[發(fā)明專利]一種建筑物損毀狀態(tài)檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810690433.2
• 申請日: 2018-06-28
• 公開（公告）號(hào): CN108961232B
• 公開（公告）日: 2020-08-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 竇愛霞;王曉青;袁小祥;丁玲;王書民;丁香
• 申請（專利權(quán)）人: 中國地震局地震預(yù)測研究所
• 主分類號(hào): G06T7/00
• 分類號(hào): G06T7/00;G06T7/62
• 代理公司: 北京聿華聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11611
• 代理人: 李哲偉;張文娟

1.一種建筑物損毀狀態(tài)檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

步驟一、獲取待分析建筑物的點(diǎn)云數(shù)據(jù)；

步驟二、對(duì)所述點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行橫剖面抽取，得到第一有效剖面的點(diǎn)云數(shù)據(jù)和第二有效剖面的點(diǎn)云數(shù)據(jù)，其中，在判斷某一剖面是否為有效剖面時(shí)，會(huì)判斷該剖面所包含的點(diǎn)云總數(shù)是否大于預(yù)設(shè)點(diǎn)數(shù)閾值，所述第一有效剖面以及所述第二有效剖面為對(duì)待分析建筑物進(jìn)行橫剖面分割所得到的多個(gè)剖面中的兩個(gè)相鄰剖面；

步驟三、將所述第一有效剖面點(diǎn)的云數(shù)據(jù)和第二有效剖面點(diǎn)的云數(shù)據(jù)分別投影到平行于橫剖面的YOZ坐標(biāo)平面中，對(duì)應(yīng)得到第一投影點(diǎn)連線與第二投影點(diǎn)連線；

步驟四、分別確定所述第一投影點(diǎn)連線和第二投影點(diǎn)連線各自所形成的多邊形的緊湊度，對(duì)應(yīng)得到第一緊湊度和第二緊湊度；

步驟五、根據(jù)所述第一緊湊度和第二緊湊度確定所述第一有效剖面與第二有效剖面的剖面相似度，并根據(jù)所述剖面相似度確定所述待分析建筑物的毀損狀態(tài)。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一有效剖面與第二有效剖面為沿建筑物走向按預(yù)設(shè)間隔進(jìn)行橫剖面分割所得到的多個(gè)剖面中的兩個(gè)相鄰剖面。

3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，在所述步驟二中，判斷指定剖面所包含的點(diǎn)云總數(shù)是否大于預(yù)設(shè)點(diǎn)數(shù)閾值，其中，如果大于，則判定所述指定剖面為有效剖面。

4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，根據(jù)點(diǎn)云密度、所述預(yù)設(shè)間隔和建筑物寬度確定所述預(yù)設(shè)點(diǎn)數(shù)閾值。

5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步驟四中，還分別對(duì)所述第一投影點(diǎn)連線和第二投影點(diǎn)連線進(jìn)行簡化，以去除投影點(diǎn)連線中的冗余點(diǎn)。

6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，在所述步驟四中，利用角度限值法、垂距限值法、Douglas-Peuker算法或?yàn)V波壓縮法對(duì)所述第一投影點(diǎn)連線和第二投影點(diǎn)連線進(jìn)行簡化。

7.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟五包括：

步驟a、計(jì)算所述第一緊湊度和第二緊湊度的差值，得到緊湊度差值；

步驟b、從所述第一緊湊度和第二緊湊度中提取較大的數(shù)值，并計(jì)算所述緊湊度差值與所述較大的數(shù)值的商的絕對(duì)值；

步驟c、根據(jù)該絕對(duì)值確定所述所述第一有效剖面與第二有效剖面的剖面相似度。

8.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，在所述步驟五中，根據(jù)如下表達(dá)式確定所述第一有效剖面與第二有效剖面的剖面相似度；

其中，S表示剖面相似度，CP(i)表示第一投影點(diǎn)連線的緊湊度，CP(j)表示第二投影點(diǎn)連線的緊湊度。

9.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步驟四中，分別所述第一投影點(diǎn)連線所形成的多邊形的面積和周長，計(jì)算所述面積與周長的比值，得到所述第一緊湊度。

10.如權(quán)利要求1～9中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，在所述步驟五中，判斷所述剖面相似度是否大于或等于預(yù)設(shè)相似度閾值，其中，如果不大于，則判定所述待分析建筑物存在損毀。