[發(fā)明專利]一種OTDR性能評估裝置及方法

有效

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• 申請日: 2018-07-04
• 公開（公告）號: CN109004973B
• 公開（公告）日: 2021-09-07
• 發(fā)明（設計）人: 王卓念;張輝;李文興;張國茂;李建征;龍陽
• 申請（專利權(quán)）人: 廣州廣電計量檢測股份有限公司
• 主分類號: H04B10/071
• 分類號: H04B10/071
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 顏希文;宋靜娜

本發(fā)明的OTDR性能評估裝置，包括OTDR和盤裝標準光纖，標準光纖具有光纖連接頭，OTDR和標準光纖通過標準光纖的光纖連接頭相連。本發(fā)明的OTDR性能評估方法，利用OTDR和標準光纖進行光纖損耗特性測試；將OTDR和標準光纖一端的光纖連接頭相連，標準光纖另一端的光纖連接頭與光纖發(fā)射鏡相連，進行光纖長度測試；將OTDR和標準光纖一端的光纖連接頭相連，標準光纖另一端的光纖連接頭與光纖光阱相連，進行動態(tài)范圍、盲區(qū)測試。本發(fā)明的OTDR性能評估裝置及方法能夠?qū)崿F(xiàn)對OTDR的長度、損耗等測試功能以及動態(tài)范圍、盲區(qū)等自身性能進行檢測的功能，在不影響測試精度的前提下使整個裝置更小且更輕便，功能覆蓋面更廣。

技術領域

本發(fā)明屬于光學設備檢測技術領域，具體涉及一種OTDR性能評估裝置，還涉及一種利用該裝置對OTDR性能進行評估的方法。

背景技術

光時域反射儀(Optical Time Domain Reflectometer，簡稱OTDR)是根據(jù)光的后向散射與菲涅爾反射原理制作，利用光在光纖中傳播時產(chǎn)生的后向散射光來獲取衰減的信息，通過對測量曲線的分析，了解光纖的均勻性、缺陷、斷裂、接頭耦合等若干性能的儀器。該儀器通?？捎糜跍y量光纖長度、延長度衰減、接頭損耗、光纖故障點定位等參量，是光纜施工及監(jiān)測中必不可少的工具，在光網(wǎng)絡建設以及維護的過程中發(fā)揮著不可替代的作用。因此，對OTDR的測試、校準和檢定工作就非常重要。

目前國內(nèi)OTDR的測試、校準和檢定主要依據(jù)“JJG 959-2001光時域反射計檢定規(guī)程”，大多數(shù)機構(gòu)采用的標準裝置是由中國計量院制作的光纖長度、損耗標準裝置，該裝置主要由三盤光纖構(gòu)成，兩盤配合2X2耦合器用于提供長度值、一盤用于提供損耗值，測試過程讀數(shù)方便。但是該標準裝置存在體積和重量較大、機械結(jié)構(gòu)不夠穩(wěn)定的缺點；其他機構(gòu)基于其原理，對該標準裝置進行了一些改進，例如減少一盤提供損耗值的光纖盤，這雖然在一定程度上減少了儀器重量，但是實際測試損耗過程中，需要在長度段手動找出一段平穩(wěn)區(qū)間然后人工標記，讀數(shù)較為繁瑣，而且此測試方式的結(jié)果容易受到客戶質(zhì)疑。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種OTDR性能評估裝置，其不但結(jié)構(gòu)簡單小巧，而且可以過得更精確的測試結(jié)果。

本發(fā)明的目的還在于提供一種利用上述裝置對OTDR性能進行評估的方法。

本發(fā)明所采用的一種技術方案是：一種OTDR性能評估裝置，包括OTDR和盤裝標準光纖，所述標準光纖兩端具有光纖連接頭，兩個所述光纖連接頭相同或不同，所述OTDR和標準光纖通過標準光纖一端的光纖連接頭相連。

進一步地，所述標準光纖遠離連接OTDR的另一端的光纖連接頭連接有光纖反射鏡。

具體地，所述光纖反射鏡為Sagnac環(huán)類型或FRM類型。

進一步地，所述標準光纖遠離連接OTDR的另一端的光纖連接頭連接有光纖光阱。

更進一步地，所述光纖光阱為類黑體結(jié)構(gòu)。

具體地，所述光纖光阱為石墨型光纖光阱。

本發(fā)明所采用的另一種技術方案是：一種OTDR性能評估方法，包括步驟：

提供OTDR、兩端具有光纖連接頭的盤式標準光纖、光纖反射鏡以及光纖光阱；

在進行光纖損耗特性測試時，將OTDR和標準光纖一端的光纖連接頭相連，所述OTDR按照設定參數(shù)發(fā)射光脈沖信號，然后根據(jù)OTDR屏幕顯示內(nèi)容獲取光纖損耗特性，并與預知的標準光纖的光纖損耗特性進行比較來評估OTDR的性能；

在進行光纖長度測試時，將OTDR和標準光纖一端的光纖連接頭相連，所述標準光纖另一端的光纖連接頭與光纖發(fā)射鏡相連，所述OTDR按照設定參數(shù)發(fā)射光脈沖信號，然后根據(jù)OTDR屏幕顯示內(nèi)容獲取光纖長度值，并與預知的標準光纖長度進行比較來評估OTDR的性能；