[發明專利]一種快速篩查標的物的方法

有效

• 申請號: 201810631733.3
• 申請日: 2018-06-19
• 公開（公告）號: CN108663437B
• 公開（公告）日: 2020-11-27
• 發明（設計）人: 張華俊;呂云波;蔡俊強;郭泰
• 申請（專利權）人: 蘇州芷寧信息科技有限公司;張華俊
• 主分類號: G01N30/00
• 分類號: G01N30/00
• 代理公司: 南京利豐知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 32256
• 代理人: 王鋒

本發明公開了一種快速篩查標的物的方法，包括：將混合物分離后使用質譜技術進行檢測，得到混合物的全掃描譜圖；之后選取所需檢測的標的物的特征離子，并檢測到所述特征離子的離子峰于全掃描譜圖內所在的區間；然后利用熵最小算法對這些區間進行計算，并得到標的物的重建純譜與其對應的偽濃度；最后將所述重建純譜與數據庫進行比對，或自行分析鑒定，以確定標的物存在與否。較之現有技術，本發明實施例的方法既可以快速的確定標的物可能存在的區域，又可以通過熵最小算法而得到它們的完整純譜，結果更加精準，同時效率更高，檢測限更低。

技術領域

本發明涉及一種物質的檢測分析方法，特別是一種快速篩查標的物的方法，屬于儀器分析技術領域。

背景技術

快速篩查標的物來確定混合物中標的物的存在以及含量，有非常廣泛的應用，例如農殘檢測，食品安全檢測等。

一般可以使用質譜儀來進行標的物的快速篩查。特別的，質譜儀可以和某種分離方式結合來更方便的檢測標的物，例如，氣相色譜質譜儀(GC-MS)或液相色譜質譜儀(LC-MS)。一般的檢測方法，即標的物篩查，是通過使用目標物的標樣或通過SIM(選擇性離子檢測)或MRM(多反應檢測掃描)模式來進行篩查。SIM具體方式是，僅檢測目標標的物的特征離子，其他離子不被記錄。這樣每秒鐘可以進行更多次掃描，基質干擾變低，可以提高分析靈敏度。MRM的具體方式是，某一化合物的母離子選擇一個離子，碰撞后的子離子也選擇一個離子，同時做多個化合物。因為兩次都只選單粒子，所以噪音和干擾排除得更多。

然而，SIM和MRM模式，一般作為定量檢測。因為所檢測到的物質不是全譜，除非確定保留時間，一般不能準確對物質進行定性，存在一定的不確定性。因此，常規的方法是需要買到標樣確定標的物的保留時間，然后再使用SIM或者MRM模式來進行標的物的檢測。但是，這種方法比較費時費力且不精準。首先，需要確定所有標的物的保留時間才可以進行定性。其次，在不同的分析中，物質的保留時間可能會有所偏移。如果出現保留時間偏移，則更加對于標的物的檢測帶來困難。另外，有些非標的物和標的物也可能在同一保留時間產生同樣的離子碎片，進而干擾檢測，同時造成檢測濃度失真。同時，由于SIM模式的設定，每次分析，由于只能設定幾個離子峰，所以只能同時對同類的標的物進行分析，無法對結構和基團有差別的不同化合物同時分析。因此，僅僅靠SIM或者MRM的模式來篩查標的物，費時費力，而且不夠精準。

一種更精確的確認標的物的方法是用全掃描模式來進行標的物的檢測。通過全掃描模式得到待檢測物質的全譜，之后通過與數據庫比對來精確篩查標的物。理論上，全掃描模式可以分析各種不同的標的物，不需要在不同的分析設定中，對不同類別的標的物進行分別分析，不需要像SIM模式中，同一個樣品對不同的標的物做幾次分析。然而，對于復雜混合物的全掃描分析，由于其中可含有上百種物質，GC-MS和LC-MS的分析譜圖會有共流出峰，也會有痕量成分的微小峰。標的物也會有極大可能與基質和其他成分混合出峰，這種情況下很難得到可能的標的物的純譜，從而確認標的物是否存在。SIM模式廣泛應用于現在的標的物篩查和分析中，就是因為現階段沒有一個好的方法，能將標的物從混合物基質和共流出物中分離出標的物的純譜。同時，現有的各種化學計量法方法，例如軟件AMDIS和MassHunter對全掃描譜的檢測限非常高，無法適用于痕量和極痕量成分的分析，而且它們也無法得到干凈的標的物的純譜，所以限制了利用全掃描方法的應用。

發明內容

本發明的目的在于提供一種快速篩查標的物的方法，以克服現有技術的不足。

為實現前述發明目的，本發明采用的技術方案包括：

本發明實施例提供了一種快速篩查標的物的方法，其包括如下步驟：

(1)將混合物分離，并使用質譜法進行檢測，得到所述混合物的全掃描譜圖；

(2)選取所需檢測的標的物的一個以上特征離子，并檢測到所述特征離子的離子峰于所述全掃描譜圖內所在的區間；