[發(fā)明專利]高邊驅(qū)動(dòng)開關(guān)故障檢測(cè)電路和故障檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810735175.5
• 申請(qǐng)日: 2018-07-06
• 公開（公告）號(hào): CN110687439B
• 公開（公告）日: 2020-10-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周芳杰;李前鄧;劉昌鑑
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 寧德時(shí)代新能源科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/327
• 分類號(hào): G01R31/327
• 代理公司: 北京匯思誠(chéng)業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11444
• 代理人: 王剛;龔敏

本發(fā)明實(shí)施例提供一種高邊驅(qū)動(dòng)開關(guān)故障檢測(cè)電路和故障檢測(cè)方法，涉及開關(guān)控制技術(shù)領(lǐng)域，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)高邊驅(qū)動(dòng)進(jìn)行故障診斷。高邊驅(qū)動(dòng)開關(guān)故障檢測(cè)電路，包括：開關(guān)晶體管；電流反饋單元，連接于所述開關(guān)晶體管，所述電流反饋單元包括電流反饋端，所述電流反饋單元用于將所述開關(guān)晶體管的輸出電流縮小后通過(guò)所述電流反饋端輸出；多個(gè)采樣單元，用于對(duì)所述電流反饋端以及其他至少一處的電壓進(jìn)行采樣；微控制器，連接于所述開關(guān)晶體管的控制端以及所述多個(gè)采樣單元，所述微控制器用于控制所述開關(guān)晶體管處于導(dǎo)通狀態(tài)或截止?fàn)顟B(tài)，以及根據(jù)所述多個(gè)采樣單元所采樣的電壓生成故障診斷信號(hào)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及開關(guān)控制技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種高邊驅(qū)動(dòng)開關(guān)故障檢測(cè)電路和故障檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

高邊驅(qū)動(dòng)是指在負(fù)載與電源之間增加開關(guān)晶體管，以此來(lái)對(duì)負(fù)載的工作進(jìn)行控制。目前對(duì)高邊驅(qū)動(dòng)進(jìn)行故障診斷的方式準(zhǔn)確性較差。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實(shí)施例提供一種高邊驅(qū)動(dòng)開關(guān)故障檢測(cè)電路和故障檢測(cè)方法，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)高邊驅(qū)動(dòng)進(jìn)行更加準(zhǔn)確地故障診斷。

一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種高邊驅(qū)動(dòng)開關(guān)故障檢測(cè)電路，包括：

開關(guān)晶體管，其第一端連接于高邊驅(qū)動(dòng)電源輸入端，其第二端連接于高邊驅(qū)動(dòng)輸出端；

電流反饋單元，連接于所述開關(guān)晶體管，所述電流反饋單元包括電流反饋端，所述電流反饋單元用于將所述開關(guān)晶體管的輸出電流縮小后通過(guò)所述電流反饋端輸出；

多個(gè)采樣單元，用于對(duì)所述電流反饋端以及其他至少一處的電壓進(jìn)行采樣；

微控制器，連接于所述開關(guān)晶體管的控制端以及所述多個(gè)采樣單元，所述微控制器用于控制所述開關(guān)晶體管處于導(dǎo)通狀態(tài)或截止?fàn)顟B(tài)，以及根據(jù)所述多個(gè)采樣單元所采樣的電壓生成故障診斷信號(hào)。

可選地，所述多個(gè)采樣單元包括：

第一電壓采樣單元，連接于所述電流反饋端，所述第一電壓采樣單元包括第一電壓采樣端，所述第一電壓采樣單元用于將所述電流反饋端的電流轉(zhuǎn)換為電壓并通過(guò)所述第一電壓采樣端輸出；

第二電壓采樣單元，連接于所述高邊驅(qū)動(dòng)電源輸入端，所述第二電壓采樣單元包括第二電壓采樣端，所述第二電壓采樣單元用于對(duì)所述高邊驅(qū)動(dòng)電源輸入端的電壓進(jìn)行采樣并通過(guò)所述第二電壓采樣端輸出；

第三電壓采樣單元，連接于所述高邊驅(qū)動(dòng)輸出端，所述第三電壓采樣單元包括第三電壓采樣端，所述第三電壓采樣單元用于對(duì)所述高邊驅(qū)動(dòng)輸出端的電壓進(jìn)行采樣并通過(guò)所述第三電壓采樣端輸出；

所述微控制器與所述第一電壓采樣端、所述第二電壓采樣端、所述第三電壓采樣端連接，所述微控制器用于控制所述開關(guān)晶體管處于導(dǎo)通狀態(tài)或截止?fàn)顟B(tài)，以及根據(jù)所述第一電壓采樣端、所述第二電壓采樣端和所述第三電壓采樣端的電壓生成故障診斷信號(hào)。

可選地，所述微控制器具體用于執(zhí)行以下各項(xiàng)檢測(cè)過(guò)程之一或任意組合：

第一檢測(cè)過(guò)程，所述微控制器控制所述開關(guān)晶體管處于截止?fàn)顟B(tài)，并獲取所述第一電壓采樣端的電壓值u1、所述第二電壓采樣端的電壓值u2和所述第三電壓采樣端的電壓值u3，若u3k1×u2，且u1＝0V，則生成截止?fàn)顟B(tài)無(wú)故障信號(hào)，k1為第一常數(shù)；

第二檢測(cè)過(guò)程，所述微控制器控制所述開關(guān)晶體管處于截止?fàn)顟B(tài)，并獲取所述第一電壓采樣端的電壓值u1、所述第二電壓采樣端的電壓值u2和所述第三電壓采樣端的電壓值u3，若u3≥k2×u2，且u1k3，則生成高邊驅(qū)動(dòng)輸出短電源故障信號(hào)，k2為第二常數(shù)，k3為第三常數(shù)；

第三檢測(cè)過(guò)程，所述微控制器控制所述開關(guān)晶體管處于導(dǎo)通狀態(tài)，并獲取所述第一電壓采樣端的電壓值u1、所述第二電壓采樣端的電壓值u2和所述第三電壓采樣端的電壓值u3，若u3≥k2×u2，且u1k3，則生成高邊驅(qū)動(dòng)過(guò)流故障信號(hào)，k2為第二常數(shù)，k3為第三常數(shù)；