[發(fā)明專利]一種適合流水線生產(chǎn)的電力設(shè)備IO插件自動(dòng)測(cè)試方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810648232.6 | 申請(qǐng)日: | 2018-06-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109116133B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-10-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳文瑕;胡鈺林;李延新;許捷;宋艷;毛志成;黃鍵;趙蘭英 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 國(guó)電南瑞科技股份有限公司;國(guó)電南瑞南京控制系統(tǒng)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 南京蘇高專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 張弛 |
| 地址: | 210000 江*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 適合 流水線 生產(chǎn) 電力設(shè)備 io 插件 自動(dòng) 測(cè)試 方法 | ||
1.一種適合流水線生產(chǎn)的電力設(shè)備IO插件自動(dòng)測(cè)試方法,其特征在于:
提供測(cè)試儀,測(cè)試儀包含主控板、背板、端子轉(zhuǎn)換矩陣模塊、背板端子信號(hào)接口轉(zhuǎn)換模塊、針床板;主控板與背板及端子轉(zhuǎn)換矩陣模塊信號(hào)連接,背板端子信號(hào)接口轉(zhuǎn)換模塊與主控板及背板信號(hào)連接,針床板與背板信號(hào)連接;
所述端子轉(zhuǎn)換矩陣模塊與主控板進(jìn)行信息交互,用于IO插件面板端子測(cè)試;端子轉(zhuǎn)換矩陣模塊中設(shè)置為4條公共工作母線,分別是:正電源COM+、負(fù)電源COM-、模斷回路MD-、開(kāi)入BI;正電源COM+作為操作正電源、工作正電源、BO公共端、BI輸入;負(fù)電源COM-作為操作負(fù)電源、遙信公共端、工作負(fù)電源;模斷回路MD-作為跳閘線圈或合閘線圈模擬回路,設(shè)計(jì)多路不同阻值的電阻回路來(lái)模擬跳閘線圈和合閘線圈;開(kāi)入BI于待測(cè)插件開(kāi)出接點(diǎn)測(cè)試;以針床與待測(cè)插件端子連接,通過(guò)切換工作母線,實(shí)現(xiàn)測(cè)試時(shí)自動(dòng)接線;
待測(cè)插件開(kāi)入測(cè)試時(shí)連接負(fù)電源COM-和正電源COM+;測(cè)試插件開(kāi)出測(cè)試時(shí)連接正電源COM+和開(kāi)入BI;
背板端子信號(hào)接口轉(zhuǎn)換模塊,根據(jù)電力設(shè)備IO插件背板端子信號(hào)測(cè)試需要,負(fù)責(zé)接口轉(zhuǎn)換、電平轉(zhuǎn)換、電源供給;
IO插件測(cè)試包括置位開(kāi)出、比對(duì)開(kāi)入兩個(gè)步驟;
將待測(cè)插件開(kāi)出、端子轉(zhuǎn)換矩陣的開(kāi)出以及輔助插件的開(kāi)出統(tǒng)一進(jìn)行編號(hào),在測(cè)試用例中設(shè)置開(kāi)出組,根據(jù)測(cè)試需要配置一個(gè)或多個(gè)開(kāi)出進(jìn)行置位;
開(kāi)出置位分為預(yù)置不收回、置位后收回、直接收回的方式,預(yù)置不收回用于初始化端子矩陣,置位后收回用于開(kāi)入開(kāi)出測(cè)試,直接收回用于預(yù)置開(kāi)出接點(diǎn)收回;
開(kāi)入比對(duì)分為開(kāi)出置位前比對(duì)、開(kāi)出置位時(shí)比對(duì)、開(kāi)出置位收回后比對(duì)和不比對(duì)的方式;通過(guò)這些比對(duì)方式的組合來(lái)滿足常開(kāi)、常閉和自保持不同類型的接點(diǎn)測(cè)試需求。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法,其特征在于:所述開(kāi)入BI使用主\備雙開(kāi)入電壓采樣來(lái)判斷是否開(kāi)入是否正常。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法,其特征在于:由于待測(cè)插件開(kāi)入測(cè)試時(shí)需要電源電壓等級(jí)較多,需要在不同電壓下進(jìn)行測(cè)試,因此使用可控電源。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法,其特征在于:開(kāi)入比對(duì)分為開(kāi)出置位前比對(duì)、開(kāi)出置位時(shí)比對(duì)、開(kāi)出置位收回后比對(duì)和不比對(duì),當(dāng)接點(diǎn)為常開(kāi)接點(diǎn)時(shí),在開(kāi)出置位前開(kāi)入采樣應(yīng)該為0,開(kāi)出置位時(shí)開(kāi)入采樣為1,置位收回后開(kāi)入采樣為0;當(dāng)接點(diǎn)為常閉接點(diǎn)時(shí),在開(kāi)出置位前開(kāi)入采樣應(yīng)該為1,開(kāi)出置位時(shí)開(kāi)入采樣為0,置位收回后開(kāi)入采樣為1;當(dāng)接點(diǎn)為自保持接點(diǎn)時(shí),由測(cè)試系統(tǒng)先進(jìn)行復(fù)歸。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法,其特征在于:還包括與測(cè)試儀連接的數(shù)據(jù)庫(kù)及計(jì)算機(jī)。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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