[發(fā)明專利]一種提高太陽能電池EL不良分類效率的分選方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810672032.4 | 申請日: | 2018-06-26 |
| 公開(公告)號: | CN108831851B | 公開(公告)日: | 2021-03-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 姜博;張家峰;侯錕;李磊 | 申請(專利權(quán))人: | 通威太陽能(成都)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 成都弘毅天承知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 51230 | 代理人: | 徐金瓊 |
| 地址: | 610299 四川省成都市雙流*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 提高 太陽能電池 el 不良 分類 效率 分選 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種提高太陽能電池EL不良分類效率的分選方法,涉及太陽能電池EL不良檢測分類領(lǐng)域;其包括如下步驟:步驟1:對硅片各工序進(jìn)行測繪獲得特征庫文件;步驟2:將EL測試圖片預(yù)處理后獲得待測圖片庫文件;步驟3:將待測圖片庫文件與特征庫文件進(jìn)行比較、篩選和計算獲得分類數(shù)據(jù);步驟4:將分類數(shù)據(jù)與已知的產(chǎn)量數(shù)據(jù)進(jìn)行計算獲得分類比例;本發(fā)明解決現(xiàn)有流水線分選因無統(tǒng)一判斷標(biāo)準(zhǔn)、人為誤判等因素導(dǎo)致分選正確率低的問題,達(dá)到了統(tǒng)一判斷標(biāo)準(zhǔn),實現(xiàn)定性、定量分析,提高判斷結(jié)果的準(zhǔn)確性以及效率的效果。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及太陽能電池EL不良檢測分類領(lǐng)域,尤其是一種提高太陽能電池EL不良分類效率的分選方法。
背景技術(shù)
目前,太陽能電池主要是以半導(dǎo)體材料為基礎(chǔ),其工作原理是利用光電材料吸收光能后發(fā)生光電轉(zhuǎn)換反應(yīng),給予一定照度的光照即可輸出電壓,在有回路的情況下產(chǎn)生電流,根據(jù)所用材料的不同,太陽能電池可分為:硅太陽能電池、以無機鹽如砷化鎵III-V化合物、硫化鎘、銅銦硒等多元化合物為材料的電池、功能高分子材料制備的太陽能電池以及納米晶太陽能電池等;太陽能電池的制作已實現(xiàn)流水線操作,流程如:制絨→擴散→SE激光→刻蝕→退火→背鈍化→背鍍膜→正面鍍膜→絲網(wǎng)印刷→分選→FQC→PC入庫;對于整個制作過程中的工序采用分工制度,每個工序在制作過程中每個工作人員判斷的標(biāo)準(zhǔn)沒有統(tǒng)一,工作人員判斷依據(jù)來自經(jīng)驗,工作人員無法掌握工序?qū)?yīng)的所有異常情況,導(dǎo)致同樣一批產(chǎn)品,不同的工作人員判斷同一個工序的異常結(jié)果相差較大,導(dǎo)致硅片分選正確率低且效率低,不利于根據(jù)判斷的硅片不良類型進(jìn)行專項改善;另一方面,新手學(xué)習(xí)完全靠前輩的經(jīng)驗,上手慢,難度大。所以需要一種能提高太陽能電池EL不良分類效率的分選方法。
發(fā)明標(biāo)題
本發(fā)明的目的在于:本發(fā)明提供了一種提高太陽能電池EL不良分類效率的分選方法解決現(xiàn)有流水線分選因無統(tǒng)一判斷標(biāo)準(zhǔn)、人為誤判等因素導(dǎo)致分選正確率低、效率低的問題。
本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下:
一種提高太陽能電池EL不良分類效率的分選方法,包括如下步驟:
步驟1:對硅片各工序進(jìn)行測繪獲得特征庫文件;
步驟2:將EL測試圖片預(yù)處理后獲得待測圖片庫文件;
步驟3:將待測圖片庫文件與特征庫文件進(jìn)行比較、篩選和計算獲得分類數(shù)據(jù);
步驟4:將分類數(shù)據(jù)與已知的產(chǎn)量數(shù)據(jù)進(jìn)行計算獲得分類比例。
優(yōu)選地,所述步驟1包括如下步驟:
步驟1.1:將硅片工藝路徑進(jìn)行核實處理獲得測繪需求;
步驟1.2:根據(jù)測繪需求進(jìn)行實際測繪獲得測繪數(shù)據(jù);
步驟1.3:將測繪數(shù)據(jù)進(jìn)行繪圖處理獲得特征庫圖片;
步驟1.4:將特征庫圖片轉(zhuǎn)換為可作為底圖的高清圖片;
步驟1.5:將高清圖片與EL測試圖片進(jìn)行縮放獲得特征庫文件。
優(yōu)選地,所述步驟2包括如下步驟:
步驟2.1:判斷EL測試圖片的尺寸是否屬于設(shè)定范圍內(nèi),若屬于,則跳至步驟2.2;
若不屬于,則將EL測試圖片縮放至設(shè)定范圍后跳至步驟2.2;
步驟2.2:判斷EL測試圖片的格式是否為設(shè)定格式,若是,則完成預(yù)處理;若不是,則將EL測試圖片格式轉(zhuǎn)換為設(shè)定格式后預(yù)處理獲得待測圖片庫文件。
優(yōu)選地,所述設(shè)定范圍為1024*1024-1608*1536,所述設(shè)定格式包括JPEG格式或JPG格式。
優(yōu)選地,所述步驟3包括如下步驟:
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





