[發(fā)明專(zhuān)利]電路板缺陷檢測(cè)方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810701246.X | 申請(qǐng)日: | 2018-06-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108961236B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-02-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王健;杜家鳴;李長(zhǎng)升;陳進(jìn)寶 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 國(guó)信優(yōu)易數(shù)據(jù)股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G06T7/00 | 分類(lèi)號(hào): | G06T7/00;G06K9/62;G06N3/08 |
| 代理公司: | 北京超凡志成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 梁香美 |
| 地址: | 100070 北京市豐臺(tái)區(qū)南四環(huán)*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電路板 缺陷 檢測(cè) 方法 裝置 | ||
1.一種電路板缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,包括:
獲取本輪訓(xùn)練使用的至少一個(gè)訓(xùn)練樣本對(duì);其中,所述訓(xùn)練樣本對(duì)包括兩個(gè)相同和/或不同的電路板圖像;
將獲取的至少一個(gè)訓(xùn)練樣本對(duì)中的每個(gè)訓(xùn)練樣本對(duì)輸入具有兩個(gè)分支的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的分支分別對(duì)應(yīng)的入口,并使用所述神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)分別為輸入的訓(xùn)練樣本對(duì)確定第一特征和第二特征;
將所述第一特征和所述第二特征進(jìn)行比對(duì)得到的比對(duì)結(jié)果,與對(duì)應(yīng)訓(xùn)練樣本對(duì)的標(biāo)注值進(jìn)行匹配;其中,所述比對(duì)結(jié)果表征第一特征和第二特征之間的特征相似度,所述標(biāo)注值表征訓(xùn)練樣本對(duì)相似或者不相似;并
根據(jù)匹配結(jié)果對(duì)所述神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行本輪訓(xùn)練;
經(jīng)過(guò)對(duì)所述神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的多輪訓(xùn)練,得到電路板缺陷檢測(cè)模型;
將待檢測(cè)電路板圖像與對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)電路板圖像輸入所述電路板缺陷檢測(cè)模型;
使用所述電路板缺陷檢測(cè)模型分別為所述待檢測(cè)電路板圖像與對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)電路板圖像提取第三特征和第四特征;
將所述第三特征和所述第四特征進(jìn)行比對(duì);
根據(jù)得到的比對(duì)結(jié)果確定所述待檢測(cè)電路板是否存在缺陷。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)包括孿生Siamese網(wǎng)絡(luò);
將獲取的至少一個(gè)訓(xùn)練樣本對(duì)中的每個(gè)訓(xùn)練樣本對(duì)輸入具有兩個(gè)分支的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的分支分別對(duì)應(yīng)的入口,并使用所述神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)分別為輸入的訓(xùn)練樣本對(duì)確定第一特征和第二特征,包括:
將獲取的至少一個(gè)訓(xùn)練樣本對(duì)中的每個(gè)訓(xùn)練樣本對(duì)分別輸入Siamese網(wǎng)絡(luò)的兩個(gè)入口,并使用所述Siamese網(wǎng)絡(luò)分別為輸入的訓(xùn)練樣本對(duì)確定第一特征向量和第二特征向量;
將所述第一特征和所述第二特征進(jìn)行比對(duì)得到的比對(duì)結(jié)果,與對(duì)應(yīng)訓(xùn)練樣本對(duì)的標(biāo)注值進(jìn)行匹配;并根據(jù)匹配結(jié)果對(duì)所述神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行本輪訓(xùn)練,包括:
執(zhí)行如下匹配操作,直到第一特征向量和第二特征向量的比對(duì)結(jié)果與對(duì)應(yīng)訓(xùn)練樣本對(duì)的標(biāo)注值一致,則完成本輪訓(xùn)練;其中,所述標(biāo)注值表征對(duì)應(yīng)訓(xùn)練樣本對(duì)相似或者不相似;
所述匹配操作包括:
將所述第一特征向量和所述第二特征向量進(jìn)行比對(duì),得到比對(duì)結(jié)果;
將所述比對(duì)結(jié)果與對(duì)應(yīng)訓(xùn)練樣本對(duì)的標(biāo)注值進(jìn)行匹配;
針對(duì)標(biāo)注值表征對(duì)應(yīng)訓(xùn)練樣本對(duì)的匹配情況與所述比對(duì)結(jié)果表征的匹配情況不一致的情況,生成第一反饋信息;并
基于所述第一反饋信息對(duì)所述Siamese網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行參數(shù)調(diào)整;
基于調(diào)整后的參數(shù),使用所述Siamese網(wǎng)絡(luò)為對(duì)應(yīng)訓(xùn)練樣本對(duì)確定新的第一特征向量和第二特征向量,并再次執(zhí)行所述匹配操作。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)包括雙通道神經(jīng)網(wǎng)絡(luò);
將獲取的至少一個(gè)訓(xùn)練樣本對(duì)中的每個(gè)訓(xùn)練樣本對(duì)輸入具有兩個(gè)分支的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的分支分別對(duì)應(yīng)的入口,并使用所述神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)分別為輸入的訓(xùn)練樣本對(duì)確定第一特征和第二特征,包括:
將獲取的至少一個(gè)訓(xùn)練樣本對(duì)中的每個(gè)訓(xùn)練樣本對(duì)分別作為源數(shù)據(jù)和目標(biāo)數(shù)據(jù),并分別輸入所述雙通道神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的不同通道;
使用所述雙通道神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)分別為輸入的訓(xùn)練樣本對(duì)確定第一特征和第二特征;
將所述第一特征和所述第二特征進(jìn)行比對(duì)得到的比對(duì)結(jié)果,與對(duì)應(yīng)訓(xùn)練樣本對(duì)的標(biāo)注值進(jìn)行匹配;并根據(jù)匹配結(jié)果對(duì)所述神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行本輪訓(xùn)練,包括:
執(zhí)行如下距離確定操作,直到滿(mǎn)足第一特征與第二特征之間的距離不大于預(yù)設(shè)距離閾值,且對(duì)應(yīng)源數(shù)據(jù)的標(biāo)注值表征對(duì)應(yīng)訓(xùn)練樣本對(duì)相似,或滿(mǎn)足第一特征與第二特征之間的距離大于預(yù)設(shè)距離閾值,且對(duì)應(yīng)源數(shù)據(jù)的標(biāo)注值表征對(duì)應(yīng)訓(xùn)練樣本對(duì)不相似,則完成本輪訓(xùn)練;
所述距離確定操作,包括:
確定所述第一特征和所述第二特征之間的距離;
針對(duì)第一特征與第二特征之間的距離大于預(yù)設(shè)距離閾值,且對(duì)應(yīng)源數(shù)據(jù)的標(biāo)注值表征對(duì)應(yīng)訓(xùn)練樣本對(duì)相似,或針對(duì)第一特征與第二特征之間的距離不大于預(yù)設(shè)距離閾值,且對(duì)應(yīng)源數(shù)據(jù)的標(biāo)注值表征對(duì)應(yīng)訓(xùn)練樣本對(duì)不相似,生成第二反饋信息;并
基于所述第二反饋信息對(duì)所述雙通道神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行參數(shù)調(diào)整;
基于調(diào)整后的參數(shù),使用所述雙通道神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)為對(duì)應(yīng)訓(xùn)練樣本對(duì)確定新的第一特征和第二特征,并再次執(zhí)行所述距離確定操作。
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于國(guó)信優(yōu)易數(shù)據(jù)股份有限公司,未經(jīng)國(guó)信優(yōu)易數(shù)據(jù)股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810701246.X/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫(xiě)分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線(xiàn)程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





