[發(fā)明專利]對多通道金屬屏蔽布線層進行完整性檢測的電路及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810756556.1
• 申請日: 2018-07-11
• 公開（公告）號: CN109100635B
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 原義棟;趙毅強;辛睿山;葉茂;張海峰
• 申請（專利權(quán)）人: 北京智芯微電子科技有限公司;國網(wǎng)信息通信產(chǎn)業(yè)集團有限公司;國家電網(wǎng)有限公司;國網(wǎng)遼寧省電力有限公司電力科學(xué)研究院
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/317
• 代理公司: 北京中譽威圣知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11279
• 代理人: 周際;張鵬

1.一種對多通道金屬屏蔽布線層進行完整性檢測的電路，其特征在于，該電路包括：

隨機數(shù)產(chǎn)生電路，用于產(chǎn)生隨機數(shù)序列，隨機數(shù)序列中的每一路隨機數(shù)均通過兩個傳輸通道進行傳輸，所述兩個傳輸通道分別為所述多通道金屬屏蔽布線層和芯片的下層金屬線；以及

信號比對電路，與所述兩個傳輸通道均相連，用于對所述兩個傳輸通道輸入至所述信號比對電路的隨機數(shù)信號進行比對，若隨機數(shù)產(chǎn)生電路產(chǎn)生的某一路隨機數(shù)分別經(jīng)由所述兩個傳輸通道輸出到信號比對電路的兩個信號相同則認為比對成功，反之，若所述兩個信號不同，則認為比對失敗，當(dāng)比對失敗的次數(shù)超過一定數(shù)值，則認為該芯片的多通道金屬屏蔽布線層受到攻擊并產(chǎn)生報警信號，

其中，所述信號比對電路包括多個比對模塊，所述比對模塊包括：

一組D觸發(fā)器，用于采樣所述兩個傳輸通道輸出的隨機數(shù)；

異或門，其輸入端與該組D觸發(fā)器的輸出端相連，用于對采樣到的隨機數(shù)進行異或；

累加器，其輸入端與所述異或門的輸出端相連，用于對異或結(jié)果進行累加；以及

閾值判斷模塊，其輸入端與所述累加器的輸出端相連，用于判斷累加結(jié)果是否超過閾值，若超過閾值則輸出報警信號，

其中，所述比對模塊的比對方法是：所述D觸發(fā)器在由多個時鐘周期組成的一個比對周期內(nèi)對相應(yīng)的兩個傳輸通道的一組輸出信號進行采樣，若采樣到的一組輸出信號相同，則異或門輸出0，比對成功，否則異或門輸出1，比對失敗，累加器對所述比對的結(jié)果進行累加，所述閾值判斷模塊判斷累加結(jié)果是否超過閾值，超過閾值則所述比對模塊輸出報警信號。

2.如權(quán)利要求1所述的對多通道金屬屏蔽布線層進行完整性檢測的電路，其特征在于，所述隨機數(shù)產(chǎn)生電路包括反饋移位寄存器，該反饋移位寄存器由多個D觸發(fā)器串聯(lián)組成，第1級D觸發(fā)器的輸入端接最后一級D觸發(fā)器的正輸出端，其余D觸發(fā)器的一部分D觸發(fā)器的輸入信號由上一級D觸發(fā)器的正輸出端提供，其余D觸發(fā)器的另一部分D觸發(fā)器的輸入信號由上一級D觸發(fā)器的正輸出端和最后一級D觸發(fā)器的正輸出端異或后提供，該另一部分D觸發(fā)器的數(shù)量與所述多通道金屬屏蔽布線層的通道數(shù)量相同，該另一部分的每個D觸發(fā)器輸出的每路隨機數(shù)組成所述隨機數(shù)序列。

3.如權(quán)利要求2所述的對多通道金屬屏蔽布線層進行完整性檢測的電路，其特征在于，所述比對模塊的數(shù)量與所述多通道金屬屏蔽布線層的通道數(shù)量相同，每個比對模塊包括兩個輸入端和一個輸出端，某一路隨機數(shù)分別經(jīng)由所述兩個傳輸通道輸出到某個比對模塊的各個輸入端內(nèi)進行比對，若比對結(jié)果異常，則該比對模塊輸出報警信號。

4.如權(quán)利要求1所述的對多通道金屬屏蔽布線層進行完整性檢測的電路，其特征在于，所述信號比對電路還包括與門，所有的比對模塊的輸出端作為所述與門的輸入，當(dāng)某個比對模塊輸出報警信號則所述與門輸出報警信號。