[發(fā)明專利]一種UWB基站天線相位中心偏差建模與改正的研究方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810645306.0 | 申請日: | 2018-06-21 |
| 公開(公告)號: | CN109061559B | 公開(公告)日: | 2022-07-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李博峰;劉天霞;鐘穎 | 申請(專利權(quán))人: | 同濟(jì)大學(xué) |
| 主分類號: | G01S5/02 | 分類號: | G01S5/02 |
| 代理公司: | 上海科律專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 31290 | 代理人: | 葉鳳 |
| 地址: | 200092 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 uwb 基站 天線 相位 中心 偏差 建模 改正 研究 方法 | ||
1.一種UWB基站天線相位中心偏差建模與改正的研究方法,其特征在于,包括:
步驟L1:確定UWB基站天線相位中心偏差校正的基本模型;
步驟L2:查找所用UWB天線對應(yīng)的模型參數(shù),若已有該類型天線對應(yīng)的參數(shù),進(jìn)入步驟L3;
否則,布設(shè)控制點,采集數(shù)據(jù),計算步驟L1所述該類型UWB天線基本模型的模型參數(shù);
步驟L3:計算初步定位結(jié)果,結(jié)合步驟L2天線相位偏差改正模型,改正各基站觀測值中的天線相位偏差誤差;
步驟L4:利用步驟L3經(jīng)天線相位偏差改正后的觀測值,求得最終定位結(jié)果;
步驟L5:判斷L4所得定位結(jié)果是否滿足精度需求,若是,輸出該定位結(jié)果;
若否,將該結(jié)果作為初值迭代執(zhí)行L3,L4直到得到滿足精度要求的定位結(jié)果;
其特征在于,所述步驟L1包括:
認(rèn)為UWB基站天線相位中心的偏差值與待測點和各個基站間的高度角有關(guān);
認(rèn)為UWB基站天線相位中心的偏差值是待測點和各個基站的高度角三角函數(shù)的線性函數(shù);
不同類型的天線對應(yīng)的天線相位中心偏差改正模型的參數(shù)不同;
其特征在于,根據(jù)其分析結(jié)論,設(shè)計實驗,獲取不同高度角上已知標(biāo)簽坐標(biāo)的靜態(tài)觀測數(shù)據(jù),
首先,假設(shè)共有n個基準(zhǔn)基站,UWB定位的基本觀測方程為:
其中,下標(biāo)k表示第k個標(biāo)簽,上標(biāo)i表示第i個基站(i=1,…,n),表示標(biāo)簽k收到的基站i的觀測值;為標(biāo)簽和基站之間的距離,表示基站i的天線相位偏差,dtk為標(biāo)簽的鐘差,δt為同步控制裝置的鐘差,ri為第i個基站到同步控制裝置之間的時延量,為觀測噪聲,c表示光速;
由于(1)中包含了標(biāo)簽的鐘差,無法得到天線相位偏差的誤差值,此時可做基站間差分,設(shè)基準(zhǔn)基站為j,則差分方程為:
其中,差分算子可以看出,通過基站間觀測值做差,標(biāo)簽的鐘差被消掉,基站的鐘差之差可通過時間同步控制求得;此時,將標(biāo)簽坐標(biāo)和基站坐標(biāo)代入(2),即可求得基站天線的相位偏差誤差值;
步驟S13:可選的,結(jié)合(2)式,經(jīng)大量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計分析,可得到UWB基站天線相位中心偏差改正的基本模型:
其中,是兩個UWB基站的天線相位中心偏差之差,α、β分別為兩基站對應(yīng)的高度角,a、b為可選的模型參數(shù),具體數(shù)值可根據(jù)不同天線類型選擇。
2.如權(quán)利要求1所述的一種UWB基站天線相位中心偏差建模與改正的研究方法,其特征在于,所述步驟L2中模型參數(shù)得的計算包括:
在UWB覆蓋環(huán)境中盡可能多的布設(shè)均勻分布的控制點;
在控制點上采集靜態(tài)數(shù)據(jù),計算各個控制點和基站之間的高度角;
最小二乘解算該天線相位中心偏差改正模型參數(shù)。
3.如權(quán)利要求1所述的一種UWB基站天線相位中心偏差建模與改正的研究方法,其特征在于,所述步驟L3包括:
根據(jù)初定位結(jié)果,計算標(biāo)簽與各基站的高度角代入天線相位中心偏差改正模型中,改正各基站觀測值。
4.如權(quán)利要求1所述的一種UWB基站天線相位中心偏差建模與改正的研究方法,其特征在于,所述步驟L4包括:
利用步驟L3中改正后的觀測值,求得經(jīng)天線相位中心偏差改正后的定位結(jié)果。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于同濟(jì)大學(xué),未經(jīng)同濟(jì)大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810645306.0/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





