[發(fā)明專利]用于分子離子反應(yīng)的線性離子阱復(fù)合質(zhì)譜分析系統(tǒng)及方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810745806.1
• 申請(qǐng)日: 2018-07-09
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN109103065B
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-05-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 何洋;肖育;徐駿;丁正知;齊曉軍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海裕達(dá)實(shí)業(yè)有限公司
• 主分類號(hào): H01J49/00
• 分類號(hào): H01J49/00;H01J49/02;H01J49/42;G01N27/62
• 代理公司: 上海段和段律師事務(wù)所 31334
• 代理人: 李佳俊;郭國(guó)中

1.一種用于分子離子反應(yīng)的線性離子阱復(fù)合質(zhì)譜分析系統(tǒng)，其特征在于，包括兩個(gè)相同或不同的線性離子阱質(zhì)量分析器，兩個(gè)線性離子阱質(zhì)量分析器相互垂直放置，且中心軸線位于同一平面；

所述線性離子阱質(zhì)量分析器包括兩組相同的射頻電極和一組對(duì)稱置于所述射頻電極兩側(cè)的端蓋電極，在其中一組射頻電極的中心開(kāi)設(shè)有用于離子出射的狹縫，所述端蓋電極的中心位置開(kāi)有用于離子通過(guò)的小孔，所述小孔位于兩組射頻電極構(gòu)成的旋轉(zhuǎn)體的旋轉(zhuǎn)軸上；

還包括離子傳輸裝置，所述離子傳輸裝置位于兩個(gè)線性離子阱質(zhì)量分析器之間，與第二個(gè)線性離子阱質(zhì)量分析器同軸放置，并且所述離子傳輸裝置的中心軸對(duì)準(zhǔn)第一個(gè)線性離子阱質(zhì)量分析器的所述狹縫并通過(guò)第一個(gè)線性離子阱質(zhì)量分析器的體心。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于分子離子反應(yīng)的線性離子阱復(fù)合質(zhì)譜分析系統(tǒng)，其特征在于，所述離子傳輸裝置為一組離子透鏡或者四極桿、六極桿、八極桿。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于分子離子反應(yīng)的線性離子阱復(fù)合質(zhì)譜分析系統(tǒng)，其特征在于，所述射頻電極的橫截面為雙曲面或者三角形、半圓形、平面矩形。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于分子離子反應(yīng)的線性離子阱復(fù)合質(zhì)譜分析系統(tǒng)，其特征在于，所述端蓋電極為圓形或者矩形。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于分子離子反應(yīng)的線性離子阱復(fù)合質(zhì)譜分析系統(tǒng)，其特征在于，兩個(gè)線性離子阱質(zhì)量分析器分別由不同的射頻工作電路控制。

6.一種基于權(quán)利要求1至5任意一項(xiàng)的用于分子離子反應(yīng)的線性離子阱復(fù)合質(zhì)譜分析方法，其特征在于，包括步驟：

S1、將一種反應(yīng)物從第一個(gè)線性離子阱質(zhì)量分析器的小孔引入，得到碎片離子及中間產(chǎn)物；

S2、將得到的碎片離子及中間產(chǎn)物從第一個(gè)線性離子阱質(zhì)量分析器的狹縫彈出并通過(guò)第二個(gè)線性離子阱質(zhì)量分析器的一個(gè)小孔引入第二個(gè)線性離子阱質(zhì)量分析器，與從第二個(gè)線性離子阱質(zhì)量分析器另一個(gè)小孔引入的另一種反應(yīng)物發(fā)生反應(yīng)得到最終產(chǎn)物；

S3、將得到的最終產(chǎn)物從第二個(gè)線性離子阱質(zhì)量分析器的狹縫彈出，進(jìn)而捕獲并分析。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的用于分子離子反應(yīng)的線性離子阱復(fù)合質(zhì)譜分析方法，其特征在于，步驟S2中通過(guò)離子傳輸裝置將得到的碎片離子及中間產(chǎn)物從第一個(gè)線性離子阱質(zhì)量分析器的狹縫引入第二個(gè)線性離子阱質(zhì)量分析器的一個(gè)小孔。