[發明專利]一種批量檢測晶體管密封泄漏的系統

在審

• 申請號: 201810659849.8
• 申請日: 2018-06-25
• 公開（公告）號: CN109029849A
• 公開（公告）日: 2018-12-18
• 發明（設計）人: 達令;項鈺
• 申請（專利權）人: 安慶市晶科電子有限公司
• 主分類號: G01M3/02
• 分類號: G01M3/02
• 代理公司: 合肥市長遠專利代理事務所(普通合伙) 34119
• 代理人: 傅磊

1.一種批量檢測晶體管密封泄漏的系統，其特征在于，包括：箱體(1)、測試底座(2)、三通閥(3)、酒精測試儀(4)和真空泵(5)；

測試底座(2)安裝在箱體(1)內部，測試底座(2)上設有多個用于容納帶測試晶體管的凹槽(2-1)；箱體(1)頂部安裝有與凹槽(2-1)一一對應的伸縮桿(6)，各伸縮桿(6)的底端設有用于密封凹槽(2-1)的蓋板(7)，伸縮桿(6)伸長狀態下，各蓋板(7)抵靠測試底座(2)并密封對應的凹槽(2-1)；伸縮桿(6)收縮狀態下，各蓋板(7)脫離測試底座(2)；箱體(1)外部設有多個與伸縮桿(6)一一對應地驅動機構(8)；

三通閥(3)的輸出端、酒精測試儀(4)的氣體輸入端和真空泵(5)的輸入端均與箱體(1)內部連通，三通閥(3)的第一輸入端和第二輸入端分別用于連接酒精氣體供給裝置和空氣供給裝置。

2.如權利要求1所述的批量檢測晶體管密封泄漏的系統，其特征在于，凹槽(2-1)位于對應的伸縮桿(6)的延伸方向上。

3.如權利要求1所述的批量檢測晶體管密封泄漏的系統，其特征在于，三通閥(3)和真空泵(5)設置在箱體(1)相對的兩側。

4.如權利要求1所述的批量檢測晶體管密封泄漏的系統，其特征在于，箱體(1)內部設有壓強傳感器(9)，箱體(1)外部設有與壓強傳感器(9)連接的顯示器。

5.如權利要求1所述的批量檢測晶體管密封泄漏的系統，其特征在于，每個凹槽(2-1)容納一個或者多個晶體管。

6.如權利要求1所述的批量檢測晶體管密封泄漏的系統，其特征在于，蓋板(7)下表面設有密封墊。

7.如權利要求1至6任一項所述的批量檢測晶體管密封泄漏的系統，其特征在于，箱體(1)由蓋體(1A)和與蓋體(1A)拆卸連接的基底(1B)組成，基底(1B)上設有固定測試底座(2)的卡接結構，三通閥(3)、真空泵(5)和酒精測試儀(4)均與蓋體(1A)連接。