[發明專利]一種電容測試裝置

在審

• 申請號: 201810733633.1
• 申請日: 2018-07-06
• 公開（公告）號: CN108957144A
• 公開（公告）日: 2018-12-07
• 發明（設計）人: 冉宏宇
• 申請（專利權）人: 安徽貝昂科技有限公司
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 蕪湖思誠知識產權代理有限公司 34138
• 代理人: 房文亮

1.一種電容測試裝置，包括裝置本體(1)，其特征在于：所述裝置本體(1)分為外部的保護外殼與內部的測試面板(2)，在所述測試面板(2)的頂部設置有若干個顯示屏(6)，所述顯示屏(6)的底部依次設置有第三測試模塊(5)、第二測試模塊(4)、第一測試模塊(3)以及放電模塊(8)，上述第三測試模塊(5)、第二測試模塊(4)、第一測試模塊(3)以及放電模塊(8)均由多個獨立的測試模塊(2)構成，且每一個獨立的測試模塊上分設有兩個插孔(7)。

2.根據權利要求1所述的一種電容測試裝置，其特征在于：所述插孔(7)的內部鋪設有一層銅箔片(9)，在所述插孔(7)的底部設置有接觸片。

3.根據權利要求1所述的一種電容測試裝置，其特征在于：在所述放電模塊(8)的接觸片之間設置有導電柱(11)。

4.根據權利要求1所述的一種電容測試裝置，其特征在于：在所述第一測試模塊(3)、第二測試模塊(4)以及第三測試模塊(5)的接觸片之間設置有分流電阻(13)。

5.根據權利要求1所述的一種電容測試裝置，其特征在于：所述第一測試模塊(3)的分流電阻(13)為20KΩ，所述第二測試模塊(4)的分流電阻(13)為2KΩ，所述第三測試模塊(5)的分流電阻(13)為200Ω。