[發明專利]一種基于分布參數模型的雙回線故障測距方法及裝置

在審

• 申請號: 201810650022.0
• 申請日: 2018-06-21
• 公開（公告）號: CN108614194A
• 公開（公告）日: 2018-10-02
• 發明（設計）人: 周微平;李澄;邵亮;嚴慧;王濤;李欣哲;張譽齡
• 申請（專利權）人: 國網江蘇省電力有限公司宜興市供電分公司
• 主分類號: G01R31/08
• 分類號: G01R31/08
• 代理公司: 無錫市大為專利商標事務所(普通合伙) 32104
• 代理人: 殷紅梅;陳麗麗

本發明涉及電力系統自動化技術領域，具體公開了一種基于分布參數模型的雙回線故障測距方法，其中，包括：采集故障線路兩側的母線電壓U_M和U_N以及線路保護裝置電流數據I_{I M}、I_{II M}、I_{I N}和I_{II N}；分別計算線路保護裝置電流數據I_{I M}、I_{II M}、I_{I N}和I_{II N}對應的電流故障分量ΔI_{I M}、ΔI_{II M}、ΔI_{I N}和ΔI_{II N}，以及各自對應的正序、負序和零序分量；分別計算故障線路兩側的母線電壓U_M和U_N對應的電壓故障分量ΔU_M和ΔU_N，以及各自對應的正序、負序和零序分量；求解故障距離比d/L所需的故障測距方程通式，并計算得到故障距離比d/L；輸出故障距離比d/L。本發明還公開了一種基于分布參數模型的雙回線故障測距裝置。本發明提供的基于分布參數模型的雙回線故障測距方法能夠實現在線路參數未知的情況下對故障點進行測距。

技術領域

本發明涉及電力系統自動化技術領域，尤其涉及一種基于分布參數模型的雙回線故障測距方法及一種基于分布參數模型的雙回線故障測距裝置。

背景技術

現今，行波測距裝置在應用的過程中會遇到行波色散、信號提取可靠性等問題，以故障分析法為基礎的故障測距原理研究仍然是電力工程界的熱點。已有的雙端故障測距裝置大多采用線路的集中參數模型，僅能適用于百公里以內的短距離線路。對于遠距離的輸電線路，集中參數模型將不再適用，分布電容的影響不可忽略，需要采用線路的分布參數模型才能準確表示。

考慮到具有高經濟性的同桿雙回線已取得廣泛應用，及線路參數易受線路走廊和系統運行方式變化影響，需要在分布參數模型基礎上，研究線路參數未知的同桿雙回線故障測距新方法及裝置。

因此，如何提供基于參數分布模型的同桿雙回線故障測距方法成為本領域技術人員亟待解決的技術問題。

發明內容

本發明旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一，提供一種基于分布參數模型的雙回線故障測距方法及一種基于分布參數模型的雙回線故障測距裝置，以解決現有技術中的問題。

作為本發明的第一個方面，提供一種基于分布參數模型的雙回線故障測距方法，其中，雙回線I和II連接于廠站M和N之間，M與N之間的線路長度距離設定為L，故障點與M側的距離設定為d，所述基于分布參數模型的雙回線故障測距方法包括：

采集故障線路兩側的母線電壓U_M和U_N以及采集線路故障期間雙回線I和II分別在廠站M和N對應的線路保護裝置電流數據I_{I M}、I_{II M}、I_{I N}和I_{II N}；

分別計算線路保護裝置電流數據I_{I M}、I_{II M}、I_{I N}和I_{II N}對應的電流故障分量ΔI_{I M}、ΔI_{II M}、ΔI_{I N}和ΔI_{II N}，以及分別計算線路保護裝置電流數據I_{I M}、I_{II M}、I_{I N}和I_{II N}各自對應的正序、負序和零序分量；

分別計算故障線路兩側的母線電壓U_M和U_N對應的電壓故障分量ΔU_M和ΔU_N，以及分別計算故障線路兩側的母線電壓U_M和U_N各自對應的正序、負序和零序分量；