[發明專利]一種X射線曝光指數范圍生成方法和X射線系統有效
| 申請號: | 201810728896.3 | 申請日: | 2018-07-05 |
| 公開(公告)號: | CN109106389B | 公開(公告)日: | 2022-09-02 |
| 發明(設計)人: | 趙明;鐘金英;李訓青;李磊 | 申請(專利權)人: | 深圳康橋軟件技術有限公司 |
| 主分類號: | A61B6/00 | 分類號: | A61B6/00 |
| 代理公司: | 深圳市智勝聯合知識產權代理有限公司 44368 | 代理人: | 王月 |
| 地址: | 518071 廣東省深圳市南山區西*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 射線 曝光 指數 范圍 生成 方法 系統 | ||
1.一種X射線曝光指數范圍的生成方法,其特征在于,所述方法包括如下步驟:
接收被標記的至少第一組訓練數據和第二組訓練數據并輸入機器學習模型訓練得到對應的至少第一分類器和第二分類器;
接收不同曝光條件下采集的多張圖像并輸入所述至少第一分類器和第二分類器以判斷所述多張圖像中的至少部分圖像為對應于第一分類器的第一分類圖像或第二分類器的第二分類圖像;
計算每張第一分類圖像和第二分類圖像的曝光指數值;以及
選擇所述第一分類圖像的曝光指數值的最大值作為曝光指數范圍的下限值,選擇所述第二分類圖像的曝光指數值的最小值作為曝光指數范圍的上限值。
2.如權利要求1所述的方法,其中,所述方法還包括:
接收被標記的第三組訓練數據并輸入所述機器學習模型訓練得到對應的第三分類器;
接收不同曝光條件下采集的多張圖像并輸入所述第三分類器以判斷所述多張圖像中的至少部分圖像為第三分類器的第三分類圖像;
計算每張第三分類圖像的曝光指數值;
選擇所述第一分類圖像的曝光指數值的最大值和所述第三分類圖像的曝光指數值的最小值中較大的值作為曝光指數范圍的下限值;以及
選擇所述第二分類圖像的曝光指數值的最小值和所述第三分類圖像的曝光指數值的最大值中較小的值作為曝光指數范圍的上限值。
3.如權利要求2所述的方法,其中,所述第一組訓練數據、所述第二訓練數據根據或所述第三訓練數據曝光劑量進行標記。
4.如權利要求3所述的方法,其中:
所述第一組訓練數據為曝光劑量不足的曝光圖像,所述第二組訓練數據為曝光劑量過量的曝光圖像;
所述第一分類器圖像為曝光劑量不足的曝光圖像,所述第二分類器圖像為曝光劑量過量的曝光圖像;以及
所述第三組訓練數據為曝光劑量適當的曝光圖像,所述第三分類器圖像為曝光劑量適當的曝光圖像。
5.如權利要求1所述的方法,其中,所述不同曝光條件下采集的多張圖像包括同一規格的平板探測器、大體相同體厚、相同部位在不同曝光條件下生成的曝光圖像。
6.如權利要求1所述的方法,其中,計算每張第一分類圖像和第二分類圖像的曝光指數值的步驟包括:
接收針對目標圖像的部位曝光生成的不同條件下的多張圖像;
計算所述多張圖像的圖像特征灰度值x與曝光劑量y之間的線性曲線y=ax+b;
獲得圖像特征灰度值的上限值xh和下限值xl;
根據所述線性曲線y=ax+b、所述圖像特征灰度值的上限值xh,所述圖像特征灰度值的上限值xl計算曝光劑量的上限值yh和下限值yl;
將目標圖像分割為低密度組織部分和高密度組織部分;
計算低密度組織的特征值F1和高密度組織的特征值F2;
計算特征值F1和F2的加權特征值F;以及
根據a,xh,xl,yh,yl,F計算目標圖像的曝光指數值。
7.如權利要求6所述的方法,其中,計算所述加權特征值F的步驟包括根據目標圖像的部位設定特征值F1的權重值W1和特征值F2的權重值W2,W1+W2=1。
8.一種計算機可讀存儲介質,所述存儲介質上存儲有指令,其特征在于,所述指令被處理器執行時實現權利要求1-7任一項所述的方法的步驟。
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