[發明專利]鍵盤檢測方法及其系統在審
| 申請號: | 201810652142.4 | 申請日: | 2018-06-22 |
| 公開(公告)號: | CN110706195A | 公開(公告)日: | 2020-01-17 |
| 發明(設計)人: | 謝泳龍;孟憲明;孫武雄;廖祝湘;張基霖 | 申請(專利權)人: | 技嘉科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/70;G06T7/13;G06T5/00;G06T7/12 |
| 代理公司: | 72003 隆天知識產權代理有限公司 | 代理人: | 黃艷 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 影像 影像處理程序 按鍵位置 按鍵影像 鍵盤檢測 比對程序 標準按鍵 標準鍵盤 中位 鍵盤 清晰 | ||
1.一種鍵盤檢測方法,其特征在于,所述鍵盤檢測方法包括:
獲得一待測鍵盤的一待測影像;
對該待測影像進行一定位影像處理程序,而得到該待測影像中多個待測按鍵位置;
根據所述多個待測按鍵位置,對該待測影像中位在所述多個待測按鍵位置上的多個待測部位進行一清晰化影像處理程序,而得到多個待測按鍵影像;以及
進行一比對程序,以判斷所述多個待測按鍵影像是否符合一標準鍵盤的多個標準按鍵影像。
2.如權利要求1所述的鍵盤檢測方法,其特征在于,該定位影像處理程序包括:
對該待測影像進行影像處理而得到一按鍵輪廓圖,其特征在于,該按鍵輪廓圖包括多個按鍵輪廓,所述多個按鍵輪廓沿著一第一方向排列成多排;
統計所述多個按鍵輪廓在該第一方向上的像素累積量,以界定出所述多個按鍵輪廓在一第二方向上所排列成的位置;以及
辨識各該排的所述多個按鍵輪廓中,各該按鍵輪廓在該第一方向上的位置。
3.如權利要求2所述的鍵盤檢測方法,其特征在于,依據所述多個按鍵輪廓在該第一方向上的像素累積量,判斷出各該排的所述多個按鍵輪廓在該第二方向上的一上邊界與一下邊界,且辨識在各該排的所述多個按鍵輪廓的該上邊界與該下邊界之間的像素量,以判斷出各該排的各該按鍵輪廓的一左邊界與一右邊界。
4.如權利要求1所述的鍵盤檢測方法,其特征在于,該清晰化影像處理程序包括:
對所述多個待測部位進行一灰階化處理;以及
對所述多個待測部位進行一第一自適應二值化處理。
5.如權利要求4所述的鍵盤檢測方法,其特征在于,在該第一自適應二值化處理之后,該清晰化影像處理程序還包括:
對所述多個待測部位進行模糊化處理;以及
對所述多個待測部位進行一第二自適應二值化處理。
6.如權利要求1所述的鍵盤檢測方法,其特征在于,該清晰化影像處理程序還包括:
進行濾波處理,以去除噪聲。
7.如權利要求1所述的鍵盤檢測方法,其特征在于,在該比對程序之前,包括:
輸入該待測鍵盤的一料號,以載入該料號所對應的該標準鍵盤的所述多個標準按鍵影像。
8.如權利要求1所述的鍵盤檢測方法,其特征在于,在該比對程序中,包括:
比對所述多個待測按鍵影像的輪廓圖樣是否符合該標準鍵盤的多個標準按鍵影像的輪廓圖樣。
9.如權利要求8所述的鍵盤檢測方法,其特征在于,在該比對程序中,還包括:
比對所述多個待測按鍵影像的輪廓總長是否符合該標準鍵盤的多個標準按鍵影像的輪廓總長。
10.如權利要求1所述的鍵盤檢測方法,其特征在于,在獲得該待測鍵盤的該待測影像之前,還包括:
配置該待測鍵盤至一定位結構,其特征在于,該定位結構包括沿著一第一方向延伸的一第一定位部及沿著一第二方向延伸的一第二定位部,該待測鍵盤抵靠至該第一定位部與該第二定位部;以及
獲取該待測鍵盤的該待測影像。
11.如權利要求1所述的鍵盤檢測方法,其特征在于,所述鍵盤檢測方法還包括:
提供一影像獲取裝置及電性連接至該影像獲取裝置的一處理器,其中該影像獲取裝置獲取該待測鍵盤的該待測影像,且該處理器進行該定位影像處理程序、該清晰化影像處理程序及該比對程序。
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