[發明專利]重航過陣列合成孔徑雷達三維成像運動誤差補償方法有效
| 申請號: | 201810743863.6 | 申請日: | 2018-07-09 |
| 公開(公告)號: | CN109031222B | 公開(公告)日: | 2022-08-02 |
| 發明(設計)人: | 田鶴;李道京 | 申請(專利權)人: | 中國科學院電子學研究所 |
| 主分類號: | G01S7/40 | 分類號: | G01S7/40 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 任巖 |
| 地址: | 100190 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 陣列 合成孔徑雷達 三維 成像 運動 誤差 補償 方法 | ||
1.一種重航過陣列合成孔徑雷達三維成像運動誤差補償方法,包括:
步驟S1,利用分布式POS獲得各航過對應的陣列各子陣位置和陣列形變測量數據,對該測量數據進行多項式擬合;
步驟S2,在存在運動誤差條件下,通過MURA正反編碼對回波數據進行空間調制,得到兩路SAR三維回波信號;
步驟S3,在擬合后的分布式POS測量數據基礎上,對所述兩路SAR三維回波信號采用三維BP成像算法進行處理,獲得各航過對應的SAR三維復圖像對;
步驟S4,針對各航過對應的SAR三維復圖像對,以MURA反碼對應的三維復圖像相位作為參考,對MURA正碼對應的三維復圖像進行干涉處理;
步驟S5,建立SAR回波信號-干涉后復圖像頻域系數向量之間的關系式,利用壓縮感知理論和范數最優化準則求解各航過關系式;
步驟S6,將求解所得到的頻域系數向量反變換至空間域,等效實現陣列形變誤差補償和單航過陣列SAR三維成像;
步驟S7,以MURA反碼對應的三維復圖像相位作為參考,對MURA正碼回波形成的單航過復圖像進行相位補償,以恢復各航過之間復圖像相位關系;
其中,所述以MURA反碼對應的三維復圖像相位作為參考,對MURA正碼回波形成的單航過復圖像進行相位補償,表達式為:
αCompen,i'=αCompen,i·Pi (1)
其中Pi為第i次航過采用MURA反碼調制對應的復圖像相位,αCompen,i為第i次航過陣列形變誤差補償后的復圖像,αCompen,i'為相位補償的復圖像;
步驟S8,對補償后的各個復圖像相干累加,實現重航過陣列SAR三維成像。
2.根據權利要求1所述的重航過陣列合成孔徑雷達三維成像運動誤差補償方法,其中,在所述步驟S1中,采用最小二乘方法對所述測量數據進行多項式擬合。
3.根據權利要求1所述的重航過陣列合成孔徑雷達三維成像運動誤差補償方法,其中,所述步驟S3中,三維BP成像算法的相位補償因子g(u,wi;m)為:
式中,λ表示兩路回波信號波長,τ(u,wi;m)為第i次航過下三維成像空間第m個分辨單元到采樣點(u,wi)的回波延時:
其中,c表示光速,wi表示第i次航過對應的交軌向采樣點相位中心位置,(u,wi)為采樣點在順軌向-交軌向平面的位置,其中u表示采樣點在順軌向的位置,H為理想平臺高度,ζh,uw、ζc,uw分別為實際航跡在高程向、交軌向的偏移量測量值,為該采樣點對應的陣列形變誤差;(xm,ym,zm)為第m個分辨單元對應的位置。
4.根據權利要求1所述的重航過陣列合成孔徑雷達三維成像運動誤差補償方法,其中,在所述步驟S3中,所述SAR三維復圖像對分別為α1、α2:
式中,A為復圖像幅度矩陣,為隨機初始相位矩陣,為目標至SAR采樣點的往返距離引起的相位,其中,i=1,2。
5.根據權利要求1所述的重航過陣列合成孔徑雷達三維成像運動誤差補償方法,其中,在所述步驟S4中,干涉處理后的圖像αnew為:
式中,A為復圖像幅度矩陣,為隨機初始相位矩陣,為目標至SAR采樣點的往返距離引起的相位,其中,i=1,2。
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