波形信號分別置于不同的所述小周期;
步驟5:應用步驟4定義的每個所述數字通道,完成所述設備端的每個所述數字通道加載的波形信號根據對應關系傳輸至所述待測器件的一個管腳,所述管腳接收的周期信號為在每個所述小周期內均加載有對應每個所述數字通道的小周期內加載的波形信號。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟3的建立所述設備端與所述管腳的多對一關系為:
建立所述設備端的至少兩個數字通道與所述管腳的對應關系。
3.如權利要求1所述的方法,其特征在于,在步驟2后,還包括:
步驟21:建立數字通道小組,將至少兩個所述數字通道的信息置于所述數字通道小組內。
4.如權利要求3所述的方法,其特征在于,所述步驟3的建立所述設備端與所述管腳的一對一關系為:
建立所述設備端的所述數字通道小組與所述管腳的對應關系。
5.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述管腳為數字輸入/輸出管腳。
6.一種數字測試系統,其特征在于,所述數字測試系統用于測試待測器件所需的頻率高于測試設備的頻率的待測器件,包括:
通道與管腳定義模塊:用于定義測試設備端的至少兩個通道對應待測器件端的其中一個管腳;
定義通道模塊:對所述通道、所述管腳進行定義:將所述通道、所述管腳均定義為數字通道;
定義對應關系模塊:用于建立所述設備端與所述管腳的對應關系:所述對應關系包括多對一關系和一對一關系;
定義數字通道模塊:用于對每個所述數字通道進行定義;
所述定義數字通道模塊包括:
加載波形信號單元,用于對每個所述數字通道各加載波形信號;包括:
周期等分子單元,用于將每個所述數字通道的周期等分,等分的份數為所有所述數字通道的個數,定義等分后的時間段為小周期;
波形分配子單元,用于每個所述數字通道加載的測試待測器件需要的波形信號只分布在一個小周期內,其余小周期內無波形信號,且每個所述數字通道加載的波形信號分別置于不同的所述小周期;
信號傳輸模塊:用于應用定義數字通道模塊定義的每個所述數字通道,完成所述設備端的每個所述數字通道加載的測試待測器件需要的波形信號根據對應關系傳輸至所述待測器件的一個管腳,所述管腳接收的周期信號為在每個所述小周期內均加載有對應每個所述數字通道的小周期加載的波形信號。
7.如權利要求6所述的系統,其特征在于,所述定義對應關系模塊的建立所述設備端與所述管腳的多對一關系為:
建立所述設備端的至少兩個數字通道與所述管腳的對應關系。
8.如權利要求6所述的系統,其特征在于,所述定義對應關系模塊還包括:
建立數字通道小組單元:用于建立數字通道小組,將至少兩個所述數字通道的信息置于所述數字通道小組內。
9.如權利要求8所述的系統,其特征在于,所述定義對應關系模塊的建立所述設備端與所述管腳的一對一關系為:
建立所述設備端的所述數字通道小組與所述管腳的對應關系。
10.如權利要求6所述的系統,其特征在于,所述管腳為數字輸入/輸出管腳。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海航天信息研究所;上海精密計量測試研究所,未經上海航天信息研究所;上海精密計量測試研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810760552.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





