[發(fā)明專利]WDM產(chǎn)品測(cè)試方法、裝置、系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810695343.2
• 申請(qǐng)日: 2018-06-29
• 公開（公告）號(hào): CN108900242B
• 公開（公告）日: 2021-01-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 桂平;李俊靈;龔鵬輝;李振東
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市易飛揚(yáng)通信技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): H04B10/073
• 分類號(hào): H04B10/073
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 吳平

本發(fā)明涉及一種WDM產(chǎn)品時(shí)分復(fù)用測(cè)試方法、裝置、系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)，該方法包括接收多個(gè)測(cè)試終端發(fā)送的產(chǎn)品測(cè)試請(qǐng)求，對(duì)接收的產(chǎn)品測(cè)試請(qǐng)求建立優(yōu)先級(jí)得到測(cè)試請(qǐng)求任務(wù)，根據(jù)測(cè)試請(qǐng)求任務(wù)中優(yōu)先級(jí)最高的產(chǎn)品測(cè)試請(qǐng)求控制測(cè)試設(shè)備對(duì)對(duì)應(yīng)的待測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，得到測(cè)試結(jié)果，對(duì)測(cè)試得到的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行產(chǎn)品規(guī)格判斷，得到判斷結(jié)果并輸出。通過(guò)根據(jù)建立得到的測(cè)試請(qǐng)求任務(wù)中優(yōu)先級(jí)最高的產(chǎn)品測(cè)試請(qǐng)求控制測(cè)試設(shè)備對(duì)對(duì)應(yīng)的待測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，最后對(duì)得到的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行產(chǎn)品規(guī)格判斷，可實(shí)現(xiàn)同一測(cè)試設(shè)備對(duì)多個(gè)測(cè)試終端發(fā)送的產(chǎn)品測(cè)試請(qǐng)求所對(duì)應(yīng)的待測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，從而實(shí)現(xiàn)測(cè)試設(shè)備的時(shí)分復(fù)用，提高了測(cè)試設(shè)備的利用率。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及產(chǎn)品測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種WDM產(chǎn)品時(shí)分復(fù)用測(cè)試方法、裝置、系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

WDM(Wavelength Division Multiplexing)技術(shù)是在一根光纖中同時(shí)傳輸多個(gè)波長(zhǎng)，WDM產(chǎn)品是實(shí)現(xiàn)光波波長(zhǎng)分立與合成的核心無(wú)源光器件，WDM產(chǎn)品被廣泛應(yīng)用于電信運(yùn)營(yíng)商、廣電、電力以及信息安全等領(lǐng)域，具有傳輸信號(hào)獨(dú)立透明，多路信號(hào)合波傳輸，節(jié)省光纖資源，安全可靠的特點(diǎn)，可幫助用戶組建一個(gè)長(zhǎng)距離、無(wú)阻斷、高可靠、安全靈活、抗災(zāi)能力強(qiáng)的光傳輸網(wǎng)絡(luò)。

傳統(tǒng)的WDM產(chǎn)品測(cè)試系統(tǒng)框架中，單個(gè)產(chǎn)品測(cè)試工位需要配置專享的可調(diào)諧光源、光譜分析儀等昂貴的測(cè)試設(shè)備，另外為了使光源接入待測(cè)通道還需要使用光纖切割刀和光纖熔接機(jī)進(jìn)行測(cè)試輔助工作。WDM產(chǎn)品的測(cè)試流程一般包括上料、剝纖、切直、熔接、接線、測(cè)試、下料等幾個(gè)步驟，經(jīng)過(guò)分析發(fā)現(xiàn)真正用于產(chǎn)品測(cè)試的用時(shí)與輔助用時(shí)占比約為1：4，通過(guò)對(duì)測(cè)試流程的分析，發(fā)現(xiàn)昂貴的測(cè)試設(shè)備其實(shí)在大部分時(shí)間處于無(wú)效空等，設(shè)備利用率低下。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要針對(duì)上述問(wèn)題，提供一種可以提高設(shè)備利用率的WDM產(chǎn)品時(shí)分復(fù)用測(cè)試方法、裝置、系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。

一種WDM產(chǎn)品測(cè)試方法，所述方法包括：

接收多個(gè)測(cè)試終端發(fā)送的產(chǎn)品測(cè)試請(qǐng)求，對(duì)接收的產(chǎn)品測(cè)試請(qǐng)求建立優(yōu)先級(jí)得到測(cè)試請(qǐng)求任務(wù)；

根據(jù)測(cè)試請(qǐng)求任務(wù)中優(yōu)先級(jí)最高的產(chǎn)品測(cè)試請(qǐng)求控制測(cè)試設(shè)備對(duì)對(duì)應(yīng)的待測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，得到測(cè)試結(jié)果；

對(duì)測(cè)試得到的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行產(chǎn)品規(guī)格判斷，得到判斷結(jié)果并輸出。

一種WDM產(chǎn)品測(cè)試裝置，所述裝置包括：

接收模塊，用于接收多個(gè)測(cè)試終端發(fā)送的產(chǎn)品測(cè)試請(qǐng)求，對(duì)接收的產(chǎn)品測(cè)試請(qǐng)求建立優(yōu)先級(jí)得到測(cè)試請(qǐng)求任務(wù)；

測(cè)試模塊，用于根據(jù)測(cè)試請(qǐng)求任務(wù)中優(yōu)先級(jí)最高的產(chǎn)品測(cè)試請(qǐng)求控制測(cè)試設(shè)備對(duì)對(duì)應(yīng)的待測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，得到測(cè)試結(jié)果；

判斷模塊，用于對(duì)測(cè)試得到的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行產(chǎn)品規(guī)格判斷，得到判斷結(jié)果并輸出。

一種WDM產(chǎn)品測(cè)試系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括多個(gè)測(cè)試終端、測(cè)試設(shè)備以及控制終端，多個(gè)測(cè)試終端連接控制終端，控制終端連接測(cè)試設(shè)備，

控制終端用于接收多個(gè)測(cè)試終端發(fā)送的產(chǎn)品測(cè)試請(qǐng)求，對(duì)接收的產(chǎn)品測(cè)試請(qǐng)求建立優(yōu)先級(jí)得到測(cè)試請(qǐng)求任務(wù)，根據(jù)測(cè)試請(qǐng)求任務(wù)中優(yōu)先級(jí)最高的產(chǎn)品測(cè)試請(qǐng)求控制測(cè)試設(shè)備對(duì)對(duì)應(yīng)的待測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，得到測(cè)試結(jié)果，對(duì)測(cè)試得到的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行產(chǎn)品規(guī)格判斷，得到判斷結(jié)果并輸出；

多個(gè)測(cè)試終端用于發(fā)送產(chǎn)品測(cè)試請(qǐng)求至控制終端；

測(cè)試設(shè)備用于根據(jù)控制終端的控制對(duì)對(duì)應(yīng)的待測(cè)試產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，并將得到的測(cè)試結(jié)果發(fā)送至控制終端。

一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括處理器和存儲(chǔ)器，所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)，使得處理器執(zhí)行上述方法的步驟。