[發(fā)明專利]探頭模塊及點(diǎn)燈測(cè)試系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810718981.1
• 申請(qǐng)日: 2018-07-03
• 公開（公告）號(hào): CN108648672B
• 公開（公告）日: 2021-08-31
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳長(zhǎng)鶴;朱忠發(fā);吳松;葛徐濤
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;合肥京東方顯示技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G09G3/00
• 分類號(hào): G09G3/00
• 代理公司: 北京律智知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11438
• 代理人: 王輝;闞梓瑄

本公開提供一種探頭模塊及點(diǎn)燈測(cè)試系統(tǒng)，涉及面板測(cè)試領(lǐng)域。本公開的探頭模塊包括：多個(gè)探針；多條第一線路，分別與各所述探針對(duì)應(yīng)連接的；多條第二線路，與點(diǎn)燈信號(hào)源連接且與所述第一線路一一對(duì)應(yīng)設(shè)置；電阻測(cè)量單元，用于在和所述多條第一線路連通時(shí)，測(cè)量所述第一線路之間的電阻；控制單元，與所述第一線路、第二線路及電阻測(cè)量單元連接，用于在所述探針連接顯示面板的觸點(diǎn)時(shí)控制所述電阻測(cè)量單元與所述多條第一線路連通，以及在所述第一線路之間的電阻滿足預(yù)設(shè)條件時(shí)控制所述多條第二線路與所述多條第一線路對(duì)應(yīng)連通。本公開可以避免由于短路現(xiàn)象導(dǎo)致的探針或顯示面板線路的損傷。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開涉及面板測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種探頭模塊以及包括該探頭模塊的點(diǎn)燈測(cè)試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

隨著光學(xué)技術(shù)和半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展，以液晶顯示面板、有機(jī)發(fā)光二極管顯示面板為代表的平板顯示器在顯示領(lǐng)域獲得了廣泛的應(yīng)用。

在平板顯示器的制造過程中，通常會(huì)有多道檢測(cè)工序來及時(shí)檢查出工藝中產(chǎn)生的不良。以液晶顯示面板為例，在顯示面板成盒之后需要進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試。在點(diǎn)燈測(cè)試過程中，需要通過點(diǎn)燈測(cè)試系統(tǒng)將每一個(gè)數(shù)據(jù)(Data)信號(hào)和柵極(Gate)信號(hào)單獨(dú)傳輸至顯示面板上每一個(gè)相應(yīng)的觸點(diǎn)(Pad)上。在具體檢測(cè)時(shí)，可以利用點(diǎn)燈測(cè)試系統(tǒng)中探頭模塊(Block)中的探針抵觸在顯示面板上對(duì)應(yīng)的觸點(diǎn)上，從而實(shí)現(xiàn)點(diǎn)燈信號(hào)從導(dǎo)線到顯示面板的傳輸。

然而，由于探頭模塊與顯示面板的內(nèi)部走線較為精密，一旦在點(diǎn)燈測(cè)試過程發(fā)生線路短路，就可能會(huì)造成探頭模塊或顯示面板線路的損傷，降低探頭模塊壽命或造成顯示面板的電學(xué)性不良。

需要說明的是，在上述背景技術(shù)部分公開的信息僅用于加強(qiáng)對(duì)本公開的背景的理解，因此可以包括不構(gòu)成對(duì)本領(lǐng)域普通技術(shù)人員已知的現(xiàn)有技術(shù)的信息。

發(fā)明內(nèi)容

本公開的目的在于提供一種探頭模塊以及包括該探頭模塊的點(diǎn)燈測(cè)試系統(tǒng)，進(jìn)而至少在一定程度上克服由于點(diǎn)燈測(cè)試過程發(fā)生線路短路而導(dǎo)致的器件損傷問題。

根據(jù)本公開的一個(gè)方面，提供一種探頭模塊，包括：

多個(gè)探針；

多條第一線路，分別與各所述探針對(duì)應(yīng)連接的；

多條第二線路，與點(diǎn)燈信號(hào)源連接且與所述第一線路一一對(duì)應(yīng)設(shè)置；

電阻測(cè)量單元，用于在和所述多條第一線路連通時(shí)，測(cè)量所述第一線路之間的電阻；

控制單元，與所述第一線路、第二線路及電阻測(cè)量單元連接，用于在所述探針連接顯示面板的觸點(diǎn)時(shí)控制所述電阻測(cè)量單元與所述多條第一線路連通，以及在所述第一線路之間的電阻滿足預(yù)設(shè)條件時(shí)控制所述多條第二線路與所述多條第一線路對(duì)應(yīng)連通。

在本公開的一種示例性實(shí)施例中，所述電阻測(cè)量單元用于在和所述多條第一線路連通時(shí)，測(cè)量任意相鄰的兩所述第一線路之間的電阻。

在本公開的一種示例性實(shí)施例中，所述預(yù)設(shè)條件為任意相鄰的兩所述第一線路之間的電阻均大于預(yù)設(shè)電阻。

在本公開的一種示例性實(shí)施例中，所述探頭模塊還包括：

開關(guān)器件，包括控制端、第一端、第二端以及第三端；所述開關(guān)器件的控制端與所述控制單元連接，第一端與所述多條第一線路連接，第二端與所述多條第二線路連接，第三端與所述電阻測(cè)量單元連接。

在本公開的一種示例性實(shí)施例中，所述控制單元還與所述點(diǎn)燈信號(hào)源連接，用于在所述探針連接顯示面板的觸點(diǎn)時(shí)，觸發(fā)所述點(diǎn)燈信號(hào)源輸出所述點(diǎn)燈信號(hào)。

在本公開的一種示例性實(shí)施例中，所述探頭模塊還包括：

延時(shí)電路，與所述多條第二線路連接，用于對(duì)所述點(diǎn)燈信號(hào)源輸出的點(diǎn)燈信號(hào)進(jìn)行延時(shí)。