[發明專利]一種穩定的化合物半導體太陽光分解水產氫電子器件、電極系統及其制備方法有效
| 申請號: | 201810643732.0 | 申請日: | 2018-06-21 |
| 公開(公告)號: | CN108922927B | 公開(公告)日: | 2020-07-14 |
| 發明(設計)人: | 江豐;王康;黃定旺;喻樂 | 申請(專利權)人: | 華南師范大學 |
| 主分類號: | H01L31/0216 | 分類號: | H01L31/0216;H01L31/032;H01L31/0392;H01L31/18 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 穩定 化合物 半導體 太陽光 分解 水產 電子器件 電極 系統 及其 制備 方法 | ||
1.一種穩定的化合物半導體太陽光分解水產氫電子器件,其特征在于,所述太陽光分解水產氫電子器件包括依次層疊的襯底、背電極、CZTS吸收層、緩沖層、寬帶隙半導體保護層以及納米金屬顆粒層,其中,所述緩沖層為CdS緩沖層,所述寬帶隙半導體保護層為ZnS層、HfO2層或HfO2/ZnS復合層,所述ZnS層采用化學水浴法制備獲得:配制包含C6H5O7Na3、ZnSO4·7H2O、CS(NH2)2的水溶液,其濃度分別為25mmol/L、4mmol/L、20mol/L,加熱其水溶液至50~80℃,將已經沉積了CdS/CZTS薄膜的襯底放入其水溶液30-90min即可。
2.根據權利要求1的所述穩定的化合物半導體太陽光分解水產氫電子器件,其特征在于,所述緩沖層的厚度為30-150nm。
3.根據權利要求1的所述穩定的化合物半導體太陽光分解水產氫電子器件,其特征在于,所述寬帶隙半導體保護層的厚度為0.01-100微米。
4.根據權利要求1的所述穩定的化合物半導體太陽光分解水產氫電子器件,其特征在于,所述襯底為鈉鈣玻璃襯底,所述背電極為Mo、FTO、ITO或AZO。
5.根據權利要求1的所述穩定的化合物半導體太陽光分解水產氫電子器件,其特征在于,所述納米金屬顆粒層的材料為Pt或Au。
6.一種電極系統,其特征在于,所述電極系統采用權利要求1至5之一的所述穩定的化合物半導體太陽光分解水產氫電子器件作為工作電極,所述電極系統還包括Ag/AgCl參比電極、Pt對電極。
7.一種穩定的化合物半導體太陽光分解水產氫電子器件的制備方法,其特征在于,所述制備方法包括以下步驟:
在襯底上沉積背電極層;
在所述背電極層上制備CZTS吸收層;
在所述CZTS吸收層上沉積CdS緩沖層;
在所述CdS緩沖層上制備寬帶隙半導體保護層;
在所述寬帶隙半導體保護層上沉積納米金屬顆粒層;
其中,所述寬帶隙半導體保護層為ZnS層、HfO2層或HfO2/ZnS復合層,采用化學水浴法制備所述ZnS層:配制包含C6H5O7Na3、ZnSO4·7H2O、CS(NH2)2的水溶液,其濃度分別為25mmol/L、4mmol/L、20mol/L,加熱其水溶液至50~80℃,將已經沉積了CdS/CZTS薄膜的襯底放入其水溶液30-90min即可。
8.根據權利要求7的所述穩定的化合物半導體太陽光分解水產氫電子器件的制備方法,其特征在于,所述CZTS吸收層采用噴霧熱解隨后硫化退火的方法制備獲得,其具體包括,配置包含Cu(NO3)2、[Zn(NO3)2]、Sn(CH3SO3)2的水溶液,其濃度分別為5-20mmol/L、2-10mmol/L、16-35mmol/L,調節其水溶液的PH為1-6,隨后采用噴霧法將所述水溶液噴至已加熱的背電極層上,最后在真空條件下以300-700℃硫化5分鐘~2小時。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





