[發(fā)明專利]一種測試NVDIMM斷電保護功能的方法及裝置

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• 申請?zhí)枺?/td>: 201810637042.4
• 申請日: 2018-06-20
• 公開（公告）號: CN108845903A
• 公開（公告）日: 2018-11-20
• 發(fā)明（設計）人: 曹加峰
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 濟南誠智商標專利事務所有限公司 37105
• 代理人: 黃曉燕

本發(fā)明實施例公開了一種測試NVDIMM斷電保護功能的方法及裝置，方法包括對NVDIMM建立分區(qū)，并將分區(qū)掛載到測試文件夾下；將測試文件拷貝至測試文件夾，在拷貝過程中斷掉服務器電源；間隔設定時間后為服務器上電，比較測試文件拷貝前后的MD5值，判斷NVDIMM的斷電保護功能。本發(fā)明通過對測試文件拷貝前后MD5值的對比，判斷NVDIMM數(shù)據保護功能的正常與否，操作簡單，且能夠快速獲知NVDIMM的數(shù)據保護功能，提高測試效率。

技術領域

本發(fā)明涉及NVDIMM((Dual-Inline-Memory-Modules，雙列直插式存儲模塊，是指奔騰CPU推出后出現(xiàn)的新型內存條)測試技術領域,具體地說是一種測試NVDIMM斷電保護功能的方法及裝置。

背景技術

普通的內存條由DRAM(Dynamic Random Access Memory)，即動態(tài)隨機存取存儲器，最為常見的系統(tǒng)內存)顆粒組成，當異常掉電時DRAM顆粒中的數(shù)據就會丟失。而NVDIMM在普通內存條DRAM顆粒的基礎上，加入了flash顆粒和電容模塊，當發(fā)生異常掉電時，電容給內存條供電，使DRAM中的數(shù)據轉移到flash顆粒中；當系統(tǒng)再次上電開機時，再將flash顆粒中的數(shù)據轉移回到DRAM中，由此實現(xiàn)內存的數(shù)據掉電不丟失。

計算機在日常使用中遇到異常斷電是不可避免的事情，普通內存條在異常斷電時并不能保存系統(tǒng)的計算結果和服務信息皆臨時數(shù)據，甚至異常斷電能引起系統(tǒng)的崩潰。與普通內存相比NVDIMM可以解決系統(tǒng)異常掉電情況下，內存數(shù)據的保存工作，并且能夠在系統(tǒng)恢復正常運行后，繼續(xù)之前的工作，所以NVDIMM的可靠性顯得尤為重要。

目前存在一些手動測試的方法，但是手動測試效率低，嚴重影響NVDIMM的研發(fā)和生產進度。

發(fā)明內容

本發(fā)明實施例中提供了一種測試NVDIMM斷電保護功能的方法及裝置，以解決現(xiàn)有技術中NVDIMM測試效率低，限制NVDIMM研發(fā)和生產進度的問題。

為了解決上述技術問題，本發(fā)明實施例公開了如下技術方案：

本發(fā)明第一方面提供了一種測試NVDIMM斷電保護功能的方法，包括以下步驟，

對NVDIMM建立分區(qū)，并將分區(qū)掛載到測試文件夾下；

將測試文件拷貝至測試文件夾，在拷貝過程中斷掉服務器電源；

間隔設定時間后為服務器上電，比較測試文件拷貝前后的MD5(message-digestalgorithm 5，信息-摘要算法)值，判斷NVDIMM的斷電保護功能。

結合第一方面，在第一方面第一種可能的實現(xiàn)方式中，所述方法還包括獲取測試文件的MD5值。

結合第一方面，在第一方面第二種可能的實現(xiàn)方式中，所述對NVDIMM建立分區(qū)的具體過程為：

進入分區(qū)模式，設置文件系統(tǒng)的類型為ext4；

分別設置起始位置和終止位置，得到新分區(qū)。

結合第一方面，在第一方面第二種可能的實現(xiàn)方式中，在拷貝過程中斷掉服務器電源的具體過程為：持續(xù)監(jiān)測拷貝測試文件的信號；獲取到監(jiān)測信號后，執(zhí)行斷電命令；利用疲勞機切斷服務器電源。

結合第一方面，在第一方面第二種可能的實現(xiàn)方式中，所述設定時間大于測試文件拷貝過程中，NVDIMM指示燈閃爍的時間。

本發(fā)明第二方面提供了一種測試NVDIMM斷電保護功能的裝置，所述裝置包括

分區(qū)模塊，用于對NVDIMM建立分區(qū)，并將分區(qū)掛載到測試文件夾下；

文件處理模塊，用于將測試文件拷貝至測試文件夾，并在拷貝過程中切斷服務器電源；