[發(fā)明專利]一種免疫定量分析儀在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810657540.5 | 申請日: | 2018-06-25 |
| 公開(公告)號: | CN108845154A | 公開(公告)日: | 2018-11-20 |
| 發(fā)明(設計)人: | 馬德新;霍威;嚴滿春;劉浩友;王濤;蘇志江 | 申請(專利權)人: | 重慶中元匯吉生物技術有限公司 |
| 主分類號: | G01N35/00 | 分類號: | G01N35/00;G01N35/10 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 400000 重慶市大渡口區(qū)*** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 免疫定量 分析儀 檢測 機架結構 加樣裝置 檢測數(shù)據(jù) 液路系統(tǒng) 移動機構 高通量 試劑卡 體積小 廢卡 | ||
1.一種免疫定量分析儀,其特征在于:主要由以下組件組成:
試劑卡移動機構:能夠按照移動軌跡移動滴加檢測樣本的試劑卡;所述移動軌跡包括依次排列的試劑卡插卡位置,檢測試劑卡位置與踢除試劑卡位置,所述試劑卡移動機構包括用于承載試劑卡的卡座;
加樣裝置:包括加樣針機構以及加樣針機構移動裝置,所述加樣針機構以及加樣針機構移動裝置完成檢測樣本的吸樣、吐樣以及移動;
檢測結構:用于檢測試劑卡上面的信息,包括暗箱機構以及光學機構,所述暗箱機構包括至少兩個相鄰布置的箱體,所述光學機構設置于所述暗箱機構內;
液路系統(tǒng):用于控制免疫定量分析儀中液體的流動以及完成檢測樣本的自動稀釋和液路系統(tǒng)中的管路的自動清洗;
優(yōu)選的,所述免疫定量分析儀還包括廢卡倉機構和機架機構,所述廢卡倉機構用于容納已經完成測試的并且被踢除的試劑卡,所述機架機構用于固定免疫定量分析儀內所有的運動組件;更優(yōu)選的,所述廢卡倉機構位于所述試劑卡移動機構的下方,更為優(yōu)選的,所述廢卡倉機構的容積比所述檢測結構的容積大。
2.如權利要求1所述的免疫定量分析儀,其特征在于:包括所述的試劑卡移動機構還包括安裝架、第一電機、絲杠、滑塊、反射與對射傳感器集成電路板和導向滑桿,所述第一電機和導向滑桿均安裝在安裝架上,所述絲杠的一端和第一電機的動力輸出軸固定連接,所述試劑卡的卡座固定安裝在滑塊上,所述滑塊和絲杠通過螺紋連接,滑塊上設有通孔,反射與對射傳感器集成電路板設置于試劑卡插卡位置的這端;優(yōu)選的,所述通孔的個數(shù)為三個,導向滑桿穿過滑塊通孔,所述導向滑桿設置兩根,絲杠穿過其中的一個通孔;優(yōu)選的,所述絲杠與兩根導向滑桿在豎向面構成三角形;優(yōu)選的,所述安裝架包括底板以及固定安裝在底板上的第一豎板和第二豎板;所述第一電機安裝在第一豎板外側,絲杠的一端穿過第一豎板和電機的動力輸出軸固定連接,絲杠另一端安裝于第二豎板上;所述導向滑桿的兩端分別安裝在第一豎板和第二豎板上,更優(yōu)選的,所述試劑卡的卡座有6個。
3.如權利要求2所述的免疫定量分析儀,其特征在于:所述的試劑卡移動機構還包括踢卡結構,所述踢卡結構設置于所述檢測結構中箱體的后板上,所述的后為試劑卡的卡座插卡口相對的一側,優(yōu)選的,在所述卡座插卡口相對的另一側上設有一開口,通過踢卡結構和卡座開口的配合實現(xiàn)踢卡,更優(yōu)選的,所述踢卡結構為螺釘,所述螺釘有為6個。
4.如權利要求1所述的免疫定量分析儀,其特征在于:所述加樣針機構移動裝置中的上下移動裝置通過同步帶輪裝置與滑塊裝置實現(xiàn)上下移動功能;優(yōu)選的,所述加樣裝置包括清洗拭子,采樣針,位置傳感器,加樣裝置機架,第二電機,兩個同步帶輪,同步帶,滑塊,直線導桿以及直線軸承,優(yōu)選的,直線導桿以及直線軸承分別為2個,兩個同步帶輪分別固定在所述第二電機的輸出軸上以及所述加樣裝置機架的下方,同步帶繞在兩個同步帶輪上,滑塊通過壓片固定在同步帶一側,采樣針一端固定在滑塊上,采樣針另一端穿過清洗拭子,位置傳感器設置于所述加樣裝置機架的靠近第二電機這端,兩根直線導桿分別穿過兩個直線軸承,所述直線軸承設置于加樣裝置機架上。
5.如權利要求1所述的免疫定量分析儀,其特征在于:所述相鄰布置的箱體由N塊隔板將光學暗箱隔離而成,N塊隔板豎向等距地設在光學暗箱內,將光學暗箱隔離成N+1個箱體,隔板四邊均和光學暗箱內側壁貼合;優(yōu)選的,所述隔板設置兩塊,將光學暗箱隔離成三個箱體。
6.如權利要求1所述的免疫定量分析儀,其特征在于:所述光學結構包括光源以及攝像頭,所述攝像頭位于箱體上蓋下表面居中位置;優(yōu)選的,每個箱體下設置一個試劑卡,所述光源位于光學暗箱上蓋下表面并位于試紙卡的卡座的正上方;優(yōu)選的,每個箱體下設置兩個試劑卡,所述光源位于光學暗箱上蓋下表面并位于兩個試紙條卡座連線中部位置的正上方,使兩個試紙條卡座受到的光照一致;更為優(yōu)選的,所述箱體內外表面使用啞光涂層,所述光源為LED燈、鹵素燈或者氙燈。
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