[發明專利]一種非接觸式電容液位檢測方法

有效

• 申請號: 201810653929.2
• 申請日: 2018-06-22
• 公開（公告）號: CN108645481B
• 公開（公告）日: 2021-03-16
• 發明（設計）人: 閆旺;劉明雄;陳權明
• 申請（專利權）人: 華帝股份有限公司
• 主分類號: G01F23/26
• 分類號: G01F23/26
• 代理公司: 廣東凱行律師事務所 44358
• 代理人: 劉小軍;魏永才

1.一種非接觸式電容液位檢測方法，其特征在于，包括并聯連接在一起的參考電容、平板電容、調節電容和CPU模塊，其中所述參考電容一端與所述CPU模塊的TK1端口連接，另一端接地，所述平板電容一端與所述CPU模塊的TK6端口連接，另一端接地，所述調節電容一端與CPU模塊的CMOD端口連接，另一端接地，所述非接觸式電容液位檢測方法包括如下步驟：

將所述參考電容(Cgao)的預設放電次數C1₁、滿水狀態下所述平板電容(Cpin)放電次數C2₁₁以及空水狀態下所述平板電容(Cpin)放電次數C2₂₁的數據預先記錄在所述CPU模塊(U1)內；

通過所述CPU模塊(U1)對所述調節電容(Cadj)進行充電；

通過所述CPU模塊(U1)控制所述調節電容(Cadj)對所述參考電容(Cgao)進行充電；

所述CPU模塊(U1)控制所述參考電容(Cgao)對地短路泄放電荷，并記錄其放電到預設電壓V1時的放電次數C1₂；

通過所述CPU模塊(U1)控制所述調節電容(Cadj)對所述平板電容(Cpin)進行充電；

所述CPU模塊(U1)控制所述平板電容(Cpin)對地短路泄放電荷，并記錄其放電到所述預設電壓V1時的放電次數C2₁₂；

根據使用時獲得的所述參考電容(Cgao)的放電次數C1₂、所述平板電容(Cpin)的放電次數C2₁₂和預先記錄在所述CPU模塊(U1)內的數據通過以下公式來計算當前的液位情況N，其中：

N＝((C2₁₂×C1₁÷C1₂)÷(C2₁₁-C2₂₁))×100％。

2.根據權利要求1所述的一種非接觸式電容液位檢測方法，其特征在于，所述參考電容(Cgao)放電次數的具體測試步驟為：

所述CPU模塊(U1)通過控制其內部電路連接供電電源(J1)和COMD端口對所述調節電容(Cadj)進行充電；

所述CPU模塊(U1)通過控制其內部電路短接CMOD端口和TK1端口的工作使所述調節電容(Cadj)對所述參考電容(Cgao)充滿電；

所述CPU模塊(U1)通過控制CMOD端口的工作使所述調節電容(Cadj)的電壓維持不變,同時所述CPU模塊(U1)通過控制TK1端口的工作使所述參考電容(Cgao)對地短路泄放電荷；

將所述參考電容(Cgao)放電到預設電壓時的放電次數記錄在所述CPU模塊(U1)內。

3.根據權利要求2所述的一種非接觸式電容液位檢測方法，其特征在于，所述平板電容(Cpin)放電次數的具體測試步驟為：

所述CPU模塊(U1)通過控制其內部電路連接所述供電電源(J1)和CMOD端口對所述調節電容(Cadj)進行充電；

所述CPU模塊(U1)通過控制其內部電路短接CMOD端口和TK6端口的工作使所述調節電容(Cadj)對所述平板電容(Cpin)充滿電；

所述CPU模塊(U1)通過控制CMOD端口的工作使所述調節電容(Cadj)的電壓維持不變,同時所述CPU模塊(U1)通過控制TK6端口的工作使所述平板電容(Cpin)對地短路泄放電荷；

將所述平板電容(Cpin)放電到預設電壓時的放電次數記錄在所述CPU模塊(U1)內。

4.根據權利要求1-3任一所述的一種非接觸式電容液位檢測方法，其特征在于，所述調節電容(Cadj)為貼片電容。

5.根據權利要求1-3任一所述的一種非接觸式電容液位檢測方法，其特征在于，所述參考電容(Cgao)為陶瓷電容。