[發明專利]石英晶體諧振器的頻率微調系統及其微調方法、微調裝置在審
| 申請號: | 201810733906.2 | 申請日: | 2018-07-06 |
| 公開(公告)號: | CN108988813A | 公開(公告)日: | 2018-12-11 |
| 發明(設計)人: | 蔣振聲;劉青健;梁惠萍;岑永富;覃覺平;鄧文斌 | 申請(專利權)人: | 應達利電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H03H3/04 | 分類號: | H03H3/04 |
| 代理公司: | 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙) 44312 | 代理人: | 彭海民 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶安區福永街道鳳凰社區騰豐一路*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 石英晶體諧振器 微調 頻率微調 石英晶體片 電磁波束 預置頻率 諧振器 振蕩器 電子元器件 產品調整 工裝夾具 規格要求 激光頻率 微調裝置 系統結構 微調機 調出 調頻 封蓋 外蓋 合格率 穿過 | ||
1.一種石英晶體諧振器的頻率微調系統,其特征在于,包括:
微調工裝夾具,用于固定待微調的石英晶體諧振器;
激光頻率微調機,用于產生預置頻率的電磁波束,控制所述電磁波束穿過所述石英晶體諧振器的外蓋到達所述石英晶體諧振器的石英晶體片,對所述石英晶體片進行調整,用以將所述石英晶體諧振器調節到預置頻率。
2.如權利要求1所述的頻率微調系統,其特征在于,還包括:
頻率檢測儀,用于在所述激光頻率微調機對所述石英晶體諧振器進行微調的過程中,實時檢測所述石英晶體諧振器的頻率。
3.一種如權利要求1或2所述的頻率微調系統的微調方法,其特征在于,包括:
將待微調的石英晶體諧振器固定于微調工裝夾具中;
將所述微調工裝夾具放入激光頻率微調機內,并調節所述微調工裝夾具,使得所述激光頻率微調機產生的電磁波束能夠通過所述石英晶體諧振器的外蓋到達所述石英晶體諧振器的石英晶體片;
啟動所述激光頻率微調機,控制所述激光頻率微調機產生的電磁波束對所述石英晶體諧振器進行微調整,所述微調整包括減少所述石英晶體片的有效厚度,以提高所述石英晶體片的有效頻率。
4.如權利要求3所述的微調方法,其特征在于,所述微調方法還包括:
在控制所述激光頻率微調機對所述石英晶體諧振器進行微調整的過程中,通過頻率檢測儀實時檢測所述石英晶體諧振器的頻率;
若檢測到所述石英晶體諧振器的頻率上升到預置頻率范圍內,則停止控制所述激光頻率微調機對所述石英晶體諧振器進行微調整。
5.如權利要求4所述的微調方法,其特征在于,所述若檢測到所述石英晶體諧振器的頻率上升到預置頻率范圍內之后,還包括:
所述頻率檢測儀發出提示信號,所述提示信號用于提示所述石英晶體諧振器已微調至預置頻率范圍內。
6.如權利要求3所述的微調方法,其特征在于,所述減少所述石英晶體片的有效厚度包括:
通過控制所述電磁波束去除所述石英晶體片上的金屬電極,使得諧振片的有效厚度減少。
7.如權利要求3至6任意一項所述的微調方法,其特征在于,所述電磁波束為激光光束。
8.如權利要求3至6任意一項所述的微調方法,其特征在于,所述將待微調的石英晶體諧振器固定于微調工裝夾具之前,還包括:
獲取所有待微調的諧振器的外殼材料信息;
若所述外殼材料信息為石英晶體,則確定所述諧振器為待微調的石英晶體諧振器。
9.一種如權利要求1或2所述的頻率微調系統的微調裝置,其特征在于,包括:
放置單元,用于將待微調的石英晶體諧振器固定于微調工裝夾具中;
調節單元,用于將所述微調工裝夾具放入激光頻率微調機內,并調節所述微調工裝夾具,使得所述激光頻率微調機產生的電磁波束能夠通過所述石英晶體諧振器的外蓋到達所述石英晶體諧振器的石英晶體片;
微調單元,用于啟動所述激光頻率微調機,控制所述激光頻率微調機產生的電磁波束對所述石英晶體諧振器進行微調整,所述微調整包括減少所述石英晶體片的有效厚度,以提高所述石英晶體片的有效頻率。
10.如權利要求9所述的微調裝置,其特征在于,還包括:
確定單元,用于獲取所有待微調的諧振器的外殼材料信息,若所述外殼材料信息為石英晶體,則確定所述諧振器為待微調的石英晶體諧振器。
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