[發明專利]指標異常檢測方法、裝置、可讀存儲介質及電子設備

在審

• 申請號: 201810737519.6
• 申請日: 2018-07-06
• 公開（公告）號: CN109146236A
• 公開（公告）日: 2019-01-04
• 發明（設計）人: 馬云存
• 申請（專利權）人: 東軟集團股份有限公司
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06
• 代理公司: 北京英創嘉友知識產權代理事務所(普通合伙) 11447
• 代理人: 魏嘉熹;南毅寧

1.一種指標異常檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取當前時刻的采樣點數據，以及上一時刻對應的指標平均值和指標標準差；

基于所述當前時刻的所述采樣點數據，以及所述上一時刻對應的所述指標平均值和所述指標標準差，確定所述當前時刻的指標異常閾值；

在所述當前時刻的所述采樣點數據與確定出的所述指標異常閾值之間滿足異常條件時，確定所述當前時刻的所述采樣點數據為異常數據。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述指標異常閾值包括指標異常上限閾值和/或指標異常下限閾值；

所述基于所述當前時刻的所述采樣點數據，以及所述上一時刻對應的所述指標平均值和所述指標標準差，確定所述當前時刻對應的指標異常閾值，包括：

根據所述當前時刻的所述采樣點數據，以及所述上一時刻對應的所述指標平均值和所述指標標準差，確定所述當前時刻對應的指標平均值和指標標準差；

根據所述當前時刻對應的所述指標平均值和所述指標標準差，計算所述指標異常上限閾值和/或所述指標異常下限閾值。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述指標平均值包括第一指標平均值和第二指標平均值，通過以下公式根據所述當前時刻的所述采樣點數據，以及所述上一時刻對應的所述指標平均值和所述指標標準差，確定所述當前時刻對應的指標平均值和指標標準差：

EWMA(t)＝λY(t)+(1-λ)EWMA(t-1)；

δ_t＝δ_t-1+(Y(t)-ESP_t-1)(Y(t)-ESP_t)；

ESP_t＝(Y(t)+ESP_{t_1}(N-1))/N；

t表示當前時刻；

N表示當前時刻對應的采樣點數據的總個數；

EWMA(t)表示當前時刻對應的所述第一指標平均值；

EWMA(t-1)表示上一時刻對應的第一指標平均值；

λ表示加權系數，其中，λ＝2/(N+1)；

Y(t)表示當前時刻的所述采樣點數據；

δ_t表示當前時刻對應的所述指標標準差；

δ_{t_1}表示上一時刻對應的指標標準差；

ESP_t表示當前時刻對應的所述第二指標平均值；

ESP_{t_1}表示上一時刻對應的第二指標平均值；

通過以下公式根據所述當前時刻對應的所述指標平均值和所述指標標準差，計算所述指標異常上限閾值：

UCL(t)＝EWMA(t)+kδ_t；

通過以下公式根據所述當前時刻對應的所述指標平均值和所述指標標準差，計算所述指標異常下限閾值：

LCL(t)＝EWMA(t)-kδ_t；

其中，UCL(t)表示當前時刻對應的所述指標異常上限閾值；

LCL(t)表示當前時刻對應的所述指標異常下限閾值；

k表示預設常數。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，當所述指標異常閾值包括指標異常上限閾值時，所述異常條件為：

所述當前時刻的所述采樣點數據大于所述指標異常上限閾值、且所述當前時刻的所述采樣點數據相對于所述上一時刻對應的指標平均值的變化程度大于預設的浮動閾值；

當所述指標異常閾值包括指標異常下限閾值時，所述異常條件為：

所述當前時刻的所述采樣點數據小于所述指標異常下限閾值、且所述當前時刻的所述采樣點數據相對于所述上一時刻對應的指標平均值的變化程度大于預設的浮動閾值；

當所述指標異常閾值包括指標異常上限閾值和指標異常下限閾值時，所述異常條件為：

所述當前時刻的所述采樣點數據小于所述指標異常下限閾值或大于所述指標異常上限閾值；且

所述當前時刻的所述采樣點數據相對于所述上一時刻對應的指標平均值的變化程度大于預設的浮動閾值。