[發明專利]機器學習裝置、檢查裝置以及機器學習方法

有效

• 申請號: 201810736105.1
• 申請日: 2018-07-06
• 公開（公告）號: CN109242820B
• 公開（公告）日: 2021-06-08
• 發明（設計）人: 并木勇太
• 申請（專利權）人: 發那科株式會社
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G01N21/88
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 范勝杰;曹鑫

1.一種機器學習裝置，生成用于機器學習的學習數據，其特征在于，

該機器學習裝置具備：

圖像輸入部，其輸入標記圖像和與該標記圖像對應的學習用圖像，上述標記圖像是對包含用僅在照射特定波長的光時能夠看見的特殊涂料對表示缺陷的記號進行標記而得的記號的檢查對象物，在由能夠看見上述記號的波長的光進行照明的狀態下拍攝而得到的圖像，上述學習用圖像是在由看不見上述記號的波長的光進行照明的狀態下拍攝上述檢查對象物而得到的圖像；以及

生成部，其根據所輸入的上述圖像來生成上述學習數據，

在上述標記圖像中沒有上述記號的情況下，上述生成部生成由上述學習用圖像和保持表示沒有缺陷的無缺陷值的標簽組成的學習數據，

在上述標記圖像中有上述記號的情況下，上述生成部生成由上述學習用圖像、從上述標記圖像取得的缺陷的信息和保持表示有缺陷的有缺陷值的標簽組成的學習數據。

2.根據權利要求1所述的機器學習裝置，其特征在于，

表示上述缺陷的上述記號是根據上述缺陷的種類而不同的記號，

上述生成部生成包含上述學習用圖像、通過上述記號表示的缺陷的種類以及保持上述有缺陷值的標簽的學習數據。

3.根據權利要求2所述的機器學習裝置，其特征在于，

上述缺陷中包括上述檢查對象物的傷痕、污垢以及缺損。

4.根據權利要求2所述的機器學習裝置，其特征在于，

上述不同的記號是反射光波長互不相同的記號。

5.一種檢查裝置，其特征在于，具備：

權利要求1～4中任意一項記載的機器學習裝置；以及

存儲部，其存儲由上述機器學習裝置生成的學習數據，

上述機器學習裝置具備通過上述存儲部所存儲的學習數據進行了學習的學習部，該學習部根據上述圖像輸入部輸入的上述檢查對象物的圖像來輸出缺陷的判斷結果。

6.一種機器學習方法，生成用于機器學習的學習數據，其特征在于，

該機器學習方法包括以下步驟：

對檢查對象物進行檢查，在發現缺陷時，在缺陷部位用僅在照射特定波長的光時能夠看見的特殊涂料附加記號的步驟；

輸入標記圖像和與該標記圖像對應的學習用圖像的步驟，上述標記圖像是在由能夠看見上述記號的波長的光進行照明的狀態下拍攝上述檢查對象物而得到的圖像，上述學習用圖像是在由看不見上述記號的波長的光進行照明的狀態下拍攝上述檢查對象物而得到的圖像；以及

根據輸入的上述圖像生成上述學習數據的步驟，

生成上述學習數據的步驟包括：

在上述標記圖像中沒有上述記號時，生成包含上述學習用圖像和保持表示沒有缺陷的無缺陷值的標簽的學習數據的步驟；以及

在上述標記圖像中有上述記號時，生成包含上述學習用圖像、從上述標記圖像取得的缺陷的信息和保持表示有缺陷的有缺陷值的標簽的學習數據的步驟。