[發明專利]一種紅外焦平面像元級電壓分段計數型模數轉換器在審
| 申請號: | 201810737710.0 | 申請日: | 2018-07-06 |
| 公開(公告)號: | CN109067396A | 公開(公告)日: | 2018-12-21 |
| 發明(設計)人: | 王耕耘;孫啟揚;徐圣亞;戴立群;卜洪波;樊奔;王棟;程甘霖;翟國芳;吳淞波;姚瑤;張旭;陳瑞明;潘衛軍;周滕;王磊;冀翼;董方 | 申請(專利權)人: | 北京空間機電研究所 |
| 主分類號: | H03M1/08 | 分類號: | H03M1/08;H03M1/52 |
| 代理公司: | 中國航天科技專利中心 11009 | 代理人: | 馬全亮 |
| 地址: | 100076 北京市豐*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 像元 節點電容 浮置 減小 紅外焦平面 模數轉換器 計數型 分段 電荷電壓轉換 計數器 傳輸晶體管 復位晶體管 光電二極管 開關晶體管 存儲節點 復位噪聲 基板電容 像元電荷 一次電壓 比較器 電荷量 電容量 源區 量化 | ||
1.一種紅外焦平面像元級電壓分段計數型模數轉換器,其特征在于包括:傳輸晶體管M1、復位晶體管M2、開關晶體管M3、光電二極管D、比較器Comp以及計數器counter;
光電二極管D作為感光單元,其輸出信號送至傳輸晶體管M1的源端,傳輸晶體管M1的柵極連接外部輸入的直流偏置電壓Vbias,傳輸晶體管M1的漏端節點、復位晶體管M2的源端節點和開關晶體管M3的漏端節點共用一個反向偏置節點P,所述反向偏置節點P對地形成節點電容Cp,節點電容Cp靠近反向偏置節點P的一端和比較器Comp的負極輸入端連接,比較器Comp正極輸入端、開關晶體管M3的源端節點以及參考電壓源Vref連接在一起,開關晶體管M3的柵極連接輸入開關信號RST,控制比較器Comp的開閉,復位晶體管M2的漏端連接電源信號VDD,同時復位晶體管M2的柵極和比較器Comp的輸出端連接,比較器Comp輸出端與計數器counter的輸入端相連。
2.根據權利要求1所述的一種紅外焦平面像元級電壓分段計數型模數轉換器,其特征在于:開關信號RST為模數轉換器的周期性的初始觸發信號。
3.根據權利要求2所述的一種紅外焦平面像元級電壓分段計數型模數轉換器,其特征在于:開關信號RST的頻率數值等于模數轉換器的轉換速率數值。
4.根據權利要求2或3所述的一種紅外焦平面像元級電壓分段計數型模數轉換器,其特征在于:當開關信號RST為高電平時,控制比較器Comp的關閉,當開關信號RST為低電平時,控制比較器Comp的打開。
5.根據權利要求1所述的一種紅外焦平面像元級電壓分段計數型模數轉換器,其特征在于:光電二極管D采用n-on-p連接結構,負極連接至地信號,正極連接至傳輸晶體管M1的源端。
6.根據權利要求1所述的一種紅外焦平面像元級電壓分段計數型模數轉換器,其特征在于:反向偏置節點P對地形成的節點電容Cp,其電容量通過增加有源區寬度進行調整。
7.一種紅外焦平面器件,其特征在于包括多個相同的標準像元,每個像元的電路結構均為模數轉換器,所述模數轉換器包括:傳輸晶體管M1、復位晶體管M2、開關晶體管M3、光電二極管D、比較器Comp以及計數器counter;
光電二極管D作為感光單元,其輸出信號送至傳輸晶體管M1的源端,傳輸晶體管M1的柵極連接外部輸入的直流偏置電壓Vbias,傳輸晶體管M1的漏端節點、復位晶體管M2的源端節點和開關晶體管M3的漏端節點共用一個反向偏置節點P,所述反向偏置節點P對地形成節點電容Cp,節點電容Cp靠近反向偏置節點P的一端和比較器Comp的負極輸入端連接,比較器Comp正極輸入端、開關晶體管M3的源端節點以及參考電壓源Vref連接在一起,開關晶體管M3的柵極連接輸入開關信號RST,控制比較器Comp的開閉,復位晶體管M2的漏端連接電源信號VDD,同時復位晶體管M2的柵極和比較器Comp的輸出端連接,比較器Comp輸出端與計數器counter的輸入端相連。
8.根據權利要求7所述的一種紅外焦平面器件,其特征在于:開關信號RST為模數轉換器的周期性的初始觸發信號,開關信號RST的頻率數值等于模數轉換器的轉換速率數值,當開關信號RST為高電平時,控制比較器Comp的關閉,當開關信號RST為低電平時,控制比較器Comp的打開。
9.根據權利要求7所述的一種紅外焦平面器件,其特征在于:光電二極管D采用n-on-p連接結構,負極連接至地信號,正極連接至傳輸晶體管M1的源端。
10.根據權利要求7所述的一種紅外焦平面器件,其特征在于:反向偏置節點P對地形成的節點電容Cp,其電容量通過增加有源區寬度進行調整。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京空間機電研究所,未經北京空間機電研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810737710.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





