[發明專利]基于干涉的超薄高分辨率平板成像探測系統在審
| 申請號: | 201810649281.1 | 申請日: | 2018-06-22 |
| 公開(公告)號: | CN108873321A | 公開(公告)日: | 2018-11-23 |
| 發明(設計)人: | 王曉蕊;高偉萍;袁影;馬琳;袁航 | 申請(專利權)人: | 西安電子科技大學 |
| 主分類號: | G02B27/00 | 分類號: | G02B27/00 |
| 代理公司: | 陜西電子工業專利中心 61205 | 代理人: | 王品華;朱紅星 |
| 地址: | 710071 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 透鏡陣列 條狀透鏡 圓形透鏡 輻射 光子集成電路 高分辨率 平板成像 探測系統 系統成像 固定板 輪盤式 鑲嵌 數字信號處理器 成像探測系統 圖像重建模塊 信息采集點 輻射排列 空間偵察 頻率采集 態勢感知 焦平面 小透鏡 圓盤形 質量差 中高頻 干涉 可用 監視 預警 填補 | ||
1.一種基于干涉的超薄高分辨率平板成像探測系統,包括:透鏡陣列,光子集成電路,數字信號處理器和圖像重建模塊,透鏡陣列鑲嵌在固定板上,光子集成電路位于透鏡陣列的焦平面上,透鏡陣列由數條輻射條狀透鏡組成,呈輪盤式分布,其特征在于:在輻射條狀透鏡(1)中間填補有圓形透鏡(2),輻射條狀透鏡(1)在圓形透鏡(2)外輻射排列。
2.如權利要求1所述的系統,其特征在于:輻射條狀透鏡(1)在圓形透鏡(2)外輻射排列,是在每一個輻射條狀透鏡(1)上設有數個小透鏡(3),各小透鏡(3)呈直線陣排列。
3.如權利要求1所述的系統,其特征在于:圓形透鏡(2)的半徑R通過下式計算:
其中,r為小透鏡(3)的半徑,m為填補圓形透鏡(2)后所占據輻射條狀透鏡(1)上的小透鏡(3)數目,m=0,1,2,3,...n,n是輻射條狀透鏡(1)上小透鏡(3)的數目,α是兩個輻射條狀透鏡(1)之間的夾角,大小為2π/p,p是輻射條狀透鏡(1)的數目。
4.如權利要求1所述的系統,其特征在于:每一條輻射條狀透鏡(1)上的小透鏡(3)位置通過下式計算:
其中(xlens(i,j),ylens(i,j))為第j條輻射條狀透鏡(1)對應的第i個小透鏡(3)圓心的位置坐標,R為圓形透鏡(2)的半徑,D為輻射條狀透鏡(1)上相鄰兩個小透鏡(3)之間的間隔,j=1,2,...p,i=m+1,m+2,...n,n是輻射條狀透鏡(1)上的小透鏡(3)數目。
5.如權利要求1所述的系統,其特征在于:光子集成電路包括:波導陣列,陣列波導光柵以及平衡四正交檢波器;遠距離場景輻射光場經透鏡陣列匯聚后,通過對應的波導陣列進行空間維分光,再傳輸給陣列波導光柵進行光譜分光并輸出準單色光,不同基線準單色光通過平衡四正交檢波器相干疊加,得到干涉條紋,數字信號處理器從干涉條紋中提取振幅和相位信息,得到U-V頻譜覆蓋,再通過圖像重建模塊完成圖像重建。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西安電子科技大學,未經西安電子科技大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810649281.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





