[發明專利]型面平整度的測量儀器

在審

• 申請號: 201810664534.2
• 申請日: 2018-06-25
• 公開（公告）號: CN108801200A
• 公開（公告）日: 2018-11-13
• 發明（設計）人: 姚靜
• 申請（專利權）人: 安徽六啟教育軟件科技有限公司
• 主分類號: G01B21/30
• 分類號: G01B21/30
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種型面平整度的測量儀器，其特征在于，所述測量儀器包括：架體、載體板(8)和多個位移計(9)，所述架體上設置有能夠進行高度調節的平臺板(2)，所述載體板(8)位于所述平臺板(2)的上方并且平行于所述平臺板(2)，所述載體板(8)的一側固接于所述架體上，所述載體板(8)上沿其長度方向設置有條形通孔(10)，多個所述位移計(9)能夠沿所述條形通孔(10)的長度方向滑動地設置于所述條形通孔(10)內，多個所述位移計(9)的測量指針均朝下設置且延伸出所述載體板(8)的底端面。

2.根據權利要求1所述的型面平整度的測量儀器，其特征在于，所述架體包括底座(1)，所述底座(1)上設置有豎桿(3)，所述豎桿(3)面向所述平臺板(2)的一側設置有豎直的條形槽，所述平臺板(2)的側壁上設置有能夠沿所述條形槽的長度方向滑動的滑塊，螺紋桿(4)自所述豎桿(3)的上方豎直貫穿所述條形槽的頂壁以延伸至所述條形槽內并螺旋地貫穿于所述滑塊。

3.根據權利要求2所述的型面平整度的測量儀器，其特征在于，所述條形槽的內底壁設置有軸座，所述軸座上設置有豎直的軸孔，所述軸孔內設置有軸承，所述螺紋桿(4)的底端插接于所述軸承內。

4.根據權利要求2或3所述的型面平整度的測量儀器，其特征在于，所述螺紋桿(4)的頂部設置有把手(5)。

5.根據權利要求4所述的型面平整度的測量儀器，其特征在于，所述載體板(8)通過兩個支撐臂(7)與所述豎桿(3)連接，兩個所述支撐臂(7)以所述豎桿(3)為中心對稱設置。

6.根據權利要求5所述的型面平整度的測量儀器，其特征在于，所述支撐臂(7)的底部與所述豎桿(3)之間固接有加強撐桿(6)。

7.根據權利要求1所述的型面平整度的測量儀器，其特征在于，所述位移計(9)為電子位移計。

8.根據權利要求2所述的型面平整度的測量儀器，其特征在于，所述底座(1)的底部設置有防滑墊。

9.根據權利要求1-3和5-8中的任意一項所述的型面平整度的測量儀器，其特征在于，所述載體板(8)上位于所述條形通孔(10)的邊緣位置設置有長度刻度標。