[發(fā)明專利]一種窄河道儲層的產(chǎn)量遞減分析方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810709856.4 | 申請日: | 2018-07-02 |
| 公開(公告)號: | CN108920824B | 公開(公告)日: | 2020-07-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 羅萬靜;姚彥斌;崔玉東;彭越;盧斌;田青 | 申請(專利權(quán))人: | 中國地質(zhì)大學(xué)(北京) |
| 主分類號: | G06F30/20 | 分類號: | G06F30/20;G06Q50/02 |
| 代理公司: | 北京沁優(yōu)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11684 | 代理人: | 姚艷 |
| 地址: | 100000*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 河道 產(chǎn)量 遞減 分析 方法 | ||
1.一種窄河道儲層的產(chǎn)量遞減分析方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1:針對窄河道儲層具有一條垂直裂縫的直井,根據(jù)儲層情況和裂縫參數(shù)建立物理模型;
步驟2:裂縫模型和地層模型耦合;
步驟3:裂縫模型和地層模型耦合求解,通過將裂縫離散成N個等長均勻流量段,利用疊加原理,求取每個離散段的無量綱壓力,通過裂縫壁面流量和壓力連續(xù)性條件將油藏解析模型與裂縫離散模型進(jìn)行耦合求解;
步驟4:采用直接調(diào)用圓形封閉儲層F函數(shù)計算裂縫導(dǎo)流能力影響函數(shù),建立歸一化裂縫導(dǎo)流能力影響函數(shù),并以此建立獲取有限導(dǎo)流裂縫擬穩(wěn)態(tài)常數(shù)bDpss計算新模型;
所述圓形封閉儲層F函數(shù)用于求取無量綱生產(chǎn)指數(shù)JD,所述圓形封閉儲層F函數(shù)為:
上式中σ(xD,yD)和δ(xD,yD)分別為:
其中reD為無量綱井控半徑,無因次;xD、yD為無量綱坐標(biāo)量,無因次;
無量綱生產(chǎn)指數(shù)JD與所述有限導(dǎo)流裂縫擬穩(wěn)態(tài)常數(shù)bDpss互為倒數(shù)關(guān)系:
pwD-pavgD=bDpss=1/JD
其中,PwD為無量綱井底壓力,無因次;pavgD為無量綱平均地層壓力,無因次;bDpss為有限導(dǎo)流裂縫擬穩(wěn)態(tài)常數(shù),無因次;JD為無量綱生產(chǎn)指數(shù),無因次;
所述歸一化裂縫導(dǎo)流能力影響函數(shù)通過求取的擬穩(wěn)態(tài)常數(shù)bDpss求得,所述歸一化裂縫導(dǎo)流能力影響函數(shù)為:
所述有限導(dǎo)流裂縫擬穩(wěn)態(tài)常數(shù)bDpss計算新模型為:
其中,Ix為穿透比,f0(CfD)和f1(CfD)分別表示穿透比Ix為0和1時的影響函數(shù),bDpss,FC(Ix,CfD)為有限導(dǎo)流能力擬穩(wěn)態(tài)常數(shù)值;bDpss,IC(Ix)為無限導(dǎo)流能力影響的擬穩(wěn)態(tài)常數(shù)值;
步驟5:基于所述有限導(dǎo)流裂縫擬穩(wěn)態(tài)常數(shù)bDpss計算新模型,繪制圓形封閉儲層中垂直裂縫井產(chǎn)量遞減新圖版,結(jié)合實際儲層數(shù)據(jù),將所述圓形封閉儲層中垂直裂縫井產(chǎn)量遞減新圖版應(yīng)用在產(chǎn)量遞減數(shù)據(jù)擬合分析中。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的窄河道儲層的產(chǎn)量遞減分析方法,其特征在于:所述步驟1中,所述物理模型包括裂縫模型和地層模型;所述儲層情況和所述裂縫參數(shù)設(shè)置方法如下:
(1)選取地層均質(zhì)、等厚,上下為不滲透邊界、水平方向具有封閉邊界的圓形儲層;
(2)設(shè)置油井產(chǎn)量完全由裂縫產(chǎn)出,一條有限導(dǎo)流裂縫完全貫穿地層,且忽略裂縫兩端的流體流入的情況;
(3)設(shè)置地層中流體為微可壓縮流體,流體在地層和裂縫中流動時符合達(dá)西定律;井筒中的流體僅由裂縫中流入,不考慮從地層流入的情況;流體由地層流入裂縫時流量均勻分布。
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