[發(fā)明專利]一種解決金剛線濕法刻蝕黑硅電池片EL不良的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810660030.3 | 申請日: | 2018-06-25 |
| 公開(公告)號: | CN108963031B | 公開(公告)日: | 2021-01-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 章天瑜;張文鋒;胡玉婷;張文超;范啟澤;張雄偉 | 申請(專利權(quán))人: | 東方日升新能源股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18 |
| 代理公司: | 杭州橙知果專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 33261 | 代理人: | 駱文軍 |
| 地址: | 315600 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 解決 金剛 濕法 刻蝕 電池 el 不良 方法 | ||
1.一種解決金剛線濕法刻蝕黑硅電池片 EL 不良的方法,它包括以下步驟:
1) 制絨:將原硅片通過去除損傷層、銀沉積、挖孔、初步脫銀、擴孔的處理后,以上步驟間都有水漂洗,通過一種化學(xué)混合液處理,所述混合液為氫氧化 鉀、氨水、雙氧水和水組成的堿性混合液,且混合液中的體積比為氫氧化鉀: 氨水:雙氧水:水=1~30:2~9:1~19:180~235,所述的氫氧化鉀的濃度為 40%~48%, 所述的氨水的濃度為 20%~27%,所述的雙氧水的濃度為 22%~30%,并將濕法黑硅制絨硅片減重控制在 0.35~0.45g;
2) 從正常產(chǎn)線流程的擴散工序開始進入到正常產(chǎn)線流程中處理即可,就是依次進行擴散、去PSG、刻蝕、PECVD 鍍膜、絲網(wǎng)印刷和測試;
在步驟1)中處理時,利用清洗機進行水漂洗,所述的清洗機的進料速度控制在205~250s/480片;混合液中氫氧化鉀的補充原則為每過480 片濕法黑硅擴孔后的硅片后補充110~300ml,氨水的補充原則為每過480 片濕法黑硅擴孔后的硅片后補充 90~200ml;雙氧水的補充原則為每過480 片濕法黑硅擴孔后的硅片后補充 150~300ml;溫度控制在室溫即可,浸泡時間為160s;
所述的步驟 2)中擴散處理時,方阻控制在 80~110Ω; 所述的步驟 2)中刻蝕處理時,減重控制在 0.1~0.2g。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種解決金剛線濕法刻蝕黑硅電池片EL不良的方法,其特征在于:所述的混合液中的體積比為氫氧化鉀:氨水:雙氧水:水
=2~23:3~6:1~15:191~229。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種解決金剛線濕法刻蝕黑硅電池片EL不良的方法,其特征在于:所述的混合液中的體積比為氫氧化鉀:氨水:雙氧水:水
=23:5:15:192。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種解決金剛線濕法刻蝕黑硅電池片EL不良的方法,其特征在于:所述的氫氧化鉀的濃度為 42%~46%。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種解決金剛線濕法刻蝕黑硅電池片EL不良的方法,其特征在于:所述的氨水的濃度為 22%~26%。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種解決金剛線濕法刻蝕黑硅電池片EL不良的方法,其特征在于:所述的雙氧水的濃度為 24%~29%。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





