[發明專利]一種多緩沖通道的壓接彈片

在審

• 申請號: 201810645350.1
• 申請日: 2018-06-21
• 公開（公告）號: CN108695617A
• 公開（公告）日: 2018-10-23
• 發明（設計）人: 劉依玲;浦佳;趙雄;劉伯楊
• 申請（專利權）人: 武漢精測電子集團股份有限公司
• 主分類號: H01R12/77
• 分類號: H01R12/77;H01R13/24
• 代理公司: 武漢開元知識產權代理有限公司 42104
• 代理人: 黃行軍

本發明公開了一種多緩沖通道的壓接彈片，其包括用于連接產品連接器的第一金屬轉接部、用于連接FPC的第二金屬轉接部和用于連接第一金屬轉接部和第二金屬轉接部的金屬彎折部，第一金屬轉接部、第二金屬轉接部和金屬彎折部一體成型，第一金屬轉接部和第二金屬轉接部上均設置有探針頭，其特征在于：金屬彎折部包括并聯布置的外彎折部和內彎折部，外彎折部和內彎折部均由既可以導電又可以彈性變形的材料制成，內彎折部連接于外彎折部內側，外彎折部的曲率與內彎折部的曲率不等。本發明結構簡單、使用方便，其有效地增加了用于導電的金屬彎折部的面積，提高彈片探針的阻抗和導通性。

技術領域

本發明涉及一種壓接彈片，屬于電子屏幕等非標產品測試技術領域，尤其涉及一種多緩沖通道的壓接彈片。

背景技術

在現有技術中，測試治具上的導通裝置大部分采用的是彈簧頂針連接器，彈簧頂針連接器由針軸、彈簧、針管三個基本部件通過精密儀器鉚壓之后形成，由于彈簧頂針連接器的針軸較細且用于安裝針軸的針管孔徑較小，故彈簧頂針連接器存在不易加工、加工精度難以控制等技術問題。為了解決上述技術問題，中國實用新型專利CN206515372U中公開了一種集成電路測試用的扁平探針，其包括上接觸端、彎折段和下接觸端，其中，彎折段設置有提供彈性變形的彈簧部、以及用于導通的繼電部；繼電部上端與上接觸端一體成型，其下端與下接觸端的側邊接觸固定。該發明的使用壽命可以達到常規探針的5倍以上，且導通性能比一般探針更好，但是該發明由于只存在一個彈性彎折段，當探針使用一定的次數后會因為超過探針的彈性屈服率，從而造成探針整體形變、造成接觸不良的現象；其次，發明的彎折段整體的寬度基本與探針頭的寬度相等且只有一根繼電部導電，故其用于導電的繼電部面積小，從而造成探針阻抗大、導通性不好的技術問題；再次，該發明的彎折段包括彈簧部和繼電部兩部分組成，不便于加工制造。

發明內容

本發明的發明是針對上述性能要求，設計一種多緩沖通道的壓接彈片，其不僅結構簡多、加工制造方便，可以提高測試效率和成功率、增加使用壽命，降低成本。

為解決上述技術問題，本發明采用了這樣一種多緩沖通道的壓接彈片，所述壓接彈片為扁平平板結構，其包括用于連接產品連接器的第一金屬轉接部、用于連接FPC的第二金屬轉接部和用于連接第一金屬轉接部和第二金屬轉接部的金屬彎折部，所述第一金屬轉接部、所述第二金屬轉接部和所述金屬彎折部一體成型，所述第一金屬轉接部和所述第二金屬轉接部上均設置有探針頭，其特征在于：所述金屬彎折部包括并聯布置的外彎折部和內彎折部，所述外彎折部和內彎折部均由既可以導電又可以彈性變形的材料制成，所述內彎折部連接于所述外彎折部內側，所述外彎折部的曲率與所述內彎折部的曲率不等。

在本發明的一種優選實施方案中，所述外彎折部由多根平行間隔布置的第一金屬導帶組成。

在本發明的一種優選實施方案中，每根第一金屬導帶的形狀為C形、M形、S形、工形、弓形、多S形中的任意一種。

在本發明的一種優選實施方案中，所述內彎折部由多根平行間隔布置的第二金屬導帶組成。

在本發明的一種優選實施方案中，每根第二金屬導帶形狀為C形、M形、S形、工形、弓形、多S形中的任意一種。

在本發明的一種優選實施方案中，所述第一金屬轉接部和所述第二金屬轉接部與所述金屬彎折部均通過金屬弧狀導帶連接。

在本發明的一種優選實施方案中，所述金屬弧狀導帶為半圓形。

在本發明的一種優選實施方案中，探針頭的寬度/4≤每根金屬導帶的寬度≤探針頭的寬度/3。

在本發明的一種優選實施方案中，所述探針頭的寬度為所述金屬導帶的寬度的3倍。

在本發明的一種優選實施方案中，所述每根金屬導帶的阻抗小于50毫歐；所述每根金屬導帶的過流能力大于3安。