[發明專利]一種基于圖像處理的表面擦傷缺陷聯通的算法

有效

• 申請號: 201810709718.6
• 申請日: 2018-07-02
• 公開（公告）號: CN109242819B
• 公開（公告）日: 2022-02-11
• 發明（設計）人: 王柯賽;張洪;蔣梁中;林金燕;黃雄
• 申請（專利權）人: 廣東工業大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/62;G01N21/88
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 林麗明

1.一種基于圖像處理的表面擦傷缺陷聯通的算法，其特征在于，包括以下步驟：

S1.獲取圖像，設定最小缺陷面積閾值δ，使用圖像輪廓查找算法對圖像進行缺陷輪廓識別，并將圖像中面積小于δ的缺陷移除；

S2.初始化參數，對每個缺陷輪廓進行標記，記為contours[i]，i代表當前第i+1的缺陷輪廓；

0＝ik，其中，k為缺陷輪廓的總數，每個缺陷輪廓均由一定數目的點組成；

S3.對每個缺陷輪廓進行和其他缺陷輪廓遍歷比較的操作，計算相鄰2個缺陷輪廓間的最小距離，并且將距離最小時的2個點進行直線連接，使相鄰的2個缺陷輪廓聯通、合并；

S4.輸出經過聯通缺陷的圖像，算法結束；

所述步驟S3采用OpenCV的函數進行遍歷比較，在OpenCV中，contours.size()代表圖像中所有的離散的缺陷輪廓的數量，contours[i].size()代表為第i個輪廓中點集的數目，步驟S3的具體過程包括以下步驟：

S301.判斷i＜contours.size()-1是否成立，如果是，則進入步驟S302，否則進入步驟S4；

S302.判斷p＜contours[i].size()是否成立，如果是，則進入步驟S303，否則進入步驟S307；

S303.判斷q＜contours[i+1].size()是否成立，如果是，則進入步驟S304；否則將p遞增1，進入步驟S302；

S304.計算p點和q點之間的距離dis，將q遞增1；

S305.判斷dis＜minDistance，如果成立，則進入步驟S306，否則進入步驟S303；

S306.將dis的值賦予minDistance，記錄當前p點和q點的位置，進入步驟S303；

S307.在圖像上，將p點和q點之間用直線進行連接，將minDistance設為1000，將i遞增1，進入步驟S301。

2.根據權利要求1所述的基于圖像處理的表面擦傷缺陷聯通的算法，其特征在于，所述步驟S1中，缺陷移除的具體方式為如下：

計算缺陷面積，與所述閾值δ進行比較，若小于δ，則將該區域的灰度值設置為0；若缺陷面積大于δ，則不做處理，保留原本圖像的灰度值。

3.根據權利要求1所述的基于圖像處理的表面擦傷缺陷聯通的算法，其特征在于，所述步驟S2中，初始化參數具體還包括以下步驟：

S201.設定最小距離minDistance，設i＝p＝q＝0。