[發明專利]電阻式隨機存取存儲單元的檢測方法

有效

• 申請號: 201810716934.3
• 申請日: 2018-07-03
• 公開（公告）號: CN110675906B
• 公開（公告）日: 2021-10-08
• 發明（設計）人: 林立偉;陳俞安;李冠毅;曾宣寶
• 申請（專利權）人: 華邦電子股份有限公司
• 主分類號: G11C13/00
• 分類號: G11C13/00
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 馬雯雯;臧建明

1.一種電阻式隨機存取存儲單元的檢測方法，其特征在于，包括：

取得電阻式隨機存取存儲單元，并測量所述電阻式隨機存取存儲單元的存儲單元電流；

當所述存儲單元電流的電流數值大于第一門限值時，對所述電阻式隨機存取存儲單元進行多個重置操作及設定操作的至少其中之一者；

判斷所述電阻式隨機存取存儲單元的阻值狀態是否在經歷所述多個重置操作及所述設定操作的至少其中之一者之后相應地切換；

若否，對所述電阻式隨機存取存儲單元進行復原操作以復原所述電阻式隨機存取存儲單元，其中所述復原操作包括特定重置操作，所述對所述電阻式隨機存取存儲單元進行復原操作以復原所述電阻式隨機存取存儲單元的步驟包括：

對所述電阻式隨機存取存儲單元進行所述特定重置操作，其中所述特定重置操作的重置電壓高于所述多個重置操作的重置電壓；以及

若是，判定所述電阻式隨機存取存儲單元處于健康狀態。

2.根據權利要求1所述的電阻式隨機存取存儲單元的檢測方法，其特征在于，在判定所述電阻式隨機存取存儲單元處于所述健康狀態之后，還包括：

依據數據寫入請求而對所述電阻式隨機存取存儲單元進行實際設定操作或實際重置操作。

3.根據權利要求1所述的電阻式隨機存取存儲單元的檢測方法，其特征在于，對所述電阻式隨機存取存儲單元進行所述多個重置操作及所述設定操作的至少其中之一者，并判斷所述電阻式隨機存取存儲單元的所述阻值狀態是否在經歷所述多個重置操作及所述設定操作的至少其中之一者之后相應地切換的步驟包括：

當所述存儲單元電流的所述電流數值介于所述第一門限值及第二門限值之間時，對所述電阻式隨機存取存儲單元進行所述設定操作，并判斷所述存儲單元電流的所述電流數值是否相應地改變為高于第三門限值，其中所述第三門限值大于所述第二門限值，而所述第二門限值大于所述第一門限值；

若否，判定所述電阻式隨機存取存儲單元的所述阻值狀態未相應地切換。

4.根據權利要求3所述的電阻式隨機存取存儲單元的檢測方法，其特征在于，若所述存儲單元電流的所述電流數值在經歷所述設定操作之后已相應地改變為高于所述第三門限值，對所述電阻式隨機存取存儲單元進行所述多個重置操作，并判斷所述存儲單元電流的所述電流數值是否在經歷所述多個重置操作之一后相應地切換為低于所述第一門限值；

若是，判定所述電阻式隨機存取存儲單元的所述阻值狀態已相應地切換；以及

若否，判定所述電阻式隨機存取存儲單元的所述阻值狀態未相應地切換。

5.根據權利要求1所述的電阻式隨機存取存儲單元的檢測方法，其特征在于，對所述電阻式隨機存取存儲單元進行所述多個重置操作及所述設定操作的至少其中之一者，并判斷所述電阻式隨機存取存儲單元的所述阻值狀態是否在經歷所述多個重置操作及所述設定操作的至少其中之一者之后相應地切換的步驟包括：

當所述存儲單元電流的所述電流數值介于第二門限值及第三門限值之間，或是大于第四門限值時，對所述電阻式隨機存取存儲單元進行所述多個重置操作，并判斷所述存儲單元電流的所述電流數值是否在經歷所述多個重置操作之一后相應地切換為低于所述第一門限值，其中所述第四門限值大于所述第三門限值，所述第三門限值大于所述第二門限值，而所述第二門限值大于所述第一門限值；

若是，判定所述電阻式隨機存取存儲單元的所述阻值狀態已相應地切換；以及

若否，判定所述電阻式隨機存取存儲單元的所述阻值狀態未相應地切換。