[發明專利]一種PCB板層偏檢測反饋系統及其檢測裝置

有效

• 申請號: 201810737079.4
• 申請日: 2018-07-06
• 公開（公告）號: CN110691475B
• 公開（公告）日: 2021-01-08
• 發明（設計）人: 李智;崔榮;繆樺
• 申請（專利權）人: 深南電路股份有限公司
• 主分類號: H05K3/46
• 分類號: H05K3/46
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 李慶波

1.一種PCB板層偏檢測裝置，其特征在于，所述PCB板層偏檢驗裝置包括：

夾持件，用于緊固PCB板；

換向機構，用于驅動所述夾持件旋轉，使得所述夾持件換向；

視覺檢測裝置，設于所述夾持件周側，用于對所述PCB板周邊上的多層層偏科邦進行圖像采集；

控制裝置，與所述視覺檢測裝置、所述換向機構通信連接，所述控制裝置用于控制所述換向機構對所述夾持件進行換向，使得所述視覺檢測裝置對多層所述層偏科邦進行圖像采集；所述控制裝置還用于根據所述視覺檢測裝置采集的圖像，確定所述PCB板的多個相鄰層偏數據和整體層偏數據。

2.根據權利要求1所述的PCB板層偏檢測裝置，其特征在于，所述PCB板包括層疊設置的多層芯板，每層所述芯板的周邊均設有層偏科邦，每層所述芯板上的所述層偏科邦的位置相同，所述層偏科邦呈矩形銅片。

3.根據權利要求1所述的PCB板層偏檢測裝置，其特征在于，還包括分堆裝置，所述分堆裝置與所述控制裝置通信連接，所述控制裝置根據所述整體層偏數據對所述PCB板進行分級，并根據所述PCB板的等級控制所述分堆裝置將所述PCB板堆放至相應的位置。

4.根據權利要求3所述的PCB板層偏檢測裝置，其特征在于，還包括傳送機構，所述傳送機構用于輸送所述夾持件，所述傳送機構的一端對應設有多個PCB板收集機構，多個所述PCB板收集機構與所述PCB板的等級一一對應，所述分堆裝置將所述PCB板堆放至對應的所述PCB板收集機構。

5.根據權利要求4所述的PCB板層偏檢測裝置，其特征在于，所述傳送機構包括機架和設于機架上的動力輥筒，所述動力輥筒帶動所述夾持件移動；所述視覺檢測裝置設置于所述機架上，對所述夾持件上的所述PCB板的層偏科邦采集圖像。

6.根據權利要求5所述的PCB板層偏檢測裝置，其特征在于，所述視覺檢測裝置包括多個相機，多個所述相機設置于所述機架上，從所述PCB板的兩對側進行圖像采集。

7.根據權利要求4所述的PCB板層偏檢測裝置，其特征在于，所述傳送機構的另一端設有PCB板投放機構，所述PCB板投放機構用于將所述PCB板投放到所述夾持件上。

8.一種PCB板層偏檢測反饋系統，其特征在于，包括如權利要求1-7任一項所述的PCB板層偏檢測裝置、PCB板制造裝置和PCB板鉆孔裝置；

其中，所述PCB板層偏檢測裝置將所述相鄰層偏數據反饋給所述PCB板制造裝置，將所述整體層偏數據反饋給所述PCB板鉆孔裝置。

9.根據權利要求8所述的PCB板層偏檢測反饋系統，其特征在于，所述PCB板層偏檢測裝置中的所述控制裝置用于根據所述采集的圖像，確定各所述層偏科邦的中線位置，并計算出相鄰所述層偏科邦的中線的偏移量作為所述相鄰層偏數據；

所述控制裝置還用于將所述相鄰層偏數據中的最大值與最小值做差值，以得到所述整體層偏數據。

10.根據權利要求9所述的PCB板層偏檢測反饋系統，其特征在于，所述控制裝置還用于根據所述相鄰層偏數據與預設相鄰層偏數據作比較的結果、所述整體層偏數據與預設整體層偏數據作比較的結果，判斷所述PCB板是否合格；

其中，所述相鄰層偏數據的數值大于所述預設相鄰層偏數據的數值，或所述整體層偏數據的數值大于預設整體層偏數據的數值，則判斷所述PCB板不合格，并提出報廢預警。

11.根據權利要求9所述的PCB板層偏檢測反饋系統，其特征在于，所述PCB板制造裝置根據所述相鄰層偏數據，確定對應的芯板的印刷電路相對其相鄰芯板的印刷電路的預放比例。

12.根據權利要求9所述的PCB板層偏檢測反饋系統，其特征在于，所述PCB板鉆孔裝置根據整體層偏數據，確定所述PCB板的整體層偏比例。